Программное обеспечение XRDStudio

Программное обеспечение XRDStudio

Ультрасовременное программное обеспечение для управления рентгеновскими дифрактометрами.

XRDStudio представляет собой расширенное и интуитивно-понятное программное обеспечение с широким набором функций, таких как:

  • Различные режимы работы:
    - Режим оператора: для измерения фиксированных параметров и обеспечения безопасности рабочего процесса
    - Режим администратора: для изменения/создания новых скриптов и для адаптации прибора к новым материалам
  • Управляемый пользовательский интерфейс для удобства работы
  • Предустановленные и кастомизируемые рабочие скрипты
  • Автоматическое отображение результатов измерений и корректировка значений для выравнивания ориентации кристалла
  • Опции картирования
  • Функции экспорта и импорта данных

Производитель Freiberg Instruments

Визуализация результатов измерений с автоматическим созданием резервной копии данных

результаты измерений

Другие приборы раздела «Рентгеновские дифрактометры»Все приборы раздела
  • Интеграция в любую систему автоматизации или обработки
  • Разработаны для работы в жестких условиях (распиловка, шлифовка)
  • Независимое измерение ориентации
  • Измерение на плоских поверхностях или окружностях
  • Обнаружение оптических насечек
  • Измеряемые материалы: Si, SiC, GaAs и другие
  • Размер образцов: слитки/були диаметром до 450 мм
  • Определение типов ориентации: AT, SC, IT, TF, X, Y, Z.
  • Скорость измерения 2 сек
  • Высокая точность ориентации: СКО ≤ 10 арксекунд
  • Высокое пространственное разрешение: 1 ± 0.1 мм
  • Определение ориентационного наклона относительно образца
  • Автоматическое отображение угловых компонентов
  • Сверхбыстрое измерение ориентации кристаллов
  • Высокая точность анализа (до 0.01°)
  • Измерение мелких образцов размерами от 1 мм
  • Полное ручное управление
  • Воздушное охлаждение рентгеновской трубки (вода не требуется)
  • Полная ориентации решетки единичных кристаллов
  • Высокая точность анализа (до 0.01°)
  • Контроль резания, шлифования и притирки
  • Применим для подложек от 50 мм до 300 мм и слитков весом до 20 кг
  • Воздушное охлаждение рентгеновской трубки (вода не требуется)
  • Дифрактометрия одного кристалла
  • Угловое разрешение 0.1 арксекунда
  • Размер образца до 450 мм
  • Полностью автоматизированное измерение