Доступные стандартные виды измерений для учебного комплекса «Испускание и поглощение» серии CA-1130

Доступные стандартные виды измерений для учебного комплекса «Испускание и поглощение» серии CA-1130

Описание

  • Измерение зависимости выходной мощности от тока: Относительную выходную мощность лазерного диода можно измерить в зависимости от тока инжекции. Ток лазерного диода либо ступенчато увеличивается в соответствии с настройками контроллера, либо может периодически увеличиваться и уменьшаться внутренним модулятором контроллера. Относительная мощность лазера измеряется фотодетектором и оцениваются такие параметры, как порог лазерной генерации и эффективность наклона кривой выходной мощности лазера.

Измерение зависимости выходной мощности от тока

  • Спектр поглощения Nd:YAG кристалла: При изменении температуры лазерного диода изменяется длина волны его излучения. Путем сканирования длины волны лазерного диода посредством изменения температуры измеряется спектр поглощения Nd:YAG кристалла. С другой стороны, излучение лазерного диода оптически накачивает кристалл и вызывает флуоресценцию. Фильтрация излучения накачки и измерение сигнала флуоресценции при сканировании длины волны диода позволяет косвенно измерять профиль поглощения. Рассчитывается корреляция между температурой лазерного диода и сдвигом длины волны.

Спектр поглощения кристалла

  • Зависимость длины волны от тока накачки диода: Для лазерных диодов характерно увеличение длины волны пропорционально увеличению мощности. Чтобы компенсировать такое поведение, необходимо изменять его температуру. Работа на постоянной длине волны реализуется за счет работы при минимальном поглощении (т. е. максимальном пропускании) и оптимизации температуры и тока накачки для максимального пропускания.

Зависимость длины волны от тока накачки диода

  • Измерение времени жизни люминесценции: Nd:YAG кристалл накачивается лазерным диодом на длине волны около 808 нм Уровень 4F3/2 является начальным уровнем для флуоресцентного излучения на длине волны 1064 нм. С помощью фильтра перед детектором отсекается излучение накачки и может быть обнаружена флуоресценция. Ток диода модулируется через TTL и измеряется кривая затухания флуоресценции.

Измерение времени жизни люминесценции

Другие приборы раздела «Основы оптики»Все приборы раздела
  • Оптическая плита (600 × 400 мм, ≈ 18 кг) с двумя воздушными подушками, включая насос для гашения вибраций
  • Оптический рельс со шкалой, 500 мм, 300 мм
  • Зеленый лазер (532 нм, 5 мВт) в регулируемом по θ, ϕ держателе
  • Источник питания лазера LSC 2000 с функцией удаленного затвора (не показан)
  • Модуль для расширения пучка с двумя взаимозаменяемыми двояковогнутыми линзами (f = -5 мм и f = -10 мм) в держателе
  • Оптический рельс со шкалой, 500 мм
  • Лазерный источник (808 нм, 100 мВт) со стабилизацией температуры во вращающемся по XY держателе
  • LDS 1200 контроллер лазерного диода
  • PIN-фотодетектор в держателе
  • Набор соединительных кабелей (не показан)
  • ИК визуализатор 800 – 1600 нм (не показан)
  • Руководство пользователя (не показано)
  • Усиленный оптический рельс со шкалой, 1000 мм
  • Тестовый He-Ne лазер в держателе с источником питания
  • Расширитель пучка в регулируемом по XY держателе
  • Фотодетектор в держателе
  • Регулируемый держатель лазерного зеркала с ручным линейным приводом и набор зеркал (r = 75 мм, r = 100 мм, плоское)
  • Оптический рельс со шкалой, 1000 мм
  • Лампа накаливания
  • Источник питания для лампы
  • Цифровой вольтметр
  • Экран с регулируемой диафрагмой
  • Модулятор света с управляющей электроникой
  • Широкополосный фотодетектор
  • Двухканальный осциллограф (не показан)
  • Оптическая плита с 7 оптическими рельсами для компонентов комплекса
  • Импульсный источник лазерного излучения (1535 нм) с контроллером PLPS 1000
  • Источник лазерного излучения (532 нм) с контроллером LSC 2000
  • Элемент для отклонения пучка в держателе
  • Аттенюаторы для ослабления излучения в держателе