Метод сверхбыстрого измерения ориентации кристаллических образцов Omega-scan

Измеряемый образец поворачивается на 360° вокруг определенной оси, обычно нормали к его поверхности. Источник рентгеновского излучения и система регистрации должны быть подстроены в зависимости от типа кристалла, чтобы получить достаточное количество отражений за один оборот. Угловые положения данных отражений используются для вычисления ориентации кристаллической решетки (полностью описывается тремя углами) по отношению к оси вращения самого кристалла.Чтобы точно связать ориентацию решетки с поверхностью кристалла, направление поверхности проверяется с помощью лазерного луча. Аналогичным образом с помощью оптических инструментов также могут быть измерены другие кристаллические эталонные поверхности или направления. Данная методика измерения позволяет с высокой точностью определять ориентацию произвольных монокристаллов в любом диапазоне направлений. Обычно времени измерения в несколько секунд (время одного или нескольких оборотов образца) достаточно, чтобы получить воспроизводимость в диапазоне нескольких арксекунд. Одним из специальных применений «Omega-scan» метода является точное определение параметров решетки, особенно кубических кристаллов.

схема измерения кристалла

Рис. 1. Схема измерения кристалла с помощью «Omega-scan» метода.

определение ориентации кристалла

Рис. 2. Определение ориентации кристалла по рефлекторной позиции углового положения отраженного луча.

Преимущества метода

  • Стабильность и простота расположения рабочих элементов: рентгеновская трубка и детектор находятся в фиксированных положениях; один измерительный цикл; отсутствие монохроматора
  • Все данные, необходимые для полного определения ориентации, измеряются за одно вращение
  • Высокая точность при малом времени измерения

Следствие: метод анализа является идеальным для серийных измерений и промышленных применений.

Рентгеновские дифрактометры, использующие Omega-scan метод

  • Дифрактометрия одного кристалла
  • Угловое разрешение 0.1 арксекунда
  • Размер образца до 450 мм
  • Полностью автоматизированное измерение
Узнать цену
  • Полная ориентации решетки единичных кристаллов
  • Высокая точность анализа (до 0.01°)
  • Контроль резания, шлифования и притирки
  • Применим для подложек от 50 мм до 300 мм и слитков весом до 20 кг
  • Воздушное охлаждение рентгеновской трубки (вода не требуется)
Узнать цену
  • Сверхбыстрое измерение ориентации кристаллов
  • Высокая точность анализа (до 0.01°)
  • Измерение мелких образцов размерами от 1 мм
  • Полное ручное управление
  • Воздушное охлаждение рентгеновской трубки (вода не требуется)
Узнать цену
  • Определение типов ориентации: AT, SC, IT, TF, X, Y, Z.
  • Скорость измерения 2 сек
  • Высокая точность ориентации: СКО ≤ 10 арксекунд
  • Высокое пространственное разрешение: 1 ± 0.1 мм
  • Определение ориентационного наклона относительно образца
  • Автоматическое отображение угловых компонентов
Узнать цену