Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: Раздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: ВикторРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Блог — Спектроскопия
Источником суперконтинуума (СК) обычно является импульсный лазер (в наносекундном, пикосекундном или фемтосекундном режиме), излучение которого преобразуется в оптический сигнал с очень широким спектром. По сравнению со стандартными освещающими широкополосными источниками света, такими как лампа, светодиод или даже солнце – лазерные источники суперконтинуума обладают одним из самых больших преимуществ: их излучение является направленными и, в некоторых случаях, когерентными.
Читать далееПомимо того, что полупроводник является источником ТГц импульсов для систем спектроскопии во временной области, ТГц-генерация на поверхностях полупроводников также может быть ценным инструментом для исследования различных характеристик самого полупроводника.
Читать далееВремя жизни неосновных носителей заряда является одним из ключевых параметров качества полупроводникового материала и, следовательно, производительности устройства. Время жизни очень чувствительно ко всем видам электрических дефектов в материале, таких как примеси и кристаллографические дефекты, дислокации и т.п.
Читать далееВремя жизни неосновных носителей заряда является ключевым параметром, например, для оценки работоспособности солнечных элементов. Поэтому данный параметр является подходящим критерием для классификации кремниевых подложек по качеству. MDP метод позволяет проводить исследования с непревзойденной комбинацией пространственного разрешения, чувствительности и скорости, что делает его предпочтительным инструментом для крупных линий производства.
Читать далееВлияние развития методов выращивания кристаллов на современные технологии часто недооценивается. Мы используем продукты, изготовленные на кристаллических структурах, каждый день в наших электронных устройствах. Новые приложения для монокристаллов появляются постоянно, поскольку устаревшие исчезают в виду технического прогресса.
Читать далееВ данной статье представлены примеры применений ЯМР спектрометров компании Spinlock Анализ поступающего многофазного потока в нефтегазовой промышленности.
Читать далееВ данной статье продемонстрирована возможность точной оценки количества никотина, сахара и хлоридов в табаке с помощью портативного спектрофотометра i-Spec Plus со встроенным хемометрическим программным обеспечением компании B&W Tek, работающего по принципу ИК-спектроскопии диффузного отражения.
Читать далееНовая волоконно-оптическая система i-Spec 22, представляющая собой широкополосный спектрофотометр компании B&W Tek, использовалась в качестве полевого инструмента для анализа смазочных материалов с предоставлением возможности контроля их состояния непосредственно в ходе прямой эксплуатации.
Читать далееВ зависимости от спектральных характеристик непрерывные CW лазеры классифицируются как имеющие несколько продольных мод или одну продольную моду (SLM). В зависимости от длины резонатора, используемых фильтров и прочих параметров, как диодные, так и DPSS лазеры могут обладать SLM или не SLM спектральными характеристиками.
Читать далееТакие сплавы лития, как Li-Al и Li-Mg, широко используются во многих отраслях промышленности. Для производителей различных сплавов измерение концентраций алюминия (в Li-Al) и магния (в Li-Mg) является неотъемлемым шагом этапа производства и контроля качества.
Читать далее