Определение фотогальваническихх характеристик фотоэлектрических солнечных элементов

 

  

Определение характеристик является важной частью исследования новых солнечных элементов и фотоэлектрических материалов. Поскольку на свойства фотоэлектрической системы можно влиять в малых масштабах, важно иметь возможность определять характеристики этих устройств локально.

В данной статье описывается использование микроманипуляторов miBot для выполнения определения типичных фотогальванических характеристик солнечных элементов. Специальное устройство для переноса лазерного света подключено к оптическому волокну над поверхностью образца, в то время как электрические зонды контактируют с устройством, причем все три используют miBots для управления перемещениями.

Первый эксперимент заключается в определении вольт-амперных характеристик образцов при приложении напряжения смещения под освещением. Эти характеристики измерили с помощью анализатора параметров полупроводников Agilent / HP 4156A.

Второй эксперимент был направлен на проверку однородности фотоэлектрических устройств путем измерения силы тока, когда лазерное пятно перемещается вдоль образца по линии.

Выполнено в сотрудничестве с L.E.S.S. SA, Lausanne, Switzerland (www.less-optics.com)

Продукты, используемые для данной задачи:

  • miBot BT-11-Р 
  • Компактный столик CB-42-P 
  • MultiBot MB-11-P 
  • syDrive SD-10 

  • Компактность: 20.5 х 20.5 х 13.6 мм, плечо: 8.3 мм (без рабочего органа)
  • 4 степени свободы - X, Y, R, Z
  • Масштабируемое разрешение позиционирования от мкм до нм
  • Мобильность – интеграция пьезоэлектрических приводов в манипулятор
  • Готовые решения для электрических или оптических микроскопов (NANO / MICRO)
  • Широкий диапазон применения: электрическое зондирование, анализ дефектов, манипулирование
Узнать цену