Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Вебинар «Получение топографических изображений с помощью SmartScan»
17 Апреля 2020 г. 22:00 – 22:30 (Москва)
Бесконтактный режим исследований True Non-Contact: получение изображения стержней нановискеров целлюлозы длиной от 100 нм до 1000 нм и шириной 1 – 3 нм
Компания Park Systems запускает новую серию онлайн-демонстраций. Каждую неделю наши инженеры из технической поддержки будут проводить короткие узконаправленные демонстрации и обсуждать каждое применений с участниками вебинаров. Данный вебинар является первым в серии.
Топография всегда является основой для любого изображения атомно-силовой микроскопии. Это основа для всех других передовых методов и основа для техники визуализации в целом. Этот сеанс будет посвящен более мелким деталям управления взаимодействия кантилевера и образца, а также программным и аппаратным средствам управления, доступным оператору микроскопа, чтобы получить максимальную отдачу от проводимых измерений.
Вебинар будет представлен Ben Schoenek – старшим инженером по техническому обслуживанию, Park Systems.
Также данная серия будет включать в себя следующие вебинары:
- 24 апреля: SmartScan: получение изображений в режиме улучшенной KPFM
- 1 мая: SmartScan: Магнитная силовая микроскопия (MFM)
- 8 мая: SmartScan: Проводящая АСМ
- 15 мая: SmartScan : Сканирующая емкостная микроскопия (SCM)
- 22 мая: SmartScan: Литография
- 29 мая: SmartScan : Сканирующая ион-проводящая микроскопия (SICM)
- 5 июня: SmartScan: Автоматическая обработка изображений и сшивание изображений
- 12 июня: SmartScan: Сканирующая туннельная микроскопия (STM)
- 19 июня: SmartScan: Электрохимическая атомно-силовая микроскопия (EC-AFM)