Система картографирования для конфокальной рамановской микроскопии и плазмонной микроскопии темного поля FEX
- Доступно до трех длин волн возбуждения
- Пространственное разрешение по XY < 1 мкм, по глубине < 2 мкм
- Полностью моторизированная система
- FEX модуль может быть интегрирован с большинством прямых и инвертированных микроскопов (Olympus, Nikon, Leica, Carl Zeiss и т.п.).
- Имеется возможность интеграции для различных типов микроскопии: флуоресцентная, темного поля и микроскопия Номарского (дифференциальная интерференционно-контрастная (DIC imaging))
Производитель NOST
Описание
Характеристики
Материалы
Программное обеспечение
Отличительные особенности
Спектрограф со скорректированными аберрациями
- Ассиметричная оптическая схема Черни-Тернера с дифракционной оптикой
- Превосходная коррекция аберраций по всем пикселям ПЗС-массива
- СКО радиуса получаемой точки на ПЗС < 10 мкм - Улучшенное пропускание и разрешение по сравнению с классической схемой Черни-Тернера
- Наилучшая производительность для исследований с низким уровнем света, таких как рамановская спектроскопия
Моторизированный пинхол
- Для оптимизации конфокальности пинхол высокоточно управляется с микронным разрешением
- Один оптимизированный дифракционный диск Эйри с непрерывно изменяемым конфокальным пинхолом – улучшает пространственное разрешение по XY, а также вдоль оси Z
- Регулируемая ширина пинхола в диапазоне 30 – 500 мкм с шагом 10 мкм
Быстрое картографирование
- Данная функция обеспечивает ряд преимуществ для пользователя
- Возможность задачи времени считывания вплоть до 10 мс на один спектр
- В зависимости от модели ПЗС возможно более короткое время
Широкий диапазон сканирования
- Отсутствие ограничений по области картографирования, создаваемой полем зрения объектива
- Мкм пространственное разрешение вне зависимости от области сканирования: анализ как микро-, так и макробластей
- Максимальный диапазон сканирования 75 × 50 м
- В зависимости от модели предметного столика
Сменяемая дифракционная решетка – высокая точность
- Автоматическая калибровка сменяемой решетки программным обеспечением
- Время замены турели с решеткой составляет менее 1 минуты
- Отсутствует необходимость дополнительной подстройки во время смены решетки
- Количество используемых решеток неограниченно
На рисунках ниже приведены примеры измерений с помощью спектрографа, использующегося в FEX:
- Решетка 1200 штр/мм: измерение линий неона по эталонной калибровочной лампе
- FEX имеет относительно высокое СКЗ ошибки калибровки по сравнению со стандартными спектрографами, выполненными по оптической схеме Черни-Тернера (средняя ошибка < 0.2 нм)
Диапазон: 580 – 660 нм
Диапазон: 820 – 900 нм
Технические характеристики
| Лазерный модуль | |
| Несколько длин волн возбуждения | 325 нм, 488 нм, 514.5 нм, 532 нм, 633 нм, 785 нм |
| Контроль мощности | 11-шаговый моторизированный контроллер с нейтральными фильтрами |
| Выбор лазерного фильтра | Трехпозиционный моторизированный селектор |
| Спектрограф | |
| Особенности | Коррекция аберраций для высокого пропускания Осевая заменяемая турель с решетками |
| Спектральное разрешение (лазер 532 нм) | 1.5 см-1 на ПЗС для решетки 1800 штр/мм 2.3 см-1 на ПЗС для решетки 1200 штр/мм |
| Модуль PRISM | |
| Объектив | 20Х: планахромат, NA = 0.4, WD = 1.2 мм 100Х: планахромат, NA = 0.9, WD = 0.15 мм Пространственное разрешение: < 1 мкм |
| Конфокальная щель | Один оптимизированный дифракционный диск Эйри с непрерывно изменяемой конфокальной щелью – улучшает пространственное разрешение по XY, а также вдоль оси Z |
| Отображение | Белый источник света с подсветкой тип Koehler КМОП камера на 3 Мп |
| Охлаждаемая ПЗС | |
| Размер пикселя | 26 × 26 мкм |
| Количество пикселей | 1024 × 127 |
| Тип | С задней или передней подсветкой |
| Моторизированный предметный столик | |
| Диапазон перемещений по XY | 76 × 50 мм |
| Разрешение перемещения | XY: 50 нм, Z: 2 нм |
| Скорость картографирования | 50 × 50 пикселей менее чем за 1 минуту (при экспозиции 10 мс) |
| Соединение с ПК | USB интерфейс (некоторые аксессуары требуют дополнительные USB или RS232 порты) |
| Волоконный порт | Опционально: для ввода излучения от внешнего лазера |
| Габаритные размеры | 480 × 470 × 160 мм |
Доступные модели
Для прямых микроскопов
- Микроскоп: Olympus BX53
- Применения:
- Конфокальное рамановское и высокоскоростное картографирование
- LSPR (локализованный поверхностный плазмонный резонанс), LSPR картографирование (для наночастиц)
- Флуоресцентные измерения
Для инвертированных микроскопов
- Микроскоп: Olympus IX73
- Применения:
- Конфокальное рамановское и высокоскоростное картографирование
- LSPR (локализованный поверхностный плазмонный резонанс), LSPR картографирование (для наночастиц)
- Флуоресцентные измерения
Аксессуары
Предметный столик с контролем температуры
- Диапазон температур: -196°C … +420°C
- Область для образца: 53.5 × 43 мм
Оптический криостат
- Диапазон температур: -268.95°C … +76,85°C
