
Лазерный атомно-эмиссионный спектрометр LEA-S500
- Лазерный атомно-эмиссионный спектрометр
- Позволяет анализировать состав различных твердых и порошкообразных материалов
- Диапазон длин волн: 190 – 800 нм
- Фокусное расстояние: 500 мм
- Дисперсия: 1.0 нм/мм, 0.7 нм/мм, 0.5 нм/мм (в зависимости от дифракционной решетки)
Производитель SOL instruments
Описание
Анализатор элементного состава LEA-S500 – это современный мощный атомно-эмиссионный спектральный прибор с многоканальной регистрацией спектра, который позволяет определить элементный (оксидный) состав пробы за считанные минуты. Определяемые элементы от H до U, диапазон измерения от 0.01 ррм до 100%.
- Масса вещества необходимого для анализа — от 50 нанограмм.
- Время выполнения многоэлементного анализа с учетом времени пробоподготовки 1-15 минут.
- Время выполнения 400 анализов по определению однородности материала — около 7 минут.
- Интуитивно понятное программное обеспечение ATILLA 2 гарантирует полноценное использование прибора с первого дня эксплуатации.
- Для освоения базовых функций требуется несколько часов и минимум специальных знаний.
Двухимпульсный наносекундный лазерный источник возбуждения спектров, благодаря высокой энергетической, пространственной и временной стабильности, обеспечивает максимальную воспроизводимость результатов анализа и низкие пределы обнаружения химических элементов и соединений. Реализуются как дуговой, так и искровой режимы возбуждения спектров. Оригинальный светосильный безабберационный спектрограф с высоким спектральным разрешением обеспечивает получение высококачественных линейчатых спектров излучения. Уникальная система регистрации кратковременных импульсных световых сигналов позволяет достичь рекордно низких пределов обнаружения элементов и линейности концентрационных зависимостей в широком диапазоне, гарантирует точные и достоверные измерения.
Лазерный источник возбуждения спeктров и система регистрации анализатора LEA-S500
Источник возбуждения спeктров — специальный двухимпульсный Nd:YAG лазер с модулированной добротностью
В анализаторе элементного состава LEA-S500 источником света для получения атомно-эмиссионного спектра служит плазма вещества анализируемой пробы, образующаяся в результате воздействия на вещество мощных световых импульсов.
Установлено, что воздействие на пробу двух последовательных лазерных импульсов (с задержкой по времени, не превышающей время жизни плазмы) обеспечивает существенный рост интенсивности и стабильности интенсивности спектральных линий по сравнению с одноимпульсным режимом возбуждения. Получаемый эффект снижает предел обнаружения элементов, повышает точность измерений и расширяет аналитические возможности прибора за счет появления дополнительных линий с высокой энергией возбуждения.
Оригинальный спектрограф с фокусным расстоянием 520 мм с вертикальной симметричной светосильной безабберационной схемой обеспечивает получение высококачественных линейчатых спектров излучения для последующей их аналитической обработки.
Уникальная система регистрации кратковременных импульсных световых сигналов
Использование в спектральных приборах в качестве системы регистрации цифровых камер с многоэлементными приемниками излучения обусловлено целым рядом преимуществ перед традиционными системами регистрации.
Главные из них: возможность одновременной регистрации широкой области спектра; высокое быстродействие, обеспечивающее регистрацию спектров, возбужденных частотными импульсными источниками, что позволяет осуществлять большое количество измерений за единицу времени (в нашем случае 20 раз в секунду); широкая область спектральной чувствительности; низкие собственные темновые сигналы (шумы); широкий динамический диапазон.
В качестве приемника излучения в анализаторе элементного состава LEA-S500 применяется многоэлементная система регистрации спектра (цифровая камера 16 бит, c 2048 светочувствительными элементами) с высокой квантовой эффективностью в интервале волн 170-800 нм, высокой чувствительностью (до 1 ppb) и большим динамическим диапазоном — около 12000.
Наши технические решения гарантируют:
- Правильность и высокую прецизионность определения элементов и их соединений (оксидов) в пробах.
- Низкий предел обнаружения элементов (от 0.01 ppm до 1 ppb).
- Анализ состава любых как токопроводящих, так и нетокопроводящих твердых (монолитных и порошковых) проб.
- Применение в методических разработках аналитических линий с наилучшей концентрационной чувствительностью, свободных от взаимных спектральных наложений.
- Максимальную эффективность использования аналитического светового сигнала.
- Удобство и полную безопасность при работе и обслуживании прибора.
- Защиту персонала от воздействия вредных факторов.
Условия эксплуатации анализатора элементного состава LEA-S500
Конструкция анализатора элементного состава LEA-S500 обеспечивает полную и надежную защиту обслуживающего персонала от воздействия вредных производственных и физически опасных факторов во время проведения работ.
Анализатор предназначен для эксплуатации в помещениях при температуре воздуха от +15 до +27 ˚С и относительной влажности воздуха не более 80 % при 25 °С, конденсация влаги не допускается. Суточный перепад температур в помещении — не более 3 °С; предельные допустимые колебания температуры в течение 2 часов — не более 2°С.
Не допускается наличие в воздухе рабочей зоны агрессивных сред и токопроводящей и мелкодисперсной пыли.
Питание — от сети переменного тока напряжением (220±22) В, частотой (50±1) или (60±1) Гц.
Площадь производственного помещения, в котором эксплуатируется анализатор, должна быть не менее 15 м².
При эксплуатации анализатора должны быть соблюдены следующие нормативы свободного пространства:
- с задней и боковой сторон — не менее 1 метра;
- с лицевой стороны — не менее 2 метров.
Защитное заземление прибора должно быть выполнено в соответствии с ГОСТ 12.1.030-81, ГОСТ Р 50571.10-96.
Оптическая система
| Фокусное расстояние, мм: | 500 | 500 | 500 |
| Дифракционная решетка, штрихов/мм: | 1800 | 2400 | 3600 |
| Диапазон длин волн, нм: | 190-800 | 190-600 | 190-400 |
| Дисперсия, нм/мм: | 1.0 | 0.7 | 0.5 |
| Спектральное разрешение, нм: | 0.028 | 0.020 | 0.014 |
* Примечание: В приборе устанавливается любая из дифракционных решёток в зависимости от типа материалов, в анализе которых заинтересован заказчик.
Камера образцов
- Размеры проб (без адаптеров): 12x12x2 мм (мин.), 75х75х40 мм (макс.)
- Возможность перемещения образца вдоль осей Х-Y: +/-5 мм с шагом 0.001 мм (для усреднения результатов измерения и микроспектрального анализа)
- Размер анализируемой зоны: диа. 0.03 - 1.7 мм
- Рабочая среда: воздух
- Откачка воздуха: при необходимости
- Адаптеры: для проволоки, фольги и образцов малого размера
Источник возбуждения
- Специальный Nd:YAG лазер с модуляцией добротности
- Средняя энергия в импульсе: 100 мДж
- Нестабильность энергии импульсов: не более +/-3% из 99% импульсов
Регистрация спектра
- Линейная ПЗС-камера, 14 bit, USB-интерфейс, 2048 светочувствительных элементов (возможны другие типы детекторов)
- Регистрация полного спектра (панорамная)
Минимальные требования к компьютеру
- ОС: Win 9x/2000/XP
- Процессор: P-III/800 МГц или аналогичный
- Объем оперативной памяти: 256 Мб
- Видеокарта: RAM 16 Мб, наличие Video In
- Разрешение монитора: не менее 1024x768
- 50 Мб свободного дискового пространства
Программное обеспечение для Win9x/2000/XP
- Автокалибровка длин волн
- Индикация отклонения от указанного типа материала
- Контроль неучтенных примесей
- Метрологическая оценка результатов анализа
- Графическое представление аналитического сигнала
- Базы данных: спектральных линий, стандартных образцов, типов материалов
- Распечатка и математическая обработка результатов анализа
Аналитические программы
- Аналитические программы (методология) для анализов химического состава:
- сплавов на основе алюминия, никеля, меди, титана и др.
- различных типов сталей и чугунов
- токопроводящих и нетокопроводящих материалов (пластмасса, керамика, стекло, хрусталь и др.) - Качественный, полуколичественный и количественный анализ различных материалов
- Автоматическое определение типа материала или базового элемента
Время анализа
- От 10 сек до 3 мин в одной точке (в зависимости от количества определяемых элементов)
Энергетические параметры
- 230 В, 50/60 Гц
- 900 Вт во время измерений, 100 Вт в дежурном режиме
Габаритные размеры
- ДxШxВ: 550 x 750 x 1100 мм
- Масса: 120 кг
- Длина волны возбуждения лазера 532 нм или 785 нм
- Мощность лазера 42 мВт или 455 мВт
- Спектр. диапазон / разрешение:
65 – 4200 см-1 / 4,5 см-1 на 614 нм
65 – 3400 см-1 / 3,5 см-1 на 614 нм
65 – 3350 см-1 / 4,5 см-1 на 912 нм
65 – 2800 см-1 / 3,5 см-1 на 912 нм - ПЗС-линейка с охлаждением до -2 ˚С с высокой квантовой эффективностью




