Атомно-силовые микроскопы

Атомно-силовые микроскопы компании Park Systems (Южная Корея).

Компания Park Systems производит передовые решения в области атомно-силовой микроскопии, начиная от простых систем вплоть до сложных исследовательских комплексов и систем АСМ микроскопии для промышленных и научных применений.

Представленные зондовые микроскопы являются высокоточными системами для исследования не только поверхности образца, но и целого спектра свойств материала: механических, магнитных, электрических.

Новейшее программное обеспечение SmartScan™ делает процесс работы на атомно-силовом микроскопе простым и понятным, за счёт наличия алгоритмов автоматизации процесса сканирования.



Вид каталога:
  • Анализ крупных образцов
  • Сканирующий диапазон: 100мкм×100мкм (50мкм×50мкм, 25мкм×25мкм)
  • Предметный столик с функцией наклона
  • Режим True Non-Contact
  • Автоматизированный интерфейс
  • Консольный одномодульный XY-сканер с замкнутым контуром управления
  • Сканирующий диапазон: 50 мкм × 50 мкм (дополнительно 10 мкм × 10 мкм, 100 мкм × 100 мкм)
  • Идеальный выбор для исследований в области нанотехнологий
  • Достоверность данных
  • Высокая производительность
  • Двумерный консольный сканер с диапазоном сканирования 100 мкм × 100 мкм
  • Консольный Z-сканер высокого усилия
  • Удобное крепление головки SLD по направляющей
  • Множественный зажим
  • Моторизированный предметный столик XY
  • Двумерный консольный сканер с диапазоном сканирования 10 мкм × 10 мкм
  • Консольный Z-сканер высокого усилия
  • Удобное крепление головки SLD по направляющей
  • Удобный держатель образца
  • Предметный столик XY с ручным управлением
  • Изучение биоматериалов
  • Диапазон сканирования: обычно 100 мкм × 100 мкм
  • Полость для поддержания клетки в живом состоянии
  • Уникально объединяет СИПМ и АСМ с инвертированным оптическим микроскопом (ИОМ) на одной платформе
  • Надежное и повторяемое получение наноизображения
  • Анализ отказов, обнаружение дефектов
  • Сканирование в условиях высокого вакуума
  • Сканер XY: 50 × 50 мкм Z: 15 мкм
  • Высокая чувствительность и разрешение измерений
  • Измерение электрических, магнитных, температурных и механических свойств в нанометровом масштабе
  • Метод сканирования на основе микропипеток
  • Диапазон сканирования в плоскости XY: 100 × 100 мкм
  • Доступно сканирование АСМ головкой или SICM модулем
  • Различные режимы измерения: бесконтактный режим, полуконтактный режим, PinPoint режим и т.д.

Промышленные микроскопы

Вид каталога:
  • Идентификация нанодефектов
  • Высокая производительность
  • Измерение шероховатости поверхности в доли ангстрем
  • Автоматический обзор дефектов
  • Точная обратная связь
  • Автоматическое сканирование и идентификация дефектов
  • Автоматическое позиционирование, не требующее предварительной калибровки
  • Специально для применения в области полупроводников
  • Производительность всей системы до 1000%
  • Для точной метрологии  ползунков для жестких дисков прямо на производстве
  • Автоматизация для быстрых, точных и повторяющихся PTR измерений
  • Высокая пропускная способность без необходимости в контрольных измерениях
  • Малошумные датчики положения XYZ
  • Полностью автоматический АСМ
  • Измерение выступающих элементов профилей, получение боковых изображений высокого разрешения, измерение критических углов
  • Неразрушающее измерение мягких поверхностей фоторезисторов
  • Система раздельного сканирования в латеральной плоскости XY и по оси Z и поворотным Z-сканером
  • Полностью автоматизированный АСМ
  • Разработан для контроля качества в лабораториях
  • Позволяет полностью исследовать всю поверхность подложки
  • Подложки диаметром до 300 мм
  • Без необходимости перемещения подложки во время сканирования