Рентгеновские дифрактометры (XRD)

Сверхбыстрый и высокоточный метод «Omega-scan» позволяет определить полную ориентацию кристалла всего за несколько секунд. XRD системы могут работать 24 часа в сутки в производственных условиях с целью выравнивания положения кристаллов для их распиловки или шлифовки, определения положения плоскости, проверки готовой продукции.

Вид каталога:
  • Дифрактометрия одного кристалла
  • Угловое разрешение 0.1 арксекунда
  • Размер образца до 450 мм
  • Полностью автоматизированное измерение
  • Полная ориентации решетки единичных кристаллов
  • Высокая точность анализа (до 0.01°)
  • Контроль резания, шлифования и притирки
  • Применим для подложек от 50 мм до 300 мм и слитков весом до 20 кг
  • Воздушное охлаждение рентгеновской трубки (вода не требуется)
  • Сверхбыстрое измерение ориентации кристаллов
  • Высокая точность анализа (до 0.01°)
  • Измерение мелких образцов размерами от 1 мм
  • Полное ручное управление
  • Воздушное охлаждение рентгеновской трубки (вода не требуется)
  • Определение типов ориентации: AT, SC, IT, TF, X, Y, Z.
  • Скорость измерения 2 сек
  • Высокая точность ориентации: СКО ≤ 10 арксекунд
  • Высокое пространственное разрешение: 1 ± 0.1 мм
  • Определение ориентационного наклона относительно образца
  • Автоматическое отображение угловых компонентов
  • Интеграция в любую систему автоматизации или обработки
  • Разработаны для работы в жестких условиях (распиловка, шлифовка)
  • Независимое измерение ориентации
  • Измерение на плоских поверхностях или окружностях
  • Обнаружение оптических насечек
  • Измеряемые материалы: Si, SiC, GaAs и другие
  • Размер образцов: слитки/були диаметром до 450 мм

Компания Freiberg Instruments занимается изготовлением рентгеновских дифрактометров и автоматизированных встраиваемых в линии производства решений для ориентации кристаллической решетки и выравнивания образца по его оси, т.е. систем для ориентации кристаллов.

Компания специализируется на использовании сверхбыстрого и высокоточного метода «Omega-scan», который позволяет определить полную ориентацию кристалла всего за несколько секунд. Опциональное добавление систем для двумерного или трехмерного картирования, анализа кривой качания в комбинации с полной автоматизацией системы делает наши дифрактометры неотъемлемой частью контроля качества для производителей монокристаллов. Имеется возможность исследования образцов в виде булей, слитков, пластин и подложек, брусков, панелей, стержней и других геометрических форм кристаллов.