Технология SICM, позволяющая объединить атомно-силовую микроскопию со сканирующей ион-проводящей микроскопией на одном устройстве

Технология SICM для атомно-силового микроскопа NX10 компании Park Systems позволяет применять данный микроскоп в широком диапазоне:

  • Клеточная биология
    - Получение морфологических изображений
    - Нано-биопсия
    - Инъекции
  • Аналитическая химия
    - Получение изображений протекания электрохимических реакций за счет интеграции сканирующей электрохимической микроскопии
  • Электрофизиология
    - Ионное детектирование
    - Пэтч-клемпинг
  • Изучение нейронов
    - Получение изображений высокого разрешения одного нейрона за счет интеграции пэтч-клемпинга

Узнайте цену

Технология SICM

Полностью неинвазивный метод получения изображений

Технология SICM использует нано-пипетки

В данной технологии стеклянные нано-пипетки, заполненные электролитом, действуют как ионный сенсор, который создает обратную связь в зависимости от его положения относительно образца, полностью погруженного в жидкость. Конец нанопипетки сохраняет неизменным расстояние до поверхности образца за счет поддержания постоянного значения ионного тока. Внутренний диаметр нанопипетки на ее конце составляет порядка  нм.

Безсиловое, бесконтактное получение изображений

Похожая по принципу действия сканирующей туннельной микроскопии в воздухе, SICM работает в условиях жидкости без какого-либо физического контакта с образцом. Электроды, как на нано-пипетке, так и на образце, образуют ионный ток, которые протекает через окружающий образец раствор. Датчик измеряет данный ток, значение которого уменьшается при уменьшении расстояния между образцом и пипеткой, и отслеживает расстояние между нано-пипеткой и образцом, чтобы получить информацию о топологии.

Наше специализированное программное обеспечение для автоматического получения изображения делает процесс сканирования простым и более точным

Автоматизация для легкого сканирования

Оптимизация исследований и повышение производительности за счет технологии ARS позволяет свободно регулировать параметры, поэтому Вам следует меньше беспокоиться о чем-то во время сканирования.

Устойчивый контроль расстояния между нано-пипеткой и поверхностью образца на наноуровне

За счет автоматического обновления опорного значения перед каждым новым приближением, точка остановки нано-пипетки над образцом не подвержена флуктуациям опорного значения.

Дистанционная токовая спектроскопия (I-D спектроскопия)

Получение кривой для I-D спектроскопии в методе SICM на пути подвода нано-пипетки (в вертикальном направлении) к поверхности образца является полезным для определения различных биологических и химических процессов и явлений в водной среде.

Данный подход может быть применен к специфичным и интересным областям образца, определяемым с помощью SICM. Кроме того, использование функции построения кривой для I-D спектроскопии позволяет исследователям получать данные в нескольких положениях. Таким образом, они могут продвигаться к более глубокому изучению и пониманию биологических и химических процессов и реакций.

Простая установка и управление

Возможность интеграции SICM модуля с микроскопом NX10 компании Park Systems позволяет исследователям расширить их область применений и с легкостью получать изображения наномасштабов в жидких средах.

SICM модуль

Высокоскоростной  Z-сканер

Данный сканер управляется высокосильным пьезоэлектрическим приводом и имеет диапазон перемещений 15 мкм и высокую резонансную частоту 9 кГц.

Сенсоры положения Z-сканера с низким уровнем шума

Наш детектор обладает самым низким уровнем шумов во всей смежной области АСМ и позволяет получать высокоточные изображения поверхности наномасштабов. Эта особенность дает возможность получения топографии без необходимости калибровки.

Низкий уровень ионного шума в усилителе тока

Внутренний усилитель тока обеспечивает оптимальные условия обработки сигнала для точной записи пикоамперных значений тока.

Держатель нано-пипеток для SICM головки

Наша головка SICM для микроскопа NX10 имеет простой и понятный дизайн крепления. На ней Вы с легкостью можете устанавливать или менять нано-пипетки, при этом нет необходимости в использовании дополнительного стороннего держателя. За счет установки нашего специального держателя на SICM головку поднимается специальный адаптер для нано-пипетки. Таким образом, Вы можете с легкостью устанавливать нано- и микро-пипетки без риска их повреждения. Данный дизайн также позволяет производить измерения с повышенной скоростью.

Кейс Фарадея для стабильной работы в режиме SICM

Разработанный специально для модуля SICM в АСМ NX10, кейс Фарадея эффективно защищает нанопипетки, головку и XY-сканер от электрических помех, тем самым обеспечивая более стабильные условия для проведения измерений. Прозрачная проводящая сетка блокирует электрическое поле и статическое/нестатическое электромагнитное поля с частотой 50/60 Гц, и таким образом дает возможность поддерживать стабильность окружающих условий.
В каталог