Свежие записи
29 июня 2020

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

09 апреля 2020

Автор: ВикторРаздел: Анализ микроструктуры материалов

01 апреля 2020

Автор: ВикторРаздел: Анализ микроструктуры материалов

Подписка на новые статьи


Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».

Блог

В этой статье рассматривается топография и адгезионные свойства пробиотиков, чтобы определить форму бактерии, которая хорошо прикрепляется к толстой кишке. Исследования проводились на основе анализа коммерчески доступных пробиотиков с использованием наномеханического режима PinPoint для атомно-силовой микроскопии (АСМ) от компании Park Systems.

Читать далее

В этом тематическом исследовании для определения красителей, использованных в марках на историческом конверте 1885 года, используется портативный рамановский спектрометр i-Raman EX.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Тонкие пленки

Тонкие пленки играют все более важную роль в современном обществе. Структурирование и формирование рельефа тонкого слоя с помощью селективной лазерной абляции является одной из ключевых технологий в производстве дисплеев и фотоэлектрических элементов. Двумя основными аспектами тонких пленок являются образование тонкой пленки и структурирование или модификация тонкой пленки. Поэтому лазерное излучение, благодаря его пространственной фокусируемости и временной управляемости, все чаще используется для структурирования и модификации тонких пленок.

Читать далее

Данное исследование демонстрирует пригодность фазовой визуализации для характеристики тонких полимерных пленок. Фазовые изображения высокого разрешения, полученные в эксперименте, показывают значительные изменения поверхности тонких пленок полимера после того, как они подверглись нагреву и приложению напряжения смещения.

Читать далее

В ходе данной работы мы продемонстрировали использование режима атомно-силового микроскопа нанолитографии для создания наноразмерных структур оксида на кремниевой подложке с использованием системы Park NX10. В процессе АСМ нанолитографии использовался метод с напряжением смещения.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Помимо того, что полупроводник является источником ТГц импульсов для систем спектроскопии во временной области, ТГц-генерация на поверхностях полупроводников также может быть ценным инструментом для исследования различных характеристик самого полупроводника.

Читать далее

В данной статье мы покажем, как стабилизировать усиленный резонансом пьезоотклик с помощью дополнительной обратной связи, которая отслеживает контактный резонанс во время PFM сканирования в методике, называемой двухчастотным резонансным отслеживанием (DFRT).

Читать далее

В данной статье объясняется, как распределение размеров пор хирургических защитных масок и респираторов может быть измерено с использованием метода сканирующего давления, газовым жидкостным порометром POROLUX ™ 100.

Читать далее

Трековые мембраны представляют собой тонкие полимерные материалы с четко определенной структурой пор, созданные путем облучения частицами или ионами известного размера / или путем химического травления. Эти процессы позволяют тщательно контролировать размер и плотность пор мембраны.

Читать далее

В приборе сканирующего давления 2 поры одинакового диаметра, но с различной извилистостью подвержены разной кинетике открывания пор и, следовательно, они будут открываться в разное время. Поскольку давление постоянно увеличивается, это означает, что они будут открываться при разном давлении.

Читать далее