Держатели для тонких проволок

Держатели для тонких проволок

  • Работа с малыми диаметрами
  • Стабильный контакт с искрой
  • Универсальность
  • Экономия времени

Производитель VAS Spectrometers

Описание

При анализе проволоки, стержней или небольших цилиндрических образцов традиционные методы подготовки плоских образцов неприменимы. Именно здесь на помощь приходят специальные адаптеры для проволоки.

  • Работа с малыми диаметрами: специально разработанные для проводов и стержней толщиной всего 2 мм, эти адаптеры обеспечивают надежное позиционирование образца для анализа
  • Стабильный контакт с искрой: точное позиционирование гарантирует постоянный контакт и предотвращают смещение образца во время искрового разряда, что крайне важно для получения точных показаний
  • Универсальность: доступны в различных размерах и конфигурациях, что позволяет проводить анализ в широком диапазоне диаметров проводов и стержней без сложной подготовки
  • Экономия времени: исключает необходимость сложной резки или изменения формы тонких образцов, делая рутинные исследования быстрее и эффективнее

Эти адаптеры дополняют цепочку надежных инструментов для подготовки образцов, позволяя лабораториям и предприятиям анализировать самые разные материалы от крупных заготовок до тонкой проволоки с одинаковой уверенностью в точности.

Другие приборы раздела «Оптико-эмиссионные спектрометры (ОЭС) компании VAS»Все приборы раздела
  • Анализ более 40 элементов в черных и цветных металлах
  • Чувствительность обнаружения до 50 ppm
  • Компактная стабильная многоканальная CMOS оптика
  • Интеллектуальное цифровое управление искровым разрядом
  • Анализ более 56 элементов в черных и цветных металлах
  • Оптическое разрешение ≈ 2 пм
  • Предел обнаружения азота до 10 ppm
  • Точное обнаружение натрия и лития в алюминиевых сплавах
  • Анализ более 35 элементов в распространенных черных и цветных металлах
  • Пределы обнаружения до 80 ppm
  • Технология быстрого запуска
  • Моноблочная оптическая конструкция 
  • Возможность анализа более 40 элементов на основе стали
  • Пределы обнаружения до 20 ppm
  • Моноблочная CMOS/CCD оптика
  • Искровой V-MAP источник возбуждения
  • Многоканальная 5-осевая моноблочная CMOS/CCD 
  • Анализ более 56 элементов в черных и цветных металлах
  • Предел обнаружения азота до 10 ppm
  • Точное обнаружение натрия и лития в алюминиевых сплавах
  • Регулируемый 100 кГц источник искрового разряда