Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Вебинар «Опциональные режимы атомно-силовых микроскопов для контроля свойств исследуемых образцов»
20 Октября 2020 г. 8:30 – 9:30 (Москва)
Количественное измерение работы выхода, а также топографии образца WS2, выращенного на SiO2 подложке, на уровне наномасштабов в режиме KPFM.
С развитием атомно-силовой микроскопии (АСМ) она стала новым методом исследования поверхности, включая измерение топографии и других свойств материалов. АСМ демонстрирует широкое применение в области исследований благодаря взаимодополняемости с оптической микроскопией, электронной микроскопией и другим измерительным оборудованием.
На данном вебинаре будут представлены различные режимы атомно-силовых микроскопов для исследования таких свойств образца, как электрические, механические, магнитные, термические и электрохимические свойства. В зависимости от контактного или бесконтактного режима, дополнительный режим АСМ может быть объединен для мониторинга свойств образца, а также топографии. Кроме того, мы оговорим приложения и покажем типовые изображения для каждого режима, чтобы помочь Вам понять какой режим АСМ выбрать. Цель этого вебинара – не только познакомить Вас с дополнительным режимами АСМ, но и рассказать Вам, как АСМ может помочь в Ваших исследованиях.
После теоретической части наш опытный инженер проведет онлайн-демонстрацию АСМ, работающего в режиме силовой микроскопии с зондом Кельвина (KPFM), одного из дополнительных режимов АСМ для измерения электрических свойств. Во время данной онлайн-демонстрации будут представлены настройки аппаратного и программного обеспечения KPFM.
Вебинар будет представлен Jake Kim – менеджером центра прикладных технологий, Park Systems.