Монохроматоры-спектрографы серии MonoRa320i

  • С 3-мя дифракционными решетками
  • Оптимизированная оптическая схема Черни-Тернера с компенсацией астигматизма
  • Фокусное расстояние 320 мм
  • Относительное отверстие f/4.2
  • Моторизированная турель
  • Точность установки длины волны ± 0.2 мм при воспроизводимости ± 0.04 нм

Производитель DXG

Описание

Системы серии MonoRa320i представляют собой монохроматоры и изображающие спектрографы с тремя дифракционными решетками и парой асферических зеркал с фокусным расстоянием 320 мм. Данная серия позволяет получить спектральное разрешение в 0.1 нм при использовании дифракционной решетки 1200 штр/мм, а также имеет возможность легкой интеграции в автоматизированные спектральные системы за счет стандартного ПО Monoworks. Данные монохроматоры являются отличным оптическим инструментом для рамановской, фотолюминесцентной, эмиссионной и лазерной флуоресцентной спектроскопии. Также доступна модификация Double MonoRa320i с удвоением дисперсии (кастомизация).

Отличительные особенности

  • Фокусное расстояние 320 мм
  • Относительное отверстие f/4.2
  • Спектральное разрешение 0.1 нм
  • Точность установки длины волны ± 0.2 мм при воспроизводимости ± 0.04 нм
  • Моторизированная трехпозиционная турель
  • Уровень рассеянного света: 1.0 × 10-5
  • Интерфейс подключения USB/RS232

Области применения

  • Оптическая спектроскопия
  • Фотолюминесценция
  • Флуоресценция
  • Рамановская спектроскопия
  • Фосфоресценция
  • Колориметрия
  • Спектрорадиометрия
  • Фотометрия
  • Анализ лазерного излучения
  • Изучение рассеяния света

Доступные конфигурации

Модель Конфигурация
MonoRa321i Один боковой вход и один боковой выход
MonoRa322i Один боковой вход и одним прямой выход для ПЗС детектора
MonoRa323i Один боковой вход и два выхода
MonoRa324i Один боковой вход, один боковой выход и один прямой выход для ПЗС детектора

оптическая схема монохроматора MonoRa320i

Рис. 1. Упрощенная оптическая схема монохроматора серии MonoRa320i

Технические характеристики

Фокусное расстояние 320 мм
Относительное отверстие f/4.2
Оптическая схема Черни-Тернера (с компьютерной оптимизацией аберраций)
Конфигурация
оптического пути
90° или 180° / 1 вход и 1 выход
90° или 180° / 1 вход и 2 выхода
Диапазон сканирования Механический диапазон 0 – 1600 нм (для решетки 1200 штр/мм)
Спектральный рабочий диапазон От 190 нм до ближней ИК области спектра (при выборе соответствующей дифракционной решетки и детектора)
Спектральное разрешение 0.1 нм для решетки 1200 штр/мм при ширине щели 10 мкм
Обратная дисперсия 2.4 нм/мм
Точность установки длины волны ± 0.2 нм
Воспроизводимость установки длины волны ± 0.04 нм
Шаг сканирования 0.0025 нм с шаговым двигателем
Размер фокальной плоскости 26 (Ш) × 10 (В) мм
Полоса регистрации детектора 64 нм для решетки 1200 штр/мм
Стандартная спектральная щель Ширина: 0 – 5 мм; регулируется с шагом 10 мкм
Высота: 4 мм (по умолчанию), возможен выбор до 15 мм
Моторизированная щель: опционально
Крепление дифракционной решетки Трехпозиционная турель
Размер дифракционной решетки 68 × 68 мм
Доступные детекторы УФ, видимый диапазон: PDS-01 (ФЭУ), OPA 1024 (фотодиодная матрица), кремниевый детектор, ПЗС-камеры iDus от Andor;
ИК диапазон: InGaAs, PBS, PBSE, MCT, ИК ПЗС-камеры iDus от Andor
Программное обеспечение Monoscan, Monoworks, Maple
Совместимые измерительные камеры Maple – для проведения фотолюминесцентных измерений
Ramboss – для проведения измерений комбинационного рассеяния

Дифракционные решетки

Модель Плотность штрихов, штр/мм Длина волны в угле блеска, нм Рабочий диапазон длин волн, нм
3-150-300 150 300 200 – 500
3-150-500 500 330 – 900
3-150-1100 1100 800 – 1800
3-150-1250 1250 900 – 2000
3-150-2000 2000 1300 – 3000
3-150-3000 3000 2000 – 4000
3-150-4000 4000 3000 – 5000
3-150-5000 5000 4000 – 6000
3-300-300 300 300 200 – 500
3-300-500 500 330 – 900
3-300-750 750 500 – 1400
3-300-1000 1000 700 – 1800
3-300-2000 2000 1300 – 3000
3-300-3000 3000 2000 – 4000
3-300-4000 4000 3000 – 5000
3-600-300 600 300 200 – 500
3-600-500 500 330 – 900
3-600-700 750 500 – 1400
3-600-1000 1000 700 – 1800
3-600-1250 1250 900 – 2000
3-600-1600 1600 1000 – 2400
3-1200-250 1200 250 190 – 450
3-1200-250H 250 (голограф.) 190 – 900
3-1200-300 300 200 – 500
3-1200-450H 450 (голограф.) 300 – 1000
3-1200-500 500 330 – 900
3-1200-750 750 500 – 1400
3-1800-250 1800 250 190 – 450
3-1800-250H 250 (голограф.) 190 – 800
3-1800-350H 350 (голограф.) 300 – 850
3-1800-500 500 330 – 900
3-1800-500H 500 (голограф.) 300 – 950
3-2400-250H 2400 250 (голограф.) 200 – 900
3-2400-300 300 200 – 500
3-3600-250 3600 250 190 – 450
3-3600-300H 300 (голограф.) 240 – 500

*Другие дифракционные решетки доступны по запросу.

Ламповые источники излучения

Ксеноновые дуговые лампы

Вольфрамовые галогенные лампы

Дейтериевые лампы

Ртутные лампы

Лазерные источники излучения

Системы регистрации

ПЗС камеры

ФЭУ

Фотодетекторы

Аналого-цифровой преобразователь

Оптомеханика

  1. 1. Time Resolved Photoluminescence Study on Silicon Nitride/Silicon-Rich-Oxide Superlattices Grown by Using Ion-Beam Sputtering Deposition
    Dong-A University
  2. 2. Combined micro-Raman/UV-visible/fluorescence spectrometer for high-throughput analysis of microsamples
    Korea Advanced Institute of Science and Technology
  3. 3. Graphene Quantum Dot Layers with Energy-Down-Shift Effect on Crystalline-Silicon Solar Cells
    Solar Energy Research Center of Korea University
  4. 4. Thermal stress induced band gap variation of ZnO thin films
    The growth temperature and post annealing-dependent optical and structural effect of RF magnetron sputtered ZnO thin films
    Pusan National University
  5. 5. The influence of Pr3+ co-doping on the photoluminescence and cathodoluminescence properties of SiO2:Eu3+/Tb3+
    University of South Africa
  6. 6. Photocatalytic oxidation of Gaseous Isopropanol using visible-light active silver vanadates SBA-15/ composite
    Kun shan University Taiwan