Системы параметрического тестирования полупроводников Primarius

Системы параметрического тестирования полупроводников в основном используются для измерения параметров и мониторинга полупроводниковых приборов и являются важным инструментом, помогающим оптимизировать производство и проектирование микросхем. Производители микросхем используют параметрическое тестирование для оценки и оптимизации производственных процессов, улучшения характеристик полупроводниковых приборов и обеспечения стабильности и надежности продукции. При проектировании микросхем параметрическое тестирование может помочь разработчикам понять и проверить диапазон параметров и характеристики полупроводниковых приборов, оценить преимущества и недостатки различных вариантов конструкции и оптимизировать конструкцию схемы для достижения оптимальной производительности.