Определение концентрации хрома (CrB) в кремнии

Определение концентрации хрома очень важно, так как хром является одним из наиболее распространенных, а также наиболее вредных дефектов в кремнии. Следовательно, необходимо измерять плотность хрома как можно точнее и быстрее. Измеритель модели MDPmap может быть оснащен опциональным столиком с подогревом, что позволяет измерять концентрацию хрома в пластинах с высокой автоматизацией и разрешением.

Измерение времени жизни до и после диссоциации пары бор-хром является широко используемым методом определения хрома в кремнии. В кремнии, легированным бором в высокой концентрации, поскольку он используется для фотоэлектрических применений, почти 100% электроактивного хрома присутствует в виде CrB пар. При достаточной энергии облучения эти пары могут быть диссоциированы в Cri и B. Данный процесс обратим и через некоторое время все пары CrB снова связываются. Однако данный процесс занимает гораздо больше времени, чем аналогичный для FeB. CrB и Cri имеют разные рекомбинационные свойства, поэтому диссоциация влияет на измеряемое время жизни. Учитывая данный эффект, концентрация хрома может быть рассчитана по следующей формуле:

концентрация хрома

Для определения хрома используется калибровочный фактор C, который зависит от инжекции и концентрации легирующего компонента. Благодаря измерителю MDPmap и нагреваемому предметному столику определение концентрации хрома возможно как в поли-, так и в монокристаллическом кремнии с высоким разрешением.

Результирующая карта концентрации хрома после нагрева

Результирующая карта концентрации хрома после нагрева.

Измерители электрических свойств полупроводников

Одноточечный измеритель времени жизни носителей заряда подложек MDPspot

Одноточечный измеритель времени жизни носителей заряда подложек MDPspot

  • Удельное сопротивление: 0.2 – 1000 Ом·см
  • Измеряемый параметр: время жизни носителей заряда
  • Размер образцов: от 50 × 50 мм до 210 × 210 мм
Узнайте цену
Измеритель времени жизни носителей заряда поли- и монокристаллических подложек MDPmap

Измеритель времени жизни носителей заряда поли- и монокристаллических подложек MDPmap

  • Удельное сопротивление: 0.2 – 1000 Ом·см, p/n-тип проводимости
  • Измеряемый параметр: время жизни носителей заряда, фотопроводимость
  • Размер образцов: от 5 × 5 мм до Ø300 мм (до Ø450 мм по запросу)
Узнайте цену
Измеритель времени жизни носителей заряда поли- и монокристаллических подложек и брусков MDPpro

Измеритель времени жизни носителей заряда поли- и монокристаллических подложек и брусков MDPpro

  • Удельное сопротивление: 0.2 – 1000 Ом·см, p/n-тип проводимости
  • Измеряемый параметр: время жизни носителей заряда, фотопроводимость
  • Размер образцов: от 125 × 125 мм до 210 × 210 мм
     
Узнайте цену
OEM модуль для измерения времени жизни носителей заряда подложек и брусков MDPlinescan

OEM модуль для измерения времени жизни носителей заряда подложек и брусков MDPlinescan

  • Удельное сопротивление: 0.2 – 1000 Ом·см, p/n-тип проводимости
  • Измеряемый параметр: время жизни носителей заряда
  • Размер образцов: от 50 × 50 мм до 156 × 156 мм
Узнайте цену
Промышленный измеритель для картирования времени жизни носителей заряда подложек MDPinline

Промышленный измеритель для картирования времени жизни носителей заряда подложек MDPinline

  • Удельное сопротивление: 0.2 – 1000 Ом·см, p/n-тип проводимости
  • Измеряемый параметр: время жизни носителей заряда
  • Размер образцов: от 125 × 125 мм до 210 × 210 мм или от Ø100 мм до Ø450 мм
Узнайте цену
Промышленный измеритель для картирования времени жизни носителей заряда брусков MDPinline ingot

Промышленный измеритель для картирования времени жизни носителей заряда брусков MDPinline ingot

  • Удельное сопротивление: 0.2 – 1000 Ом·см, p/n-тип проводимости
  • Измеряемый параметр: время жизни носителей заряда, фотопроводимость
  • Размер образцов: от 125 × 125 мм до 210 × 210 мм
Узнайте цену