Свежие записи
12 ноября 2020

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

02 ноября 2020

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

23 октября 2020

Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

20 октября 2020

Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

08 октября 2020

Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Подписка на новые статьи


Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».

Блог

В данной статье мы представляем результаты, полученные с помощью AM-KPFM и боковой KPFM на четко определенных образцах с протяженными участками с различными поверхностными потенциалами. На основе этих результатов мы напрямую сравниваем пространственное разрешение AM-KPFM и боковой KPFM в идентичных условиях.

Читать далее

Фазовая автоматическая подстройка частоты – это мощный метод, позволяющий синхронизировать несколько измерений таким образом, что несколько сигналов могут быть получены в один и тот же момент времени. Комбинация фазовой автоматической подстройки частоты (ФАПЧ / PLL) с атомно-силовой микроскопией (АСМ) обеспечивает такие возможности, как АСМ с частотной модуляцией (FM), которая позволяет исследователям наблюдать динамические свойства колеблющегося кантилевера, которые могут использоваться для количественной оценки измерений поверхностного потенциала.

Читать далее

TacticID-1064 ST оснащен специальным программным и аппаратным обеспечением, предназначенным для измерения материалов как через прозрачные, так и через непрозрачные контейнеры и упаковку. Эти измерения «через барьер» устраняют необходимость в активном отборе проб потенциально опасных соединений, таких как фентанил, что приводит повышению безопасности оператора и сокращению времени ожидания четких результатов.

Читать далее

С ростом исследований микропластиков в последние годы стало критически важным расширить возможности исследовательских лабораторий по регулярному анализу химического состава микропластиков из проб окружающей среды. В этой статье мы рассмотрим использование портативной рамановской микроскопии для идентификации микропластика, извлеченного из поверхностных вод эстуария.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Ученые из университета Лаваля недавно опубликовали статью о новой технологии изготовления поверхностных фотонных устройств на полимерах с использованием фемтосекундных лазеров среднего ИК диапазона. В данной статье рассматриваются основы и новые преимущества данного метода.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Средний инфракрасный (средний ИК) диапазон спектра все еще незнаком для большинства пользователей лазеров, поскольку в этом диапазоне длин волн коммерчески доступно лишь несколько лазеров. Недавно были разработаны новые компактные и универсальные лазеры среднего инфракрасного диапазона, которые открыли новые возможности для инновационных приложений в промышленности, науке, здравоохранении и окружающей среде.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Источником суперконтинуума (СК) обычно является импульсный лазер (в наносекундном, пикосекундном или фемтосекундном режиме), излучение которого преобразуется в оптический сигнал с очень широким спектром. По сравнению со стандартными освещающими широкополосными источниками света, такими как лампа, светодиод или даже солнце – лазерные источники суперконтинуума обладают одним из самых больших преимуществ: их излучение является направленными и, в некоторых случаях, когерентными.

Читать далее

В данной статье демонстрируется исследование двух различных образцов с помощью атомно-силового микроскопа NX-Hivac компании Park Systems и показывается преимущество высокого вакуума для измерений в режимах C-AFM и SSRM. Результаты показывают улучшенную чувствительность и разрешение при измерениях в условиях высокого вакуума по сравнению с измерениями на воздухе.

Читать далее

Исследование показало, что сканирующая микроскопия сопротивления растеканию (SSRM) и сканирующая емкостная микроскопия (SCM) могут решить проблемы двумерного профилирования носителей заряда в современных электронных устройствах, имеющих характерные структуры размерами порядка 10 нм, при условии выбора правильного инструмента для анализа.

Читать далее

В данной прикладной статье демонстрируется электрохимический процесс, называемый анодным окислением, с использованием метода нанолитографии с приложением напряжения смещения для создания оксидных рисунков на поверхности кремниевой подложки.

Читать далее