Рентгеновские дифрактометры для измерения слитков, булей и панелей серии XRD-OEM

Рентгеновские дифрактометры для измерения слитков, булей и панелей серии XRD-OEM

  • Интеграция в любую систему автоматизации или обработки
  • Разработаны для работы в жестких условиях (распиловка, шлифовка)
  • Независимое измерение ориентации
  • Измерение на плоских поверхностях или окружностях
  • Обнаружение оптических насечек
  • Измеряемые материалы: Si, SiC, GaAs и другие
  • Размер образцов: слитки/були диаметром до 450 мм

Производитель Freiberg Instruments

Особенности

Дифрактометры данной серии представляют собой кастомизируемые решения, которые могут быть встроены непосредственно в линию производства для решения конкретно Ваших специфических задач, которые не могут быть охвачены стандартными решениями. XRD-OEM представляют собой полностью автоматизированные системы для измерения слитков, булей и панелей.

  • Готовность для интеграции в любую систему автоматизации или обработки
  • Разработаны для работы в жестких условиях (распиловка, шлифовка)
  • Компактные размеры, стандартный для промышленности интерфейс подключения
  • Независимое измерение ориентации
  • Измерение на плоских поверхностях или окружностях
  • Обнаружение оптических насечек
  • Измеряемые материалы: Si, SiC, GaAs и другие
  • Размер образцов: слитки/були диаметром до 450 мм
  • Охлаждение: воздушное, низкий уровень шума

Области применения

Анализ ориентации кремниевых слитков:

  • Определение горизонтального положения и насечки перед шлифовкой
  • Диаметр слитков до 200 мм
  • Длина слитков до 400 мм
Другие приборы раздела «Рентгеновские дифрактометры»Все приборы раздела
  • Определение типов ориентации: AT, SC, IT, TF, X, Y, Z.
  • Скорость измерения 2 сек
  • Высокая точность ориентации: СКО ≤ 10 арксекунд
  • Высокое пространственное разрешение: 1 ± 0.1 мм
  • Определение ориентационного наклона относительно образца
  • Автоматическое отображение угловых компонентов
  • Сверхбыстрое измерение ориентации кристаллов
  • Высокая точность анализа (до 0.01°)
  • Измерение мелких образцов размерами от 1 мм
  • Полное ручное управление
  • Воздушное охлаждение рентгеновской трубки (вода не требуется)
  • Полная ориентации решетки единичных кристаллов
  • Высокая точность анализа (до 0.01°)
  • Контроль резания, шлифования и притирки
  • Применим для подложек от 50 мм до 300 мм и слитков весом до 20 кг
  • Воздушное охлаждение рентгеновской трубки (вода не требуется)
  • Дифрактометрия одного кристалла
  • Угловое разрешение 0.1 арксекунда
  • Размер образца до 450 мм
  • Полностью автоматизированное измерение