Спектрометр генерации второй гармоники

  • Генерация второй гармоники (ГВГ) используется для поверхностного зондирования
  • ГВГ применяется для поверхностной спектроскопии монослоя
  • Может использоваться в качестве опции для спектрометра генерации разностной частоты
  • Длина волны возбуждения второй гармоники 1064 нм, 532 нм

Производитель EKSPLA

Особенности

Генерация второй гармоники (ГВГ) является эффективным методом поверхностного зондирования. Благодаря ГВГ, может быть обнаружена адсорбция монослоя. Различные изменения поляризации падающего и отраженного пучков могут дать информацию о средней молекулярной ориентации адсорбатов.

Измерения симметрии поверхности могут быть выполнены с помощью вращения образца вокруг нормали к поверхности.
Благодаря применению перестраиваемых лазеров ГВГ применяется для поверхностной спектроскопии монослоя.

Комплекс ГВГ спектроскопии Ekspla может быть заказан в качестве опции для спектрометра генерации разностной частоты.

Технические характеристики

Длина волны возбуждения второй гармоники 1064 нм, 532 нм
Длительность возбуждающего импульса второй гармоники 20-30 пс
Длина волны резонансного возбуждения второй гармоникой 420-2300 нм