Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Вебинар «Получение изображений в режиме MFM с помощью Smart Scan»
1 Мая 2020 г. 22:00 – 22:30 (Москва)
Магнитная силовая микроскопия (MFM) представляет собой улучшенный режим исследования АСМ компании Park Systems и предназначена для изучения магнитных свойств поверхности за счет регистрации взаимодействия намагниченного зонда с поверхностью образца. АСМ зонд покрыт слоем проводящего материала, чтобы исследовать локальное магнитное поле и, таким образом, поддерживая пространственное разрешение АСМ. MFM идеально подходит для регистрации локальных магнитных свойств и анализа пространственного распределения магнитных частиц и доменов на уровне наномасштабов.
В ходе данного вебинара будет продемонстрировано как одновременно получить высокоточные топографические данные и зарегистрировать магнитные изменения вдоль поверхности образца с помощью АСМ серии NX и программного обеспечения Smart Scan. Подробно будут рассмотрены основные принципы работы, подготовка инструмента к исследованию и анализ полученных данных.
Вебинар будет представлен Jiali Zhang – инженером технической поддержки, Park Systems.