Nanofinder S - 3D сканирующий конфокальный микроскоп со спектрометром

3D сканирующий конфокальный микроскоп со спектрометром "Nanofinder S" - это универсальный комплекс, позволяющий проводить многофункциональный анализ микроструктур в 3-х измерениях. Он отлично сочетает в себе передовые доситижения традиционной оптической высокоразрешающей микроскопии и лазерной сканирующей конфокальной спектроскопии. Сердцем комплекса является конфокальный микроскоп, сопряженный со спектральной системой, позволяющей получать трехмерное изображение с пространственным разрешением 200 нм.

СНЯТ С ПРОИЗВОДСТВА. Актуальная модификация: Рамановские конфокальные микроскопы серии Confotec.

Описание

3D сканирующий конфокальный микроскоп со спектрометром "Nanofinder S" незаменим для исследований в нанобиотехнологиях, при комплексном анализе таких объектов как полупроводники, жидкие кристаллы, оптические световоды, полимеры, фармацевтические и биологические вещества, одиночные молекулы и наночастицы.

Достоинствами системы "Nanofinder S", делающими ее гибкой и способной решать разнообразные задачи, являются: модульная структура комплекса, возможность выбора различных лазеров, использование автоматизированных трехпозиционных узлов для работы с тремя лазерами, быстрое определение пространственного распределения материала с одновременным построением изображения с помощью лазерного / Рамановского конфокального микроскопа и др.

Особенности

  • Высокое пространственное разрешение: 200 нм (оси X-Y); 500 нм (ось Z)
  • Быстрый анализ в режиме построения изображения: 4 мксек на одну точку
  • Измерение рамановского сдвига коротких длин волн:80 см-1 (633 нм); 90 см-1 (488 нм)
  • Модульная структура, возможность усовершенствования
  • Высокая температурная и механическая стабильность
  • Поляризационные измерения
  • Полная автоматизация
  • Высокое спектральное разрешение: 0,008 нм (с Эшелле-решеткой, длина волны 500 нм); 0,025 нм (с решеткой 1200 штр/мм)
  • Высокоэффективный спектрограф с компенсацией астигматизма (Imaging)
  • Длины волн лазерного возбуждения: 350 - 850 нм (одновременно может использоваться до 3 лазеров с автоматическим переключением)
  • Низкая мощность возбуждения (от мкВт до мВт): неразрушающий анализ
  • Оптика, оптимизированная для Ваших задач: VIS 390 - 800 нм или 442 - 900 нм; NIR 600 - 1000 нм

Технические характеристики

МИКРОСКОП (ПРЯМОЙ ТИП) *

Модель: Micro 200T
Режимы наблюдения: проходящий свет;
отраженный свет (светлое и темное поле);
поляризационный контраст;
дифференциальный интерференционный контраст
Объективы: Plan Apo BD 5x/0,15; 10x/0,3; 20x/0,45; 50x/0,8; 100x/0,9
Окуляры: 10x; 12,5x; 15x
Перемещение столика по осям X-Y: 200 x 200 мм
Перемещение столика по оси Z: 21 мм
Шаг перемещения столика: 50 нм (сканирование по оси Z)
Чувствительность фокусирующего механизма: 0,05 мм/оборот (ручная фокусировка)

МИКРОСКОП (ИНВЕРТИРОВАННЫЙ ТИП) *

Модель: Nikon TE2000
Режимы наблюдения: проходящий свет;
отраженный свет (светлое и темное поле);
поляризационный контраст;
дифференциальный интерференционный контраст
фазовый контраст;
модуляционный контраст Хофмана
Объективы: CFL Plan Flour 4x; 10x; 20x; 40x; 60x;
CF Epi Plan Apo 100x и др.
Окуляры: 10x; 12,5x; 15x
Перемещение столика по осям X-Y: 70 x 70 мм
Перемещение столика по оси Z: 10 мм
Шаг перемещения объектива с помощью Z-сканера: 0,13 нм
Чувствительность фокусирующего механизма: 0,1 мм/оборот (ручная фокусировка)

* В системе предусмотрена возможность использования других моделей прямых и инвертированных микроскопов различных фирм-производителей.

ПЗС-КАМЕРА для МИКРОСКОПА

Тип: цифровая цветная ПЗС-камера
Сенсор: 2/3", 1384x1032 пикселей
Охлаждение: без охлаждения или Пельтье-охлаждение
АЦП: скорость 9 кадров/сек, 12 бит

МОДУЛЬ КОНФОКАЛЬНОГО ЛАЗЕРНОГО МИКРОСКОПА

Ослабитель лазерного пучка: нейтральный фильтр с изменяемой плотностью (VND)
Позиционер объектива: трехкоординатный (X, Y, Z)
Регулируемая щель: изменяемая от 0 до 1,5 мм с шагом 0,5 мкм
Детектор: ФЭУ

ОПТИКО-МЕХАНИЧЕСКИЙ МОДУЛЬ (ОММ)

Оптимизированная оптика для спектрального диапазона: видимый (VIS): 390 - 800 нм или 442 - 900 нм;
ближний ИК (NIR): 600 - 1000 нм
Ввод лазерного излучения: одно-, двух-, трехлучевой входной порт
Поляризаторы (каналы возбуждения и регистрации): призма Глан-Тейлора, 390 - 1000 нм
Позиционер полуволновой пластинки: трезпозиционный
Расширитель пучка лазера: коэффициент увеличения 1,78 - 7,19
Позиционер дихроичных зеркал: трезпозиционный
Позиционер интерференционных фильтров: шестипозиционный
Позиционер объектива: трехкоординатный (X, Y, Z)
Регулируемая щель: изменяемая от 0 до 1,5 мм с шагом 0,5 мкм
Ослабитель лазерного пучка: нейтральный фильтр с изменяемой плотностью (VND)
Узел сопряжения ОММ с микроскопом: однопозиционный узел; трехпозиционный переключатель

МОДУЛЬ ОПОРНОГО КАНАЛА

Ослабитель лазерного пучка: нейтральный фильтр с изменяемой плотностью (VND)
Детектор: ФЭУ

МОДУЛЬ СКАНИРОВАНИЯ

Метод сканирования: гальванометрические сканеры зеркал (X-Y)
Скорость сканирования: 1 сек (512 x 512)

МОНОХРОМАТОР-СПЕКТРОГРАФ С КОМПЕНСАЦИЕЙ АСТИГМАТИЗМА MS5004iПЗС-КАМЕРА ДЛЯ СПЕКТРОГРАФА

Оптическая схема: вертикальная
Фокусное расстояние: 520 мм
Порты: 1 входной, 2 выходных
Фокальная плоскость: 28 x 10 мм
Узел дифракционных решеток: турель на 4 решетки
Спектральное разрешение: 0,008 нм (Эшелле-решетка, длина волны 500 нм);
0,025 нм (решетка 1200 штр/мм)
Астигматизм: < 8 мкм
Спектральная щель: ширина - 0-2,0 мм, единичный шаг 0,5 мкм

ЛАЗЕРЫ

Ar, HeCd, HeNe (возможны лазеры других типов) с длиной волны от 350 нм до 850 нм.