8 (800) 23-41-208
+7 (495) 22-11-208
E-mail: info@czl.ru

Лучшие предложения

Получение моно- и мульти-слоев на нано- и микро- уровнях различных материалов
Далее...
Измерение толщин тонких пленок и оптических констант (n и k). Диапазон длин волн 380 нм ~ 1000 нм.
Далее...
Исследования в области катализа и поверхностно-активных веществ.
Далее...
Неразрушающий контроль качества поверхностей, тонких пленок и отливок.
Далее...

Обратный звонок








Чтобы скачать проспект, пожалуйста, заполните форму
(все поля обязательны к заполнению).

Компания:


Имя:


E-mail:


Телефон: