Лазерный атомно-эмиссионный спектрометр LEA-S500

  • Лазерный атомно-эмиссионный спектрометр
  • Позволяет анализировать состав различных твердых и порошкообразных материалов
  • Диапазон длин волн: 190 – 800 нм
  • Фокусное расстояние: 500 мм
  • Дисперсия: 1.0 нм/мм, 0.7 нм/мм, 0.5 нм/мм (в зависимости от дифракционной решетки)

Производитель SOL instruments

Описание

Лазерный атомно-эмиссионный спектрометр LEA-S500 с широкими аналитическими возможностями. В лазерном атомно-эмиссионном спектрометре объединены новейшие достижения спектроскопии, лазерной техники и аналитического программного обеспечения. Полностью автоматизированный прибор, позволяющий анализировать состав различных твердых и порошкообразных материалов в:

  • металлы и cплавы
  • керамика
  • стекло
  • пластмассы
  • примеси в чистых материалах
  • прессованные порошки

Применение лазера специальной конструкции в качестве источника возбуждения спектров позволяет:

  • обеспечить анализ токопроводящих и нетокопроводящих материалов;
  • значительно ослабить межэлементные влияния, что даёт возможность построить общую калибровочную кривую для большого диапазона концентраций;
  • исключить предварительную подготовку поверхности пробы;
  • обеспечить возможность выполнения анализа состава и толщины покрытий, послойный анализ, анализ тонких пленок, анализ состава включений, структурных составляющих.

Использование спектрографа с высокой разрешающей способностью обеспечивает получение высококачественного плоского оптического поля, свободного от аберраций.

Применение многоэлементной системы регистрации спектра (ПЗС-камера с 2048 светочувствительными элементами) обеспечивает высокую скорость получения информации.

Тройная (механическая, электронная и программная) защита от воздействия лазерного излучения обеспечивает полную безопасность при эксплуатации LEA-S500.

Применение

  • Черная и цветная металлургия
  • Машиностроение
  • Строительные материалы
  • Добыча и переработка сырья
  • Геологическая промышленность
  • Полупроводниковая промышленность
  • Материаловедение
  • Научные исследования в институтах и учебных лабораториях
  • Криминалистика
  • Стекольная промышленность

Оптическая система

Фокусное расстояние, мм: 500 500 500
Дифракционная решетка, штрихов/мм: 1800 2400 3600
Диапазон длин волн, нм: 190-800 190-600 190-400
Дисперсия, нм/мм: 1.0 0.7 0.5
Спектральное разрешение, нм: 0.028 0.020 0.014

* Примечание: В приборе устанавливается любая из дифракционных решёток в зависимости от типа материалов, в анализе которых заинтересован заказчик.

Камера образцов

  • Размеры проб (без адаптеров): 12x12x2 мм (мин.), 75х75х40 мм (макс.)
  • Возможность перемещения образца вдоль осей Х-Y: +/-5 мм с шагом 0.001 мм (для усреднения результатов измерения и микроспектрального анализа)
  • Размер анализируемой зоны: диа. 0.03 - 1.7 мм
  • Рабочая среда: воздух
  • Откачка воздуха: при необходимости
  • Адаптеры: для проволоки, фольги и образцов малого размера

Источник возбуждения

  • Специальный Nd:YAG лазер с модуляцией добротности
  • Средняя энергия в импульсе: 100 мДж
  • Нестабильность энергии импульсов: не более +/-3% из 99% импульсов

Регистрация спектра

  • Линейная ПЗС-камера, 14 bit, USB-интерфейс, 2048 светочувствительных элементов (возможны другие типы детекторов)
  • Регистрация полного спектра (панорамная)

Минимальные требования к компьютеру

  • ОС: Win 9x/2000/XP
  • Процессор: P-III/800 МГц или аналогичный
  • Объем оперативной памяти: 256 Мб
  • Видеокарта: RAM 16 Мб, наличие Video In
  • Разрешение монитора: не менее 1024x768
  • 50 Мб свободного дискового пространства

Программное обеспечение для Win9x/2000/XP

  • Автокалибровка длин волн
  • Индикация отклонения от указанного типа материала
  • Контроль неучтенных примесей
  • Метрологическая оценка результатов анализа
  • Графическое представление аналитического сигнала
  • Базы данных: спектральных линий, стандартных образцов, типов материалов
  • Распечатка и математическая обработка результатов анализа

Аналитические программы

  • Аналитические программы (методология) для анализов химического состава:
    - сплавов на основе алюминия, никеля, меди, титана и др.
    - различных типов сталей и чугунов
    - токопроводящих и нетокопроводящих материалов (пластмасса, керамика, стекло, хрусталь и др.)
  • Качественный, полуколичественный и количественный анализ различных материалов
  • Автоматическое определение типа материала или базового элемента

Время анализа

  • От 10 сек до 3 мин в одной точке (в зависимости от количества определяемых элементов)

Энергетические параметры

  • 230 В, 50/60 Гц
  • 900 Вт во время измерений, 100 Вт в дежурном режиме

Габаритные размеры

  • ДxШxВ: 550 x 750 x 1100 мм
  • Масса: 120 кг