Свежие записи
05 июня 2019

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

28 декабря 2018

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

27 декабря 2018

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

Подписка на новые статьи


Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».

Блог

В данной статье показана надежность бесконтактного режима анализа True Non-Contact атомно-силовых микроскопов компании Park Systems для измерения шероховатости и отображения топографии поверхности до долей нм. А также, наглядно продемонстрировано, почему для измерения шероховатости поверхности требуются острота кантилевера и низкий уровень шумов системы.

Читать далее

В данной статье демонстрируется использование горизонтальной пьезоэлектрической силовой микроскопии для анализа дефектов и отказов многослойного керамического конденсатора. Этот метод позволяет определять характеристики пьезоэлектрических доменов в диэлектрике конденсатора в наномасштабе.

Читать далее

В данной статье продемонстрирована возможность использования режима латеральной силовой микроскопии (LFM) с целью нахождения отличий по структурному составу компонентов в веществе, который основан на регистрации относительной разницы коэффициентов трения самих компонентов.

Читать далее

Новый наномеханический режим PinPoint атомно-силового микроскопа NX10 является идеальным методом количественной оценки механических свойств на уровне наномасштабов, который к тому же позволяет продлить срок службы кантилевера.

Читать далее

Углеродные нанотрубки привлекли значительный интерес научного сообщества и промышленности благодаря своим уникальный электрическим свойствам. УНТ могут вести себя как металлические или полупроводниковые материалы в зависимости от расположения их атомов, их хиральности, а также их размеров.

Читать далее