ООО "Промэнерголаб" активно учавствует в различных выставках,
продвигая продукцию различных производителей лабораторного оборудования
на российский рынок.
-
Компания <Промэнерголаб> принимала участие в базовой выставке аналитической отрасли "AnalyticaExpo-2006", которая проходила Культурно-выставочном центре <Сокольники> 14-17 марта 2006 г.
На выставке был представлен полный спектр продукции СП <СОЛАР ТИИ> в том числе новейшие разработки - Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500
(работающий прибор был представлен на выставке), 3D сканирующий конфокальный микроскоп
со спектрометром "Nanofinder S" и спектрофотометры МС 121 и МС 122.
Ссылка на новость
-
Участие в международной выставке нано-технологий и материалов NTMEX-2005,
которая проходила 5 - 7 декабря 2005 года в здании Правительства Москвы, Универсальный выставочный зал.
Компания представляла следующее оборудование:
- Нанофайндер - 3D сканирующий конфокальный микроскоп со спектрометром
- Лазерный анализатор элементного состава модель LEA-S500
- Порометр - оборудование для исследования пористой структуры вещества с наноточностью
Nanofinder S был награжден почетным дипломом как лучший 3D сканирующий конфокальный микроскоп со спектрометром.
Ссылка на новость
-
Компания <Промэнерголаб> принимала участие в 3-ей международной специализированной выставке "ЛАБОРАТОРИЯ-2005", которая проходила 18-21 октября 2005 г. в г. Москва, ВВЦ.
На выставке был представлен полный спектр
продукции СП <СОЛАР ТИИ> в том числе новейшие разработки - Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500
(работающий прибор был представлен на выставке), 3D сканирующий конфокальный микроскоп
со спектрометром "Nanofinder S" и спектрофотометры МС 121 и МС 122.
Ссылка на новость
-
Компания «Промэнерголаб» принимала участие в XVII Уральской конференции по
спектроскопии, которая проходила 12-15 сентября 2005 г.в санатории “Зеленый Мыс” (г. Новоуральск, Свердловская обл.).
На конференции был представлен полный спектр
продукции СП «СОЛАР ТИИ» в том числе новейшие разработки - Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500 и 3D сканирующий конфокальный микроскоп
со спектрометром "Nanofinder S".
Ссылка на новость
|
