Сервис PiFM анализа образцов

 

Компания Molecular Vista предлагает аналитические услуги PiFM анализа Ваших образцов

Мы работаем со многими промышленными клиентами и учеными, кому PiFM предоставляет возможность анализировать нанокомпозиционные материалы и выделять их составляющие с пространственным разрешением < 10 нм. Для однородных образцов с характерными структурами, размеры которых слишком малы для традиционного ИК-Фурье анализа или слишком тонкие для метода ATR-FTIR, PiFM предоставляет возможность спектральной идентификации класса материала. Спектры, полученные с помощью PiFM, далее можно использовать в любом программном обеспечении для поиска в спектральных FTIR библиотеках.

Основные преимущества PiFM анализа:

  • Химическое картирование на уровне наномасштабов с пространственным разрешением < 10 нм для идентификации компонентов гетерогенных образцов по их ИК спектрам
  • ИК спектроскопия с чувствительностью одного монослоя вещества
  • Применимость для широкого круга материалов и областей: полупроводники, солнечные элементы, плазмоника, органические и неорганические материалы, фармацевтическая отрасль, биологические образцы (белки, нуклеотиды, растения, ткани, т.д.), геология и т.п.

Примеры исследований:

Химический PiFM анализ многослойных пленок

химический анализ пленок

Вопросы, на которые могут быть получены ответы с помощью PiFM:

  • Все ли слои существуют?
  • Корректна ли толщина каждого слоя?
  • В какой степени происходит смешение между разными слоями?

Потенциальные образцы для анализа:

  • Многослойные полимерные пленки
  • Несколько слоев красок/красителей
  • Поперечные сечения полупроводников

Минимальная регистрируемая толщина слоя ≈ 5 нм

PiFM анализ наночастиц типа «ядро-оболочка»

анализ наночастиц

Вопросы, на которые могут быть получены ответы с помощью PiFM:

  • Существует ли ядро?
  • Существует ли оболочка?
  • Насколько полное покрытие оболочкой в зависимости от размера ядра?

Потенциальные образцы для анализа:

  • Ядро: органика и неорганика
  • Оболочка: органика, включая полимеры, молекулы лекарств, нуклеотиды, белки, т.п.
  • Сферические, цилиндрические и плоские образцы

Минимальный анализируемый размер ≈ Ø20 нм

PiFM анализ химических смесей на уровне наномасштабов

анализ химических смесей

PiFM изображения показывают, что AlOX проник только в блоки PMMA (полиметилметакрилат) полимера, как и предполагалось. Однако, ввиду набухания, уменьшилась область, занимаемая PS (полистирол) полимером. Хорошо наблюдается четкое разделение фаз между PS и PMMA, тогда как между PMMA AlOX есть химическое смешение.

Вопросы, на которые могут быть получены ответы с помощью PiFM:

  • Произошло ли четкое разделение фаз?
  • Присутствует ли химическое смешение компонентов?

Потенциальные образцы для анализа:

  • Полимерные смеси
  • Органические и неорганические композиты

Минимальные регистрируемые размеры структур ≈ 5 нм

Молекулярный анализ нанодефектов

молекулярный анализ нанодефектов

Вопросы, на которые могут быть получены ответы с помощью PiFM:

  • Что представляет собой дефект?
  • Есть ли остатки частиц?

Потенциальные образцы для анализа:

  • Органические и неорганические дефекты
  • Органические и неорганические остатки веществ после процесса удаления/очистки – даже те, которые не видны с помощью СЭМ или АСМ

Минимальный анализируемый размер ≈ Ø10 нм

Мельчайшие регистрируемые остатки частиц ≈ 1 нм

 

 

  • Платформа для гибридной атомно-силовой микроскопии (АСМ) и оптической спектроскопии
  • PiFM методика анализа
  • Подавление фона рассеяния SNOM
  • Сверхбыстрые динамические исследования
  • Совмещение АСМ и конфокальной фотолюминесценции
  • Совмещение АСМ и конфокальной рамановской спектроскопии
Узнать цену
  • Платформа для гибридной атомно-силовой микроскопии (АСМ) и оптической спектроскопии
  • PiFM методика анализа
  • Подавление фона рассеяния SNOM
  • Рамановская спектроскопия с зондовым усилением (TERS)
  • Сверхбыстрые динамические исследования
  • Совмещение АСМ и конфокальной фотолюминесценции
  • Совмещение АСМ и конфокальной рамановской спектроскопии
  • Трехмерный предметный столик для инвертированного объектива
Узнать цену