Новости

Наша компания примет участие в Международной конференции «Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2019»

Наша компания примет участие в III Международной Балтийской конференции по магнетизму (IBCM).

Приглашаем Вас посетить Научный европейский форум по сканирующей зондовой микроскопии (NSFE 2019)  который состоится 11 – 13 сентября 2019 г. в г. Болонья, Италия.

Компания B&W Tek анонсирует ввод в эксплуатацию портативного рамановского анализатора NanoRam-1064, предназначенного для неразрушающего контроля входного сырья, который является идеальным дополнением в линейке ручных анализаторов.

Приглашаем посетить стенд нашей компании на 14-й международной специализированной выставке лазерной, оптической и оптоэлектронной техники «ФОТОНИКА. МИР ЛАЗЕРОВ И ОПТИКИ-2019».

Наша компания примет участие в 6-м Российском симпозиуме "Полупроводниковые лазеры: физика и технология", который состоится 13 - 16 ноября 2018 г. в г. Санкт-Петербург.

Приглашаем посетить стенд нашей компании на 16-й Международной выставке технологий, оборудования...

Наша компания примет участие в Международной конференции «Сканирующая Зондовая Микроскопия...

Приглашаем посетить стенд нашей компании на ежегодной Международной конференции «Современное развитие магнитного резонанса 2018»...