Времяпролетный импульсный микроскоп с опцией спиновой визуализации
- Разрешение импульса < 0.01 Å-1
- Пространственное разрешение < 50 нм
- Энергетическое разрешение < 20 мэВ
- Доступен столик для образцов с охлаждением жидким гелием
Производитель Surface Concept
Описание
Характеристики
Материалы
Программное обеспечение
Аксессуары
Описание
Запатентованный [патенты DE102013005173C5 и DE102014018555B3] времяпролетный (ToF) импульсный микроскоп отображает полную эмиссионную полусферу (2πk2) k-пространства из выбираемой области образца реального пространства до диаметра < 1 мкм
Отличительные особенности
- Разрешение импульса < 0.01 Å-1
- Пространственное разрешение < 50 нм
- Энергетическое разрешение < 20 мэВ
- Доступен столик для образцов с охлаждением жидким гелием
- Доступна опция визуализации с параллельным вращением
Принцип работы
Времяпролетный (ToF) импульсный микроскоп работает следующим образом: зум-оптика 1 выбирает область образца в реальном пространстве, переключение между изображением в реальном пространстве и k-пространстве осуществляется зум-оптикой 2.
Пользователь может получить доступ ко всему пространству фотоэмиссионного параболоида от отсечки работы выхода до края Ферми за одно измерение (одобрено для энергий возбуждения до 21.7 эВ). Оптика изогенна по k для широкого диапазона энергий.
Характеристики
| Энергетическое разрешение | < 20 мэВ (17 мэВ показано при дрейфовом напряжении 10 В) |
| Одновременно сфокусированный энергетический диапазон | до 10 эВ |
| Разрешение импульса | < 0.01 Å-1 |
| Диапазон разрешения импульса | ± 3 Å-1 |
| Боковое разрешение | < 50 нм |
| Поле зрения в реальном пространстве | 11…1000 мкм |
| Контрастная апертура с пьезоуправлением | 3 размера апертуры и 200 меш, регулировка по X/Y |
| Полевая апертура с пьезоуправлением | 9 размеров апертуры (возможно уменьшение до 10 мкм и 200 меш, регулировка по X/Y) |
| Моторизованный манипулятор | 6 осей (гексапод), что позволяет регулировать наклон образца на месте (например, для расщепленных образцов) |
| Диапазон температур | < 30 K....400 K (показано при 12 K) |
Карты постоянной энергии, измеренные при различных энергиях фотонов Re (0001).
[Х.Дж. Элмерс и др. PhysRevResearch.2.013296]
Снимок образца Au на Si в реальном пространстве (шахматно-видная структура); поле зрения 11 мкм.
