Определение концентрации железа

Точное определение концентрации железа очень важно, поскольку железо является одним из наиболее распространенных, а также наиболее вредных дефектов в кремнии. Следовательно, необходимо измерять концентрацию железа как можно точнее и быстрее, с очень высоким разрешением и предпочтительно прямо на линии производства.

С помощью наших измерителей серии MDP открывается возможность измерения концентрации железа в брусках и пластинах с высокой автоматизацией и разрешением.

Измерение времени жизни до и после диссоциации пары бор-железо является широко используемым методом определения железа в кремнии. В кремнии, легированным бором в высокой концентрации, поскольку он используется для фотоэлектрических применений, почти 100% электроактивного железа присутствует в виде FeB пар. При достаточной энергии облучения эти пары могут быть диссоциированы в Fei и B. Данный процесс обратим и через некоторое время все пары FeB снова связываются. FeB и Fei имеют разные рекомбинационные свойства, поэтому диссоциация влияет на измеряемое время жизни. Учитывая данный эффект, концентрация железа может быть рассчитана по следующей формуле:

концентрация железа

Для определения железа используется калибровочный фактор C, который зависит от инжекции, концентрации легирующего компонента и концентрации фазовых ловушек, что особенно должно учитываться при анализе поликристаллического кремния. Благодаря измерителям MDP определение концентрации железа возможно как в поли-, так и в монокристаллическом кремнии с высоким разрешением и высокой точностью.

Карта времени жизни носителей до облучения и результирующая карта концентрации железа

Карта времени жизни носителей до облучения и результирующая карта концентрации железа.

Измерители электрических свойств полупроводников

Одноточечный измеритель времени жизни носителей заряда подложек MDPspot

Одноточечный измеритель времени жизни носителей заряда подложек MDPspot

  • Удельное сопротивление: 0.2 – 1000 Ом·см
  • Измеряемый параметр: время жизни носителей заряда
  • Размер образцов: от 50 × 50 мм до 210 × 210 мм
Узнайте цену
Измеритель времени жизни носителей заряда поли- и монокристаллических подложек MDPmap

Измеритель времени жизни носителей заряда поли- и монокристаллических подложек MDPmap

  • Удельное сопротивление: 0.2 – 1000 Ом·см, p/n-тип проводимости
  • Измеряемый параметр: время жизни носителей заряда, фотопроводимость
  • Размер образцов: от 5 × 5 мм до Ø300 мм (до Ø450 мм по запросу)
Узнайте цену
Измеритель времени жизни носителей заряда поли- и монокристаллических подложек и брусков MDPpro

Измеритель времени жизни носителей заряда поли- и монокристаллических подложек и брусков MDPpro

  • Удельное сопротивление: 0.2 – 1000 Ом·см, p/n-тип проводимости
  • Измеряемый параметр: время жизни носителей заряда, фотопроводимость
  • Размер образцов: от 125 × 125 мм до 210 × 210 мм
     
Узнайте цену
OEM модуль для измерения времени жизни носителей заряда подложек и брусков MDPlinescan

OEM модуль для измерения времени жизни носителей заряда подложек и брусков MDPlinescan

  • Удельное сопротивление: 0.2 – 1000 Ом·см, p/n-тип проводимости
  • Измеряемый параметр: время жизни носителей заряда
  • Размер образцов: от 50 × 50 мм до 156 × 156 мм
Узнайте цену
Промышленный измеритель для картирования времени жизни носителей заряда подложек MDPinline

Промышленный измеритель для картирования времени жизни носителей заряда подложек MDPinline

  • Удельное сопротивление: 0.2 – 1000 Ом·см, p/n-тип проводимости
  • Измеряемый параметр: время жизни носителей заряда
  • Размер образцов: от 125 × 125 мм до 210 × 210 мм или от Ø100 мм до Ø450 мм
Узнайте цену
Промышленный измеритель для картирования времени жизни носителей заряда брусков MDPinline ingot

Промышленный измеритель для картирования времени жизни носителей заряда брусков MDPinline ingot

  • Удельное сопротивление: 0.2 – 1000 Ом·см, p/n-тип проводимости
  • Измеряемый параметр: время жизни носителей заряда, фотопроводимость
  • Размер образцов: от 125 × 125 мм до 210 × 210 мм
Узнайте цену