Исследование электронных свойств нанопроволок

 

Презентация вебинара

Профессор ван Хельворт в своей презентации рассказывает об интересе к использованию полупроводниковых нанопроволок III-V в будущих оптоэлектронных устройствах. Он подчеркивает необходимость описания электронных свойств таких нанопроволок, чтобы оптимизировать их для данных задач, и резюмирует проблемы, с которыми столкнулась его группа при достижении этой цели.

Затем он объясняет методику нанесения металла с помощью электронного луча (EBID) для контакта с нанопроволокой. Он описывает установку для зондирования, которую они построили для соединения блока источника / измерителя (SMU) (Keithley Instruments, модель 2636A) с нанозондами от Imina Technologies внутри вакуумной камеры своего электронного микроскопа (FEI Helios NanoLab 600). Он показывает преимущество метода измерения с 4-точечным датчиком по сравнению с 2-точечным датчиком, позволяющим избавиться от контактного сопротивления при проведении измерений I-V. В завершении своего выступления, приводя несколько примеров измерений и обсуждая некоторые стратегии для улучшений и будущих экспериментов.

Слова благодарности:

This presentation has been held by Prof. Ton van Helvoort at NTNU Throndheim, Norway (www.ntnu.edu) during the Imina Technologies’ webinar session that took place on September 24, 2014. The work described in this presentation is done at NTNU NanoLab and within the Nanowire Project led by Prof. Bjørn-Ove Fimland and Prof. Helge Weman at the Department of Electronics and Telecommunication.

Продукты, используемые для данной задачи:

  • miBot BT-11-VP
  • miBase BS-42-VP с комплектом SEM для Helios NanoLab 600 DualBeam

  • Компактность: 20.5 х 20.5 х 13.6 мм, плечо: 8.3 мм (без рабочего органа)
  • 4 степени свободы - X, Y, R, Z
  • Масштабируемое разрешение позиционирования от мкм до нм
  • Мобильность – интеграция пьезоэлектрических приводов в манипулятор
  • Готовые решения для электрических или оптических микроскопов (NANO / MICRO)
  • Широкий диапазон применения: электрическое зондирование, анализ дефектов, манипулирование
Узнать цену