Предметный XY столик

Данный предметный XY столик представляет собой систему для картирования, что позволяет измерять всю поверхность образца с помощью контролируемой сетки измерений. Данный столик может быть легко размещен в Omega/Theta дифрактометр сверху стандартного поворотного столика. Далее поверхность образца может быть отсканирована согласно заданной пользователем сетке. Минимальный шаг сканирования по сетке, ввиду размера рентгеновского луча на образце, составляет 1 мм.

Данный предметный столик может быть объединен с «Omega-scan» методом анализа для ориентационного картирования или с анализом кривой качания для получения карты распределения оптических искажений по поверхности. Соответствующие пакеты программ для отображения и анализа получаемых данных также доступны.