Высокоточный микроскоп Confotec MR200

  • Микроскоп: прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов
  • Спектрометр: 400-1100 нм
  • Конфокальный пинхол: 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм
  • Лазеры: 405, 488, 532, 633 и 785 нм
  • Автокалибровка и валидание: встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора

Производитель SOL instruments

Узнайте цену

Описание

Confotec® MR200 — это высокоточный конфокальный 3D сканирующий Рамановский (КР) микроскоп для неразрушающего анализа веществ и материалов, изучения их химических и физических свойств. В нем объединены ультрасовременные достижения оптоэлектроники и 25-летний опыт компании в области спектрального и лазерного приборостроения.

Наличие Эшелле решетки позволяет использовать прибор для задач, требующих высокого спектрального разрешения, например для изучения стресса в полупроводниках.

Высокочувствительный малошумящий детектор с низкотемпературным охлаждением, а также спектрометр с высоким пропусканием позволяют выполнять измерения действительно быстро и с высокой достоверностью (высоким отношением сигнал/шум).высокоточный конфокальный сканирующий микроскоп

Преимущества

  • Высочайшую чувствительность;
  • Полностью автоматизированное управление всеми узлами и устройствами прибора;
  • Высокое спектральное разрешение, обычно свойственное большим и дорогим приборам;
  • Максимальное пространственное разрешение, благодаря использованию вариотелескопа, меняющего диаметр лазерных пучков в зависимости от параметров объектива микроскопа;
  • Долговременную надежность и стабильность в работе, без необходимости подстройки прибора;
  • Возможность оснащения системой автофокуса для полной автоматизации измерений.

Общие характеристики системы

Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов.
Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах:
532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1
633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1
785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1
Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.**
Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки.
Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм.
Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С.
Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм).
Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм.
Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***.
Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами.
Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора.
Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца.
Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов.

* Опционально микроскоп может быть оснащен окулярами, осветителем для работы в проходящем свете, эпифлуоресцентной приставкой, а также защитным кожухом для обеспечения лазерной безопасности требованиям Класс-1.
** Опционально спектрометр может оснащаться оптикой для работы с УФ лазерами.
*** Возможна установка Notch фильтров для работы в Стоксовой и анти-Стоксовой области одновременно.
**** Установка лазеров с другой длиной волн, в том числе УФ, возможна опционально.

В каталог