Компактные спектрометры для анализа больших и удаленных источников серии ULTRABRIGHT

Компактные спектрометры для анализа больших и удаленных источников серии ULTRABRIGHT

  • Очень высокая пропускная способность
  • Спектральное разрешение до 0.5 нм на 532 нм
  • Скорость сбора и обработки данных до 10 Гц
  • Типовое поле зрения более 1°

Производитель LightMachinery

Особенности

Спектрометры UltraBright от LightMachinery не имеют в своем составе никакой спектральной щели – только большое входное отверстие и большое поле зрения. Эти спектрометры идеальны, когда вы смотрите на протяженный или удаленный источник (а не на пятно размером 10 микрон). Теперь вы можете собрать много света и не беспокоиться о том, как заставить его пройти через маленькую спектральную щель.

Простое программное обеспечение SpectraLoK позволяет просматривать спектры в реальном времени и сохранять или экспортировать их для дальнейшего анализа.

В таблице с характеристиками перечислены типовые модели разных диапазонов длин волн и разрешения, но многие варианты с большим или меньшим диапазоном и разрешением также доступны – просто дайте нам знать, что вам нужно, мы будем рады помочь.

Отличительные особенности

  • Очень высокая пропускная способность
  • Спектральное разрешение до 0.5 нм на 532 нм
  • Скорость сбора и обработки данных до 10 Гц
  • Типовое поле зрения более 1°

Технические характеристики

Модель Класс Рабочий диапазон Спектральное разрешение
UB-10559 UV (LIBS) 220 – 340 нм 0.3 нм
UB-10979 VIS 400 – 590 нм 0.3 нм
UB-11840 VIS 430 – 630 нм 1.0 нм
UB-11063 VIS 532 – 600 нм 0.1 нм
UB-10849 VIS 590 – 750 нм 0.5 нм
UB-11004 VIS/IR 750 – 1000 нм 0.5 нм
UB-××××× UV- VIS-IR Кастомизация под ваши требования
Другие приборы раздела «Спектрометры LightMachinery с пм разрешением»Все приборы раздела
  • Настройка и юстировка контролируются компьютером
  • Высокая пропускная способность, обеспечивающая быстрый сбор данных
  • Контраст 80 дБ и сильное подавление излучения накачки
  • Спектральное разрешение 1.5 пм
  • Спектральный диапазон 531 - 782 нм
  • Определение характеристик источников высокой интенсивности, таких как лазеры
  • Отсутствие движущихся частей
  • Субпикометровое разрешение
  • Волоконный ввод излучения
  • Драйверы LabView для интеграции
  • Измерение мелких деталей в плазме
  • Определение характеристик импульсного лазера
  • Измерении небольших спектральных сдвигов от бриллюэновского или комбинационного рассеяния
  • Отсутствие движущихся частей
  • Субпикометровое разрешение
  • Волоконный ввод излучения
  • Драйверы LabView для интеграции