Сканирующие интерферометры белого света

Компания GLtech представляет широкую линейку сканирующих 3D интерферометров белого света, начиная от самых простых систем академического уровня и заканчивая высокоточными моделями премиум-класса с высокой степенью автоматизации.



Вид каталога:
  • Разрешение по высоте 0.1 нм
  • Вертикальное разрешение: VSI/VEI < 0.5 нм, VPI < 0.1 нм
  • Неразрушающий контроль и отсутствие пробоподготовки
  • Возможность измерения различных типов образцов: прозрачные, полупрозрачные, непрозрачные и т.п.

С помощью данных интерферометров Вы сможете получать различные данные о топографии поверхности исследуемых образцов (профиль, шероховатость, размеры микро- и наноструктур, измерение углов, высот, формы и т.д.), а также строить трехмерные изображения с возможностью сшивания при анализе крупных объектов.

Сканирующая интерферометрия находится в одном ряду с технологией атомно-силовой микроскопии: оба метода позволяют измерять тончайшие структуры с вертикальным разрешением более 0.1 нм, а также занимают первое место среди аналогичных методов по возможности измерения широких областей с высокой скоростью сканирования.