ТГц-Рамановские спектроскопические системы



Вид каталога:
  • Широкий выбор длин волн возбуждения: 532 нм, 785 нм, 850 нм, 976 нм, 1064 нм
  • Мощность на выходе (миним.): 50 – 250 мВт, 2100 мВт, 300 мВт, 200 – 450 мВт
  • Быстрота сбора ТГц-рамановских спектров от 5 см-1 до 3000 см-1 (150 ГГц – 90 ТГц)
  • Совместимость с большинством коммерческих микроскопов (Leica, Zeiss, Nikon, Olympus)
  • Одновременный анализ молекулярной структуры и химического состава
  • Широкий выбор длин волн возбуждения: 532 нм, 785 нм и 850 нм
  • Мощность на выходе (миним.): 25 – 250 мВт, 160 мВт
  • Быстрота сбора ТГц-рамановских спектров от 5 см-1 до 3000 см-1 (150 ГГц – 90 ТГц)
  • Сменяемые измерительные аксессуары
  • Волоконный лазерный источник высокой мощности
  • Широкий выбор длин волн возбуждения: 532 нм, 785 нм, 850 нм
  • Мощность на выходе (миним.): 25 – 250 мВт, 160 мВт
  • Быстрота сбора ТГц-рамановских спектров от 5 см-1 до 3000 см-1 (150 ГГц – 90 ТГц)
  • Волоконный интерфейс для соединения с большинством спектрометров
  • Сменяемые измерительные аксессуары

ТГц-рамановские спектроскопические системы компании Ondax являются запатентованным решением, которое позволяет расширить стандартный рабочий диапазон рамановской спектроскопии в терагерцовую область (область низких частот), исследуя при этом тот же диапазон энергетических переходов, что и обычная ТГц спектроскопия и не влияя на производительность рамановской составляющей.

Рабочий диапазон данных приборов охватывает как стоксовую, так и антистоксовую составляющие в интервале от ±5 см-1 до 200 см-1 (150 ГГц – 6 ТГц), который содержит важную структурную информацию о молекулах и кристаллических решетках. Данная область позволяет раскрыть новый, так называемый «структурный отпечаток», дополняющий стандартный «химический отпечаток» – это позволяет проводить одновременный анализ молекулярной структуры и химического состава различных материалов на одном приборе.

Области применения

  • Анализ структуры полиморфных материалов
  • Контроль процесса перехода из аморфного состояния в кристаллическую решетку
  • Структурный анализ нано- и биоматериалов
  • Контроль процессов прямо на линии производства
  • Исследование и анализ взрывчатых, опасных и наркотических веществ
  • Судебная экспертиза
  • Геология и геммология