Определение фотогальваническихх характеристик фотоэлектрических солнечных элементов

Определение характеристик является важной частью исследования новых солнечных элементов и фотоэлектрических материалов. Поскольку на свойства фотоэлектрической системы можно влиять в малых масштабах, важно иметь возможность определять характеристики этих устройств локально.

В данной статье описывается использование микроманипуляторов miBot для выполнения определения типичных фотогальванических характеристик солнечных элементов. Специальное устройство для переноса лазерного света подключено к оптическому волокну над поверхностью образца, в то время как электрические зонды контактируют с устройством, причем все три используют miBots для управления перемещениями.

Первый эксперимент заключается в определении вольт-амперных характеристик образцов при приложении напряжения смещения под освещением. Эти характеристики измерили с помощью анализатора параметров полупроводников Agilent / HP 4156A.

Второй эксперимент был направлен на проверку однородности фотоэлектрических устройств путем измерения силы тока, когда лазерное пятно перемещается вдоль образца по линии.

Выполнено в сотрудничестве с L.E.S.S. SA, Lausanne, Switzerland (www.less-optics.com)

Продукты, используемые для данной задачи:

• miBot BT-11-Р 
• Компактный столик CB-42-P 
• MultiBot MB-11-P 
• syDrive SD-10