Свежие записи
09 июля 2018

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

18 декабря 2017

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

22 ноября 2017

Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

22 ноября 2017

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

14 ноября 2017

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

Подписка на новые статьи


Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».

Блог

Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Новая волоконно-оптическая система i-Spec 22, представляющая собой широкополосный спектрофотометр компании B&W Tek, использовалась в качестве полевого инструмента для анализа смазочных материалов с предоставлением возможности контроля их состояния непосредственно в ходе прямой эксплуатации.

Читать далее

Атомно-силовая микроскопия (АСМ) предлагает простой, эффективный и неразрушающий альтернативный метод контроля для анализа различных видов поверхностей структурированных объектов как на этапах контроля сапфировых подложек, так и на конечной стадии готовых LED.

Читать далее

Рамановская спектроскопия является видом молекулярной спектроскопии, которая предоставляет уникальную информацию о материалах и веществах. Рамановская спектроскопия широко используется для быстрого неразрушающего и не инвазивного контроля и идентификации в различных областях и сферах: химия, материаловедение, фармацевтика, биомедицина и медицинская диагностика, а также увеличивает свое присутствие в рядах правоохранительных органов.

Читать далее

В современную эру цифровых устройств магнитные хранилища жизненно важны, поскольку применяются во всевозможных сферах и приборах, включая компьютеры, мобильные телефоны, серверы данных и т.п. Способность магнитных хранилищ хранить большое количество информации на маленькой площади, оставаясь при этом недорогими и доступными, делает их наиболее привлекательными, по сравнению с другими устройствами хранения высокой плотности.

Читать далее

В данной статье описано исследование новых наноэлектронных устройств с вакуумными каналами с помощью емкостной сканирующей микроскопии (SCM) на атомно-силовом микроскопе NX20, чтобы продемонстрировать его возможности как нового и универсального решения в данной области исследований. Исследуемый образец имел свой собственный «сток-исток» интерфейс, а область сканирования составляла 450х800 нм.

Читать далее