Подписка на новые статьи


Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».

Вебинар «От автоматизации в исследованиях к контролю качества (NX20 для больших образцов)»

21.04.2020

ЗАРЕГИСТРИРОВАТЬСЯ

22 Апреля 2020 г. 11:30 – 12:30 (Москва)

Узнайте, как функции автоматизации в атомно-силовых микроскопах могут быть легко внедрены в Ваш рабочий процесс, чтобы повысить производительность Вашей лаборатории.

Наше программное обеспечение XEA предназначено для получения точных и воспроизводимых наноразмерных изображений различных устройств в соответствии с процедурами, определенными пользователем в пользовательских скрипт-файлах. Используя мощную комбинацию цифровой ПЗС-камеры высокого разрешения и программного обеспечения для распознавания структур, полностью автоматизированное распознавание и выравнивание образцов стало возможным для пользовательских приложений. С помощью пользовательского скрипта, созданного путем сочетания оптического изображения структуры и точности АСМ, может быть выполнена точная и воспроизводимая наноразмерная метрология с количественно измеряемыми данными посредством автоматического сбора и анализа данных.

Соответствующее увеличение производительности делает это комбинированное программное и аппаратное решение привлекательным для нескольких областей оптимизации анализа наноразмерных структур. Области, такие как производство подложек (контроль шероховатости поверхности) и исследование их топографии (измерение критических размеров), являются двумя примерами областей промышленности и исследований, которые систематически включают в себя инструмент, способный полностью автоматизировать АСМ для настройки или управления их процессами и тем самым повысить общую эффективность. Учитывая данную способность автоматизировать сбор и анализ данных, этот процесс имеет преимущественное применение в аналогичных областях.