
Столик для штабелирования
Промышленное производство кристаллов, таких как SiC, дает на выходе слишком толстые заготовки, которые должны быть выравнены оптически до начала процесса распиловки. Компания Freiberg Instruments предлагает удобную систему держателей для выравнивания заготовок с помощью метода «Omega-scan», что позволяет укладывать все заготовки в ориентированные штабеля. Далее весь штабель переносится на проволочную пилу и происходит параллельная распиловка, что значительно экономит Ваше время.
Описание
Параметры
| Параметр | SiC | Y3Al5O12 |
| Диаметр заготовки | 75 – 200 мм | 50 – 65 мм |
| Высота заготовки | 6 – 50 мм | 6 – 50 мм |
| Максимальное количество заготовок в штабеле | 12 | 12 |
Другие приборы раздела «Рентгеновские дифрактометры»Все приборы раздела
- Интеграция в любую систему автоматизации или обработки
- Разработаны для работы в жестких условиях (распиловка, шлифовка)
- Независимое измерение ориентации
- Измерение на плоских поверхностях или окружностях
- Обнаружение оптических насечек
- Измеряемые материалы: Si, SiC, GaAs и другие
- Размер образцов: слитки/були диаметром до 450 мм