Анализ нелинейных оптических материалов

По сравнению с типовыми неорганическими металлами, полупроводниками и изоляторами, нелинейные оптические материалы имеют более сложные кристаллические структуры с более низкой симметрией. Структура создает высоко анизотропную среду для света, проходящего через кристалл, и обуславливает их особые свойства. Данные кристаллы обычно нарезаются на маленькие и тонкие полоски с размерами в миллиметровом диапазоне для использования в качестве активных элементов для удвоения частоты в генераторах гармоник и оптических параметрических генераторах света. Анализ качества поверхности таких маленьких кристаллов часто может выявить структурные дефекты и трещины внутри кристалла.

Но большие элементарные ячейки этих материалов представляют собой проблему для «Omega-scan» метода. Однако нашим инженерам удалось определить необходимый параметр «Omega-scan» для наиболее важных ориентаций многих нелинейных оптических материалов, таких как LBO, BBO и TeO2.

В связи с этим в дизайн Omega/Theta дифрактометра были внесены некоторые специальные изменения, что позволило включить возможности анализа нелинейных кристаллов различных материалов в его портфолио. Теперь с использованием нашего рентгеновского дифрактометра Omega/Theta Вам предоставляется возможность анализа подобных кристаллов.

Приборы для анализа нелинейных оптических материалов:

  • Дифрактометрия одного кристалла
  • Угловое разрешение 0.1 арксекунда
  • Размер образца до 450 мм
  • Полностью автоматизированное измерение
Узнать цену