
3D сканирующий лазерный Рамановский микроскоп Confotec NR500
- Быстрый неразрушающий анализ физических и химических свойств
- Одновременный / многофункциональный анализ
- Пространственное разрешение: горизонтальное до 200 нм , осевое до 500 нм
- Широкий спектральный диапазон
- Одновременное использование до 5-ти лазеров
Производитель SOL instruments
Преимущества
Confotec NR500 – это высокопрецизионный, полностью автоматизированный 3D сканирующий лазерный конфокальный Рамановский микроскоп со спектрометром, предназначенный для быстрого неразрушающего анализа физических и химических свойств микрообъектов и наноструктур, получения информации о веществе методом оптической спектроскопии.
Одновременный / многофункциональный анализ:
Пространственное разрешение:
Широкий спектральный диапазон:
Специальный блочный монохроматор-спектрограф с уникальными характеристиками:
Возможность использования инвертированных (inverted) и прямых (up-right) микроскопов Наличие телескопа с переменным увеличением для согласования Возможность выполнения поляризационных измерений Высокая чувствительность при низкой мощности Наличие модуля отражения для одновременного получения Опция для измерений на пропускание Полностью автоматизированное управление Блочная, жесткая, стержневая конструкция обеспечивает высокую временную и температурную стабильность Отсутствие оптических волокон, ухудшающих многие оптические параметры (пропускание, волновой фронт, поляризацию) Наличие кольцевого освещения для комбинации |
Падение сигнала от 90 % до 10 % при прохождении 200 нм, λ=514 нм, иммерсионный объектив 100Х Разрешение по оси Z – 442 нм, Специальный блочный монохроматор-спектрограф Рамановский спектр кремниевой пластинки |
Применение
- Нанобиотехнологии
исследование тканей на клеточном уровне, исследование живой клетки, ДНК
- Материаловедение
анализ физической структуры и химического состава полупроводников, тонких пленок и прочих материалов и структур
- Наноматериалы
изучение физических свойств новых углеродных наноматериалов, таких как графен и нанотрубки,
определение напряжений и деформаций, оценка упорядоченности структуры.
- Минералогия
идентификация минералов, определение фазового состава и распределения по образцу;
характеризация драгоценных камней и определение включений в них
- Археология
неразрушающая идентификация материалов различных находок
- Искусство
неразрушающая идентификация пигментов, грунтовок в картинах, иконах, фресках, керамике
- Органическая химия
изучение механизмов химических реакций
- Химия полимеров
контроль технологических процессов нанесения покрытий и исследования полимерных материалов, включая тонкие пленки
- Биология
приложения многообразны, в частности исследование тканей, клеток, раковых образований, результатов применения лекарственных препаратов
- Фармацевтика
определение распределения химических соединений в таблетках, идентификация сырья для производства лекарств
- Косметология
изучение мазей, кремов, способности их проникновения в глубину кожи и других свойств
- Криминалистика
идентификация различных волокон, стекол, красок, взрывчатых, наркотических и отравляющих веществ
Технические характеристики
Пространственное разрешение
Лазер | Объектив: увеличение и числовая апертура NA |
Пространственное разрешение по XY |
Аксиальное разрешение по Z |
488 нм | 100X, NA = 0.95 | 210 нм | 455 нм |
633 нм | 100X, NA = 0.95 | 270 нм | 590 нм |
785 нм | 100X, NA = 0.95 | 335 нм | 735 нм |
Спектральный диапазон регистрации Рамановских сигналов: | 30 см-1 ~ 6000 см-1 (зависит от длины волны лазера возбуждения) |
Спектральное разрешение: | 0.25 см-1 (решётка 75 штр/мм Эшелле) |
Чувствительность: | регистрирует 4-ый порядок в Рамановском спектре кремния за 1 минуту накопления сигнала |
Режимы сканирования: |
- Fast mapping: сканирование лазерного луча по поверхности неподвижного образца с помощью XY гальваносканнера - перемещение образца с помощью XY автоматизированного стола микроскопа относительно неподвижного лазерного луча - комбинированный режим для получения панорамных изображений с высокой скоростью и высоким пространственным разрешением: XY сканнер (Fast mapping) + автоматизированный стол микроскопа |
Максимальное поле сканирования в режиме "Fast mapping": | XY 150 х 150 мкм (с объективом 100х) |
Время регистрации одного кадра 150 х 150 мкм в режиме "Fast mapping": | 3 сек. (количество точек: 1001 х 1001) |
Компьютерный контроль: | полная автоматизация |
Оптический микроскоп
*Тип, модель: | инвертированный Nikon Ti-S или прямой Nikon Ni-U |
Стол: | автоматизированный |
- диапазон перемещения | 114 х 75 мм |
- точность (1 мм перемещения) | 0.06 мкм |
- XY воспроизводимость | ± 1 мкм |
- минимальный шаг | 0.02 мкм |
Микрообъективы: | 100х NA-0.95 40х NA-0.75 20х NA-0.50 и другие |
Z-сканер: | пьезосканнер |
- диапазон перемещения объектива | 80 мкм |
- минимальный шаг | 50 нм |
- воспроизводимость | < 6 нм |
Цифровая видеокамера высокого разрешения: | цифровая цветная ПЗС-камера |
- сенсор | 1/2", 2048 x 1536 пикселей |
- АЦП | 10 бит, скорость 12 кадров/сек |
Ввод лазерного излучения: | трёхпозиционная автоматизированная турель |
* Могут быть использованы другие типы инвертированных или прямых микроскопов
Оптико-механический модуль (ОММ)
Оптика, оптимизированная для спектрального диапазона: | 325 - 1050 нм (UV-VIS-NIR) 400 - 1100 нм (VIS-NIR) |
Ввод лазерного излучения: | трёх- и пятилучевой входной порт |
Ослабитель лазерного излучения: | автоматизированный узел с нейтральным фильтром переменной плотности 0 - 3D |
Поляризатор (канал возбуждения) и анализатор (канал регистрации): |
призма Глана-Тейлора (автоматизированный узел |
Расширитель пучка лазера: | автоматизированный вариотелескоп, коэффициент увеличения 1.0 – 4.0x |
Позиционер фазовой (λ/2) пластинки: | автоматизированный трёх- / пятипозиционный |
Позиционер Рамановских фильтров: | автоматизированный трёх- / пятипозиционный |
Позиционер интерференционных фильтров: | автоматизированный шестипозиционный |
Позиционер предпинхольного объектива: | автоматизированный трёхкоординатный (X, Y, Z) |
Монохроматор-спектрограф с компенсацией астигматизма MS5004i
Оптическая схема: | вертикальная |
Фокусное расстояние: | 520 мм |
Увеличение: | 1.0 вертикальное, 1.0 горизонтальное |
Вертикальное пространственное разрешение: | < 20 мкм |
Размер плоского поля: | 28 х 5 мм |
Рассеянный свет: | 1 х 10-5 (на расстоянии 20 нм от линии лазера 633 нм) |
Узел дифракционных решёток: | автоматизированная турель на 4 решётки |
Спектральное разрешение: (длина волны 500 нм, CCD pixel 12 x 12 мкм) |
0.25 см-1 (решетка 75 штр/мм Эшелле) 0.9 см-1 (решетка 1800 штр/мм) |
Спектральные щели: | |
- входная | автоматизированный конфокальный пинхол, плавно регулируемый от 0 до 1.5 мм |
- выходная | автоматизированная,плавно регулируемая от 0 до 2 мм |
Порты: | 1 входной, 2 выходных |
Переключение выходных портов: | автоматизированное выходное зеркало |
Спектральная камера для спектрографа
Тип: | цифровая ПЗС камера |
Фотоприемник: | back-thinned ПЗС матрица 2048 х 122 пикселей |
Размер фоточувствительного элемента: | 12 x 12 мкм |
Размер фоточувствительного поля: | 24.576 x 1.464 мм (длина x высота) |
Область спектральной чувствительности: | от 200 до 1100 нм |
Охлаждение с температурной стабилизацией: | двухступенчатое элементом Пельтье до – 45 °С |
Разрядность аналого-цифрового преобразователя (АЦП) камеры: | 16 бит |
Чувствительность: | 1 фотон на 1 отсчет АЦП (на длине 650 нм) |
Динамический диапазон: | не менее 10 000 |
Модуль скоростного сканирования X, Y
Сканнеры: | гальванометрические сканнеры зеркал (X, Y) |
Режимы сканирования: | растровый скоростной и старт-стопный |
Точность позиционирования: | < 30 нм |
Сканируемая площадь: | 150 мкм х 150 мкм (с объективом 100Х) |
Скорость сканирования скоростного режима: | 3 сек/кадр 1001 х 1001 точек |
Модуль конфокального лазерного микроскопа
Позиционер предпинхольного объектива: | автоматизированный трёхкоординатный (X, Y, Z) |
Конфокальный пинхол: | автоматизированный конфокальный пинхол, плавно регулируемый от 0 до 1.5 мм |
Детектор: | Hamamatsu Photosensor module H6780-01 |
Лазеры
Тип лазера: | Одновременное использование до 5-ти лазеров | |
Длина волны, нм | Мощность, мВт | |
Гелий-кадмиевый (Single Mode (TEM00) He-Cd): | 325 | 15, 30, 40, 50 |
Твердотельный с диодной накачкой (DPSS): | 473 | 25, 50 |
Твердотельный с диодной накачкой (DPSS): | 532 | 25, 50 |
He - Ne лазер: | 633 | 10 |
Твердотельный с диодной накачкой (DPSS): | 785 | 80 |
Возможно применения лазеров других типов с длиной волны от 350 до 850 нм |