Системы конфокальной рамановской микроскопии

На сегодняшний день рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния) находит свое применение во многих областях науки и промышленности. Она может использоваться для анализа твердых, жидких и порошкообразных веществ, газовых фаз, кристаллических структур с целью изучения их ориентации, полиморфных форм, внутренних напряжений и т.п. С помощью данной методики возможно изучение различных органических и углеродных соединений, химических и фармацевтических компонентов, полимеров и двумерных пленок, кремниевых соединений и полупроводниковых структур, различных красителей, пигментов и минералов, биоматериалов и т.п.

С помощью микроскопических конфокальных рамановских систем компании DongWoo Optron Вам доступно изучение как самых простых веществ и материалов, так и микроскопических структурных компонентов в составе больших гетерогенных образцов.

Модель S-Ram Ramboss-star STEX-100
Спектральный диапазон 50 – 4200 см-1 50 – 4200 см-1 25 – 3500 см-1
(или до 4200 см-1)
Спектральное разрешение 0.5 см-1 0.5 см-1 3 см-1
Разрешение монохроматора 0.045 нм на пиксель ПЗС 0.2 нм на пиксель ПЗС
Источник излучения Лазер на 785 нм (возможность объединения до трех длин волн) Лазер на 785 нм (встроенный)
Детектор ПЗС/ФЭУ ПЗС/ФЭУ ПЗС
Автоматизация через ПО Лазер, мощность, длина волны, поляризация Мощность
Конфокальный модуль Конфокальный пинхол / спектральная щель
Рабочие объективы 10X – 100X (рабочий диапазон 266 – 1800 нм)
Размер пятна лазера на образце < 1 мкм < 1 мкм < 1 мкм
Внешний микроскоп Наличие Наличие
Картирование (опция) Наличие Наличие Наличие
Низкотемпературные измерения (опция) ≈ 4K (77K) ≈ 77K ≈ 4K (77K)
Низкотемпературное картирование (опция) Наличие Наличие
Линейное сканирование (предв.) Наличие Наличие Наличие
АСМ/TERS (предв.) Наличие Наличие
Вид каталога:
  • Обнаружение одной молекулы
  • Легко сочетать с микроскопом клиентам
  • Гибкая структура и экономичный выбор
  • Высокая точность Рамановского Картирования
  • Высокое пространственное разрешение
  • Автоматизация (контроль длины волны, фильтр, выбор лазера)
  • Встроенный лазер и спектрометр
  • Съемная оптическая система
  • Низкочастотный анализ комбинационного рассеяния
  • Спектральный диапазон: от видимого до ближнего ИК ( 190 – 1600 нм)
  • Спектральное разрешение: 0.15 нм (с решеткой 1200 штр/мм)
  • Длина волны лазера: 532, 632.8, 785 нм (+ УФ: 213 нм, 266 нм)
  • Объективы с увеличением от 5 до 100 крат