Наноманипулирование в SEM: теория и практика
Обработка и определение отдельных наночастиц может быть очень обременительной задачей для новичка без экспертной поддержки. Фактически, из-за их размера, нанообъекты необходимо наблюдать в условиях вакуума в сканирующем электронном микроскопе (SEM). В этой среде силы, действующие между объектами, фундаментально отличаются от сил на макроуровне: сила тяжести играет незначительную роль, а силы Ван-дер-Ваальса и электростатические силы имеют преимущественную силу
Цель данной статьи предоставить базовое теоретическое понимание сил, действующих на объекты в наномасштабе, и дать несколько советов и приемов для повышения эффективности манипулирования такими объектами в SEM. Экспериментальный раздел иллюстрирует теорию на примере наноманипуляторов, используемых для захвата нанопроволок с собственной подложки и для переноса их на другую подложку.
Эксперимент проводили на MERLIN SEM (Carl Zeiss) с «Nanoprobing SEM Solution» (от Imina Technologies), с установленными 4 наноманипуляторами miBot™.
Место проведения эксперимента: National Enterprise for nanoScience and nanoTechnology (NEST), Pisa, Italy
Подробная информация:
Захват и перенос нанопроволоки из кобальта диаметром 200 нм с помощью наноманипулятора miBot
- Компактность: 20.5 х 20.5 х 13.6 мм, плечо: 8.3 мм (без рабочего органа)
- 4 степени свободы - X, Y, R, Z
- Масштабируемое разрешение позиционирования от мкм до нм
- Мобильность – интеграция пьезоэлектрических приводов в манипулятор
- Готовые решения для электрических или оптических микроскопов (NANO / MICRO)
- Широкий диапазон применения: электрическое зондирование, анализ дефектов, манипулирование