ОЕМ спектрофотометр для мониторинга процессов нанесения оптических покрытий ESCORT SM

ОЕМ спектрофотометр для мониторинга процессов нанесения оптических покрытий ESCORT SM

  • измерение спектров эмиссии, пропускания, поглощения, и отражения
  • измерение на фиксированных длинах волн значения эмиссии, коэффициента пропускания и оптической плотности, а также коэффициента отражения
  • измерения во времени на выбранной длине волны
  • расчет статистических характеристик

Производитель SOL Instruments

Особенности

ОЕМ спектрофотометр ESCORT SM является универсальным прибором, в основе которого использованы новейшие разработки спектрального оборудования и прецизионных измерительных систем.

ОЕМ спектрофотометр ESCORT SM обеспечивает надежное сопровождение процессов нанесения оптических покрытий, производя быстрые и прецизионные измерения спектров эмиссии (Emission) напыляемого материала, спектров отражения и пропускания (Reflection & Transmission) наносимого покрытия, необходимые для контроля и оптимизации (Control & Optimization System) технологического процесса.

Спектрофотометр ESCORT SM предназначен для применения в качестве специализированного OEM спектрофотометрического комплекса для измерения характеристик оптических покрытий в процессе их нанесения, а также после нанесения, в вакуумных напылительных установках различных типов.

Спектрофотометр ESCORT SM содержит измерительный канал многоволнового контроля S125 и измерительный канал одноволнового контроля M450.

Спектрофотометр ESCORT SM позволяет одновременно по двум измерительным каналам проводить измерения коэффициентов пропускания Т или коэффициентов отражения R и предоставляет измеренные характеристики покрытия для автоматического управления процессом напыления.

Измерительный канал многоволнового контроля измеряет спектр одновременно для всех длин волн диапазона. Измерительный канал одноволнового контроля прецизионно и синхронно с многоволновым каналом измеряет характеристики покрытия на выбранной длине волны. Канал одноволнового контроля позволяет прецизионно измерить спектр после нанесения покрытия путем сканирования в заданном спектральном диапазоне с установленным шагом.

Другие приборы раздела «Спектрофотометры SOL instruments»Все приборы раздела
  • Оптическая схема однолучевая
  • Спектральный диапазон от 800 до 3200 нм
  • Выделяемый спектральный интервал от 1 до 9 нм
  • Минимальный шаг спектрального сканирования - 0,2 нм
  • Оптическая схемаоднолучевая с опорным каналом
  • Спектральный диапазон от 190 до 1100 нм
  • Выделяемый спектральный интервал - 3 нм
  • Минимальный шаг спектрального сканирования - 0,1 нм