Новости
NSFE – это открытый европейский форум пользователей АСМ, посвященный обмену передовыми исследованиями в области материаловедения и биологических наук с использованием атомно-силовой микроскопии (АСМ).
Компания Park Systems продолжает курс онлайн-лекций по изучению принципов работы атомно-силовой микроскопии (АСМ). Курс охватывает принципы работы АСМ в виде теоретических лекций и интерактивных демонстрационных сессий с реальным взаимодействием с участниками.
Наша компания примет участие в XV Международной конференции по импульсным лазерам и применениям лазеров – AMPL-2021, которая состоится 12 - 17 сентября 2021 г. в г. Томск.
Компания B&W Tek представила PTRam – самокалибрующаяся портативную рамановскую систему для приложений разработки процессов.
В ходе данного вебинара мы покажем, как режим PinPoint компании Park Systems позволяет измерять кривые «сила-расстояние» с высокой скоростью для каждого пикселя, что позволяет изучать механические свойства, такие как модуль Юнга, адгезия или рассеяние механической энергии в локальном масштабе.
Компания Park Systems представляет новый АСМ революционного класса Park FX40 – автономный АСМ, выполняющий все настройки и измерения, чтобы Вы могли сконцентрироваться на своих исследованиях.
Институт микроструктуры материалов и систем им. Фраунгофера IMWS и компания Park Systems приглашают Вас на Международный симпозиум по анализу отказов и испытаниям материалов – FAMT 2021, который состоится 1 июля 2021.
Этот улучшенный режим позволяет пользователям выполнять высокоточное количественное картирование распределения потенциала одновременно с получением данных о топографии исследуемого образца.
Уникальные функции автоматизации, такие как FastApproach, AdaptiveScan и StepScan, позволяют пользователям максимально эффективно использовать рабочее время
Компания POROMETER организует новый веб-семинар посвященный теме: "Автоматическое определение первой точки пузырька (FBP): советы и рекомендации".
В ходе данного вебинара будет представлено два примера из работы научной группы, которые иллюстрируют силовую микроскопию с зондом Кельвина (KPFM) для определения характеристик новых тонких полупроводниковых пленок.
В этом вебинаре мы расскажем, как настроить полуконтактный и NCM режимы сканирования на наших микроскопах и как различать эти режимы во время сканирования в реальном времени. Кроме того, мы покажем результаты, которые подчеркивают преимущество NCM режима.
В этой серии обучающих вебинаров вы узнаете все о том, как «чувствовать» поверхность материала с помощью кантилевера АСМ, чтобы собрать разнообразную информацию о вашем образце.
Данный вебинар будет посвящен практическим аспектам получения данных высокого разрешения и наномеханических данных в режимах PinPoint и True Non-Contact на ряде пептидных нанотрубок.
В ходе данного вебинара мы продемонстрируем режим PinPoint C-AFM от компании Park Systems, позволяющий получать стабильные изображения распределения токов с высоким разрешением на оптически активных полупроводниках.
Приглашаем посетить стенд нашей компании на 15-й международной специализированной выставке лазерной, оптической и оптоэлектронной техники «ФОТОНИКА. МИР ЛАЗЕРОВ И ОПТИКИ-2021».
Институт микроструктуры материалов и систем им. Фраунгофера IMWS и компания Park Systems приглашают Вас на Международный симпозиум по анализу отказов и испытаниям материалов – FAMT 2021, который состоится 1 июля 2021.
В центре внимания этого вебинара будет находится сканирующая микроскопия сопротивления растеканию (SSRM), хорошо зарекомендовавший себя метод измерения профилей распределения легирующих примесей.
В ходе данного вебинара мы продемонстрируем возможности атомно-силовых микроскопов компании Park Systems для одновременного изображения пьезоэлектрических и наномеханических свойств ПВДФ-волокон с помощью пьезоэлектрических силовой микроскопии (PFM) в режиме PinPoint.
В ходе данного вебинара мы продемонстрируем возможности атомно-силовых микроскопов компании Park Systems для одновременного изображения пьезоэлектрических и наномеханических свойств ПВДФ-волокон с помощью пьезоэлектрических силовой микроскопии (PFM) в режиме PinPoint.
Современные проблемы в области полупроводников, преобразования энергии и исследования мягких материалов требуют наномасштабного предоставления информации о функциональных свойствах и морфологии материалов, которую удобнее всего получить с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ).
В ходе данного вебинара мы опишем и продемонстрируем характеристики полимеров с помощью картирования методом анализа PinPoint на атомно-силовом микроскопе модели NX10 компании Park Systems. Кроме того, мы продемонстрируем примеры измерений, в которых карты электрических свойств получают одновременно с топографическими и наномеханическими данными.
В ходе данного вебинара мы продемонстрируем, как атомно-силовую микроскопию (АСМ) можно использовать для получения изображений с ультравысоким разрешением отдельных молекул ПТФЭ на полукристаллической поверхности коммерческой тефлоновой ленты.
В ходе данного вебинара будет представлена методика фотоиндуцированной силовой микроскопии (PiFM), новый метод наномасштабной ИК-спектроскопии/микроскопии, основанный на атомно-силовой микроскопии (AFM).
Новая система SYLOS3 обеспечит уникальные параметры, никогда ранее не достигнутые в коммерчески доступных системах. Пиковая мощность более 15 ТВт при частоте следования импульсов в 1 кГц и длительности импульса менее 8 фс. По сравнению с системой SYLOS2A (4.5 ТВт, 6.3 фс, 1 кГц), уже установленной в ELI-ALPS, новая система будет обеспечивать более чем в 3 раза большую пиковую и среднюю мощность.
В ходе данного вебинара мы опишем и продемонстрируем характеристики полимеров с помощью картирования методом анализа PinPoint на атомно-силовом микроскопе модели NX10 компании Park Systems. Кроме того, мы продемонстрируем примеры измерений, в которых карты электрических свойств получают одновременно с топографическими и наномеханическими данными.
NSFE – это открытый европейский форум пользователей АСМ, посвященный обмену передовыми исследованиями в области материаловедения и биологических наук с использованием атомно-силовой микроскопии (АСМ).
В ходе данного вебинара мы продемонстрируем, как атомно-силовую микроскопию (АСМ) можно использовать для получения изображений с ультравысоким разрешением отдельных молекул ПТФЭ на полукристаллической поверхности коммерческой тефлоновой ленты.
В этом вебинаре мы продемонстрируем, как атомно-силовую микроскопию (АСМ) можно использовать для получения изображений с ультравысоким разрешением отдельных молекул PTFE на полукристаллической поверхности коммерческой тефлоновой ленты.
Компания Porometer организует новый вебинар, за которым последует виртуальная демонстрация лаборатории!
На данном вебинаре будут представлены различные режимы атомно-силовых микроскопов для исследования таких свойств образца, как электрические, механические, магнитные, термические и электрохимические свойства.
Компания Park Systems представляет Вашему вниманию новую серию вебинаров, посвященную исследованию полимеров
Компания Park Systems представляет Вашему вниманию специальный онлайн-симпозиум по нанотехнологиям «NanoScientific симпозиум по нанотехнологиям в современном меняющемся мире».
Компания LIGHT CONVERSION объявила, что два ее продукта признаны одними из лучших на церемонии награждения Laser Focus World Innovators Awards 2020.
В ходе данного вебинара мы продемонстрируем, как высокий вакуум (10-5 торр) значительно улучшает чувствительность и разрешающую способность электрических режимов АСМ при анализе TMD.
Боковая силовая микроскопия с зондом Кельвина (KPFM) – это новый режим от Park Systems, который позволяет одновременно получать изображения топографии и поверхностного потенциала с высоким пространственным разрешением и улучшенной чувствительностью по сравнению с обычным режимом подъема и другими методами KPFM.
Компания Park Systems представит бесплатный вебинар «Что такое хороший атомно-силовой микроскоп?».
Новые методы полимеризации не должны проводиться в лабораторных колбах с использованием линии Шленка.
В ходе данного вебинара будут объяснены основы EC-AFM и исследования локализованного...
В ходе данного вебинара мы продемонстрируем, как создавать структуры нанометровых размеров и обсудим основные параметры, которые следует учитывать в технологическом процессе, используя нанолитографию на атомно-силовом микроскопе Park NX10.
В ходе данного вебинара будет дано полное представление о функциях атомно-силовых микроскопов в высоком вакууме.
Вебинар призван помочь понять передовые разработки в области материаловедения и приложений с использованием атомно-силовой микроскопии.
В ходе данного вебинара будет представлен вклад MFM в различных экспериментальных конфигурациях в проводимых исследованиях ферромагнитных и антиферромагнитных скирмионов, а также проведено теоретическое введение в MFM с высоким вакуумом.
Устойчивый к флуоресценции амановский спектрометр для анализа наркотических, взрывчатых и опасных химических веществ TacticID®-1064 ST от B&WTek.
Компания B&WTek представила новейшие разработки в области рамановской спектроскопии.
Вебинар призван помочь исследователям понять передовые разработки в области материаловедения и приложений с использованием атомно-силовой микроскопии.
В ходе данного вебинара мы продемонстрируем, как получать изображения в жидкости...
В ходе данного вебинара для демонстрации фотоэлектрического отклика от сегнетоэлектрических материалов будут использованы тонкие пленки эпитаксиально выращенных BiFeO3 и Pb(Zr,Ti)O3.
Новый выпуск журнала Nano Scientific от компании Park Systems.
В ходе вебинара мы планируем углубиться в тему уникальной и инновационной трехмерной...
В ходе данного вебинара будет продемонстрировано, как собирать наномеханические свойства в режиме...
В ходе данного вебинара будет продемонстрирован метод автоматической обработки изображений, реализованный в программном обеспечении SmartScan.
Наша компания примет участие в научном европейском онлайн-форуме по сканирующей зондовой микроскопии...
В ходе данного вебинара будет продемонстрирован режим сканирующей ион-проводящей микроскопии...
В ходе данного вебинара будут объяснены основы EC-AFM и исследования локализованного...
В ходе данного вебинара мы проведем обзор и введение в сканирующую емкостную микроскопию с ...
Комплекс Ramboss-Sports представляет собой новую систему для рамановской конфокальной микроскопии и картирования. Данная система является системой модульного типа, включающая в себя такие основные компоненты, как источник лазерного излучения, измерительная камера для образца, видеомикроскоп и моторизированный предметный столик.
В ходе данного вебинара мы продемонстрируем, как создавать структуры нанометровых размеров и обсудим основные параметры, которые следует учитывать в технологическом процессе, используя нанолитографию.
Этот вебинар призван помочь исследователям понять передовые разработки в области материаловедения и приложений с использованием атомно-силовой микроскопии.
В ходе данного вебинара Вам будет представлен, с точки зрения инженера, вклад MFM в различных экспериментальных конфигурациях в проводимых исследованиях ферромагнитных и антиферромагнитных скирмионов, а также проведено теоретическое введение в MFM с высоким вакуумом.
В ходе данного вебинара будет продемонстрировано, как получить профиль легирования для образца с помощью SCM режима, а также будут рассмотрены базовый принцип, настройка оборудования и анализ полученных данных.
В ходе данного вебинара мы познакомим Вас с возможностями метрологического контроля прямо на линии производства, которые необходимы для полной автоматизации контроля качества.
В ходе данного вебинара будет продемонстрировано как одновременно получить высокоточные топографические данные и зарегистрировать магнитные изменения вдоль поверхности образца с помощью АСМ серии NX и программного обеспечения Smart Scan.
В ходе данного вебинара мы представим обзор трех доступных режимов PFM. Какой режим наиболее подходит для Ваших образцов.
Узнайте, как функции автоматизации в атомно-силовых микроскопах могут быть легко внедрены в Ваш рабочий процесс, чтобы повысить производительность Вашей лаборатории.
Компания Park Systems запускает новую серию онлайн-демонстраций. Каждую неделю наши инженеры из технической поддержки будут проводить короткие узконаправленные демонстрации и обсуждать каждое применений с участниками вебинаров.
Данный вебинар даст представление и расскажет о нужных материалах, предоставит обзор различий и химического состава фото- и даже терморегулируемых смол для 3D печати.
В ходе данного вебинара мы расскажем Вам о быстрой настройке автоматизации для исследовательских приложений с помощью программы Smart Scan и режима StepScan.
9 Апреля 2020 г. 12:00 – 13:30 (Москва). Вебинар послужит теоретическим введением в KPFM и покажет онлайн примеры экспериментов с режиме KPFM с регистрацией в боковой полосе частот с помощью атомно-силового микроскопа NX20.
Зарядитесь энергией атомно-силовой микроскопии (АСМ) и присоединяйтесь к нам на онлайн-курсах по АСМ применениям в различных областях от исследовательской до промышленной сферы.
Компания ROCKER – ведущий мировой производитель, специализирующийся на разработке и производстве приборов вакуумного фильтрования, лабораторных вакуумных насосов и компрессоров представила новую серию химически стойких вакуумных насосов Chemker 600.
Наша компания примет участие в семинаре «Преимущества атомно-силовой микроскопии: расширяя границы магнитно-силовой микроскопии».
Наша компания примет участие в XXIV международном симпозиуме «Нанофизика и наноэлектроника».
Приглашаем посетить стенд нашей компании на 15-й международной специализированной выставке лазерной, оптической и оптоэлектронной техники «ФОТОНИКА. МИР ЛАЗЕРОВ И ОПТИКИ-2020».
Наша компания примет участие в Международной конференции «Ultrafast Optical Science» (UltrafastLight-2019), которая пройдет в Москве с 30 сентября по 4 октября 2019 года, на базе Физического института им. П.Н. Лебедева Российской академии наук (ФИАН).
Компания Park Systems выпустила журнал об атомно-силовой микроскопии Nano Scientific.
Приглашаем посетить стенд нашей компании на Международной конференции «Магнитный резонанс - современное состояние и перспективы на будущее» (EPR-75), которая состоится 23 - 27 сентября 2019 года в г. Казань.
Наша компания примет участие в Международной конференции «Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2019»
Наша компания примет участие в III Международной Балтийской конференции по магнетизму (IBCM).
Приглашаем Вас посетить Научный европейский форум по сканирующей зондовой микроскопии (NSFE 2019) который состоится 11 – 13 сентября 2019 г. в г. Болонья, Италия.
Компания B&W Tek анонсирует ввод в эксплуатацию портативного рамановского анализатора NanoRam-1064, предназначенного для неразрушающего контроля входного сырья, который является идеальным дополнением в линейке ручных анализаторов.
Приглашаем посетить стенд нашей компании на 14-й международной специализированной выставке лазерной, оптической и оптоэлектронной техники «ФОТОНИКА. МИР ЛАЗЕРОВ И ОПТИКИ-2019».
Наша компания примет участие в 6-м Российском симпозиуме "Полупроводниковые лазеры: физика и технология", который состоится 13 - 16 ноября 2018 г. в г. Санкт-Петербург.
Приглашаем посетить стенд нашей компании на 16-й Международной выставке технологий, оборудования...
Наша компания примет участие в Международной конференции «Сканирующая Зондовая Микроскопия...
Приглашаем посетить стенд нашей компании на ежегодной Международной конференции «Современное развитие магнитного резонанса 2018»...
Приглашаем посетить стенд нашей компании на III Международной конференции «Спиновая физика, спиновая химия и спиновые технологии» (SPCT-2018)».
Приглашаем посетить стенд нашей компании на 22-й Ежегодной Международной Конференции...
Компания B&W Tek объявляет о запуске нового компактного ручного рамановского спектрометра TacticID-1064
Наша компания примет участие в 18-й Международной конференции по лазерной оптике (ICLO 2018)...
Приглашаем посетить стенд нашей компании на конференции «КР-90», посвященной 90-летию открытия...
Рамановский спектрометр i-Raman Pro-ST удостоен награды Pittcon Today Excellence Gold Award...
Приглашаем посетить стенд нашей компании на 15-й международной молодежной школе-конференции ...
Приглашаем посетить стенд нашей компании на 13-й международной специализированной выставке...
Наша компания примет участие в выставке Pharmtech & Ingredients, которая состоится 21 – 24 ноября 2017 года в Москве, в МВЦ «Крокус Экспо».
Конференция традиционно будет посвящена физическим и химическим процессам, протекающим в активных...
Наша компания примет участие в Международной конференции «Сканирующая Зондовая Микроскопия...
Наша компания примет участие в 6-м Сибирском семинаре по спектроскопии комбинационного рассеяния света...
Наша компания примет участие во второй российской конференции «Графен: Молекула и 2D кристалл»...
Объективы серии RTS20x оборудованы оптическими системами линз, имеющими рабочее расстояние от 20 мм до 6 м.
Наша компания примет участие в XXI международном симпозиуме «Нанофизика и наноэлектроника»...
Приглашаем посетить стенд нашей компании на 12-й международной специализированной выставке...
BWTek представляет собственную разработку прибора i-QCRx, использующего самые передовые...
Компания B&WTek, производящая портативные рамановские спектрометры, приборы для анализа...
Компания B&WTek, производящая портативные рамановские спектрометры, приборы для анализа методами LIBS...
Компания Park Systems представила атомно-силовой микроскоп промышленного класса на базе...
Газовый пикнометр Pycnomatic выдержал технические и метрологические испытания, зарегистрирован...
Компания B&WTek, производящая портативные рамановские спектрометры, приборы для анализа методами LIBS...
Компания B&WTek объявляет о выпуске новой платформы BWSpec Mobile, представляющей собой улучшенную...
Приглашаем посетить стенд нашей компании на 11-й международной специализированной выставке...
Компания Park Systems, мировой лидер в области атомно-силовой микроскопии (АСМ), объявила о выпуске нового...
Компания B&WTek, объявляет, что их портативный спектрометр TacticID может распознавать различные образцы...
В рамках выставки "Аналитика Экспо", проходившей 14 – 17 апреля 2015 г. в Москве в КВЦ «Сокольники»...
«Park NX-Bio – это ответ тем исследователям в области бионауки, искавшим прибор, в котором были бы собраны вместе функции получения 3D-изображений и изображений высокого качества из жидкого состояния с большой производительностью и проведения анализа поверхности для получения ее биомеханических характеристик».
Приглашаем посетить стенды нашей компании на 13-й Международной выставке лабораторного оборудования и химических реактивов "Аналитика Экспо 2015".
Наша организация примет участие в работе II Российского конгресса по катализу «РОСКАТАЛИЗ»...
Приглашаем посетить стенд нашей компании на международной выставке химической промышленности и науки...
Получен сертификат об утверждении типа средств измерений на газо-адсорбционные порозиметры Surfer...
Получен сертификат о утверждении типа средств измерений на спектрометры комбинационного рассеяния...
Мы переехали, с 1 июля 2014 года наша компания находится по адресу: 107392, г. Москва, ул. Просторная, 7.
Компания В&W Tek, Inc – передовая приборостроительная компания, производящая оптические...
Приглашаем посетить стенды нашей компании на 12-й Международной выставке лабораторных технологий...
Приглашаем посетить стенд нашей компании на 9-й международной специализированной выставке...
B&W Tek в настоящее время с гордостью официально объявляет о новом портативном инструменте...
25 — 28 ноября 2013 года в Москве, на ВВЦ (павильон 75) в 15-й раз пройдет Международная выставка "Pharmtech...
Компания «Промэнерголаб» приняла участие в всероссийской научной конференции с международным...
Компания «Промэнерголаб» приняла участие в выставке, проводимой в рамках Международной Цеолитной...
Приглашаем посетить стенды нашей компании на 11-й международной выставке лабораторных технологий...
Приглашаем посетить стенд нашей компании на 8-й международной специализированной выставке...
Наша компания приняла участие в Международной специализированной выставке "Индустрия здравоохранения...
Участие в работе девятой международной конференции “Mechanisms of Catalytic Reactions”
Уважаемые дамы и господа! Будем рады видеть Вас на стенде компании "Промэнерголаб" B213 на 10-й...