Лазерный атомно-эмиссионный спектрометр LEA-S500

  • Лазерный атомно-эмиссионный спектрометр
  • Позволяет анализировать состав различных твердых и порошкообразных материалов
  • Диапазон длин волн: 190 – 800 нм
  • Фокусное расстояние: 500 мм
  • Дисперсия: 1.0 нм/мм, 0.7 нм/мм, 0.5 нм/мм (в зависимости от дифракционной решетки)

Производитель SOL instruments

Описание

Анализатор элементного состава LEA-S500 – это современный мощный атомно-эмиссионный спектральный прибор с многоканальной регистрацией спектра, который позволяет определить элементный (оксидный) состав пробы за считанные минуты. Определяемые элементы от H до U, диапазон измерения от 0.01 ррм до 100%.

  • Масса вещества необходимого для анализа — от 50 нанограмм.
  • Время выполнения многоэлементного анализа с учетом времени пробоподготовки 1-15 минут.
  • Время выполнения 400 анализов по определению однородности материала — около 7 минут.
  • Интуитивно понятное программное обеспечение ATILLA 2 гарантирует полноценное использование прибора с первого дня эксплуатации.
  • Для освоения базовых функций требуется несколько часов и минимум специальных знаний.

Двухимпульсный наносекундный лазерный источник возбуждения спектров, благодаря высокой энергетической, пространственной и временной стабильности, обеспечивает максимальную воспроизводимость результатов анализа и низкие пределы обнаружения химических элементов и соединений. Реализуются как дуговой, так и искровой режимы возбуждения спектров. Оригинальный светосильный безабберационный спектрограф с высоким спектральным разрешением обеспечивает получение высококачественных линейчатых спектров излучения. Уникальная система регистрации кратковременных импульсных световых сигналов позволяет достичь рекордно низких пределов обнаружения элементов и линейности концентрационных зависимостей в широком диапазоне, гарантирует точные и достоверные измерения.

Лазерный источник возбуждения спeктров и система регистрации анализатора LEA-S500

Источник возбуждения спeктров — специальный двухимпульсный Nd:YAG лазер с модулированной добротностью

В анализаторе элементного состава LEA-S500 источником света для получения атомно-эмиссионного спектра служит плазма вещества анализируемой пробы, образующаяся в результате воздействия на вещество мощных световых импульсов.

Установлено, что воздействие на пробу двух последовательных лазерных импульсов (с задержкой по времени, не превышающей время жизни плазмы) обеспечивает существенный рост интенсивности и стабильности интенсивности спектральных линий по сравнению с одноимпульсным режимом возбуждения. Получаемый эффект снижает предел обнаружения элементов, повышает точность измерений и расширяет аналитические возможности прибора за счет появления дополнительных линий с высокой энергией возбуждения.

Оригинальный спектрограф с фокусным расстоянием 520 мм с вертикальной симметричной светосильной безабберационной схемой обеспечивает получение высококачественных линейчатых спектров излучения для последующей их аналитической обработки.

Уникальная система регистрации кратковременных импульсных световых сигналов

Использование в спектральных приборах в качестве системы регистрации цифровых камер с многоэлементными приемниками излучения обусловлено целым рядом преимуществ перед традиционными системами регистрации.

Главные из них: возможность одновременной регистрации широкой области спектра; высокое быстродействие, обеспечивающее регистрацию спектров, возбужденных частотными импульсными источниками, что позволяет осуществлять большое количество измерений за единицу времени (в нашем случае 20 раз в секунду); широкая область спектральной чувствительности; низкие собственные темновые сигналы (шумы); широкий динамический диапазон.

В качестве приемника излучения в анализаторе элементного состава LEA-S500 применяется многоэлементная система регистрации спектра (цифровая камера 16 бит, c 2048 светочувствительными элементами) с высокой квантовой эффективностью в интервале волн 170-800 нм, высокой чувствительностью (до 1 ppb) и большим динамическим диапазоном — около 12000.

Наши технические решения гарантируют:

  • Правильность и высокую прецизионность определения элементов и их соединений (оксидов) в пробах.
  • Низкий предел обнаружения элементов (от 0.01 ppm до 1 ppb).
  • Анализ состава любых как токопроводящих, так и нетокопроводящих твердых (монолитных и порошковых) проб.
  • Применение в методических разработках аналитических линий с наилучшей концентрационной чувствительностью, свободных от взаимных спектральных наложений.
  • Максимальную эффективность использования аналитического светового сигнала.
  • Удобство и полную безопасность при работе и обслуживании прибора.
  • Защиту персонала от воздействия вредных факторов.

Условия эксплуатации анализатора элементного состава LEA-S500

Конструкция анализатора элементного состава LEA-S500 обеспечивает полную и надежную защиту обслуживающего персонала от воздействия вредных производственных и физически опасных факторов во время проведения работ.

Анализатор предназначен для эксплуатации в помещениях при температуре воздуха от +15 до +27 ˚С и относительной влажности воздуха не более 80 % при 25 °С, конденсация влаги не допускается. Суточный перепад температур в помещении — не более 3 °С; предельные допустимые колебания температуры в течение 2 часов — не более 2°С.

Не допускается наличие в воздухе рабочей зоны агрессивных сред и токопроводящей и мелкодисперсной пыли.

Питание — от сети переменного тока напряжением (220±22) В, частотой (50±1) или (60±1) Гц.

Площадь производственного помещения, в котором эксплуатируется анализатор, должна быть не менее 15 м².

При эксплуатации анализатора должны быть соблюдены следующие нормативы свободного пространства:

  • с задней и боковой сторон — не менее 1 метра;
  • с лицевой стороны — не менее 2 метров.

Защитное заземление прибора должно быть выполнено в соответствии с ГОСТ 12.1.030-81, ГОСТ Р 50571.10-96.

Оптическая система

Фокусное расстояние, мм: 500 500 500
Дифракционная решетка, штрихов/мм: 1800 2400 3600
Диапазон длин волн, нм: 190-800 190-600 190-400
Дисперсия, нм/мм: 1.0 0.7 0.5
Спектральное разрешение, нм: 0.028 0.020 0.014

* Примечание: В приборе устанавливается любая из дифракционных решёток в зависимости от типа материалов, в анализе которых заинтересован заказчик.

Камера образцов

  • Размеры проб (без адаптеров): 12x12x2 мм (мин.), 75х75х40 мм (макс.)
  • Возможность перемещения образца вдоль осей Х-Y: +/-5 мм с шагом 0.001 мм (для усреднения результатов измерения и микроспектрального анализа)
  • Размер анализируемой зоны: диа. 0.03 - 1.7 мм
  • Рабочая среда: воздух
  • Откачка воздуха: при необходимости
  • Адаптеры: для проволоки, фольги и образцов малого размера

Источник возбуждения

  • Специальный Nd:YAG лазер с модуляцией добротности
  • Средняя энергия в импульсе: 100 мДж
  • Нестабильность энергии импульсов: не более +/-3% из 99% импульсов

Регистрация спектра

  • Линейная ПЗС-камера, 14 bit, USB-интерфейс, 2048 светочувствительных элементов (возможны другие типы детекторов)
  • Регистрация полного спектра (панорамная)

Минимальные требования к компьютеру

  • ОС: Win 9x/2000/XP
  • Процессор: P-III/800 МГц или аналогичный
  • Объем оперативной памяти: 256 Мб
  • Видеокарта: RAM 16 Мб, наличие Video In
  • Разрешение монитора: не менее 1024x768
  • 50 Мб свободного дискового пространства

Программное обеспечение для Win9x/2000/XP

  • Автокалибровка длин волн
  • Индикация отклонения от указанного типа материала
  • Контроль неучтенных примесей
  • Метрологическая оценка результатов анализа
  • Графическое представление аналитического сигнала
  • Базы данных: спектральных линий, стандартных образцов, типов материалов
  • Распечатка и математическая обработка результатов анализа

Аналитические программы

  • Аналитические программы (методология) для анализов химического состава:
    - сплавов на основе алюминия, никеля, меди, титана и др.
    - различных типов сталей и чугунов
    - токопроводящих и нетокопроводящих материалов (пластмасса, керамика, стекло, хрусталь и др.)
  • Качественный, полуколичественный и количественный анализ различных материалов
  • Автоматическое определение типа материала или базового элемента

Время анализа

  • От 10 сек до 3 мин в одной точке (в зависимости от количества определяемых элементов)

Энергетические параметры

  • 230 В, 50/60 Гц
  • 900 Вт во время измерений, 100 Вт в дежурном режиме

Габаритные размеры

  • ДxШxВ: 550 x 750 x 1100 мм
  • Масса: 120 кг
Похожее оборудованиеВ каталог
  • Длина волны возбуждения лазера 532 нм или 785 нм
  • Мощность лазера 42 мВт или 455 мВт
  • Спектр. диапазон / разрешение:
    65 – 4200 см-1 / 4,5 см-1 на 614 нм
    65 – 3400 см-1 / 3,5 см-1 на 614 нм
    65 – 3350 см-1 / 4,5 см-1 на 912 нм
    65 – 2800 см-1 / 3,5 см-1 на 912 нм
  • ПЗС-линейка с охлаждением до -2 ˚С с высокой квантовой эффективностью
  • Длина волны возбуждения: 1000 – 1100 нм
  • Рабочий диапазон: 180 – 800 нм
  • Анализ жидкообразных продуктов
  • Анализ инъекционных растворов
  • Контроль внутривенных препаратов / растворов для диализа
  • Длина волны возбуждения 1064 нм
  • Быстрота анализа (1 – 2 секунды)
  • Растеризация лазерного луча
  • Высокая точность измерений
  • Кастомизация под конкретные задачи пользователя