Сервис PiFM анализа образцов

Компания Molecular Vista предлагает аналитические услуги PiFM анализа Ваших образцов

Мы работаем со многими промышленными клиентами и учеными, кому PiFM предоставляет возможность анализировать нанокомпозиционные материалы и выделять их составляющие с пространственным разрешением < 10 нм. Для однородных образцов с характерными структурами, размеры которых слишком малы для традиционного ИК-Фурье анализа или слишком тонкие для метода ATR-FTIR, PiFM предоставляет возможность спектральной идентификации класса материала. Спектры, полученные с помощью PiFM, далее можно использовать в любом программном обеспечении для поиска в спектральных FTIR библиотеках.

Основные преимущества PiFM анализа:

• Химическое картирование на уровне наномасштабов с пространственным разрешением < 10 нм для идентификации компонентов гетерогенных образцов по их ИК спектрам
• ИК спектроскопия с чувствительностью одного монослоя вещества
• Применимость для широкого круга материалов и областей: полупроводники, солнечные элементы, плазмоника, органические и неорганические материалы, фармацевтическая отрасль, биологические образцы (белки, нуклеотиды, растения, ткани, т.д.), геология и т.п.

Примеры исследований:

Химический PiFM анализ многослойных пленок

Вопросы, на которые могут быть получены ответы с помощью PiFM:

• Все ли слои существуют?
• Корректна ли толщина каждого слоя?
• В какой степени происходит смешение между разными слоями?

Потенциальные образцы для анализа:

• Многослойные полимерные пленки
• Несколько слоев красок/красителей
• Поперечные сечения полупроводников

Минимальная регистрируемая толщина слоя ≈ 5 нм

PiFM анализ наночастиц типа «ядро-оболочка»

Вопросы, на которые могут быть получены ответы с помощью PiFM:

• Существует ли ядро?
• Существует ли оболочка?
• Насколько полное покрытие оболочкой в зависимости от размера ядра?

Потенциальные образцы для анализа:

• Ядро: органика и неорганика
• Оболочка: органика, включая полимеры, молекулы лекарств, нуклеотиды, белки, т.п.
• Сферические, цилиндрические и плоские образцы

Минимальный анализируемый размер ≈ Ø20 нм

PiFM анализ химических смесей на уровне наномасштабов

PiFM изображения показывают, что AlO_X проник только в блоки PMMA (полиметилметакрилат) полимера, как и предполагалось. Однако, ввиду набухания, уменьшилась область, занимаемая PS (полистирол) полимером. Хорошо наблюдается четкое разделение фаз между PS и PMMA, тогда как между PMMA AlO_X есть химическое смешение.

Вопросы, на которые могут быть получены ответы с помощью PiFM:

• Произошло ли четкое разделение фаз?
• Присутствует ли химическое смешение компонентов?

Потенциальные образцы для анализа:

• Полимерные смеси
• Органические и неорганические композиты

Минимальные регистрируемые размеры структур ≈ 5 нм

Молекулярный анализ нанодефектов

Вопросы, на которые могут быть получены ответы с помощью PiFM:

• Что представляет собой дефект?
• Есть ли остатки частиц?

Потенциальные образцы для анализа:

• Органические и неорганические дефекты
• Органические и неорганические остатки веществ после процесса удаления/очистки – даже те, которые не видны с помощью СЭМ или АСМ

Минимальный анализируемый размер ≈ Ø10 нм

Мельчайшие регистрируемые остатки частиц ≈ 1 нм