Системы конфокальной рамановской микроскопии
С помощью микроскопических конфокальных рамановских систем компании DXG Вам доступно изучение как самых простых веществ и материалов, так и микроскопических структурных компонентов в составе больших гетерогенных образцов.
| Модель | S-Ram | Ramboss-star | STEX-100 |
| Спектральный диапазон | 50 – 4200 см-1 | 50 – 4200 см-1 | 25 – 3500 см-1 (или до 4200 см-1) |
| Спектральное разрешение | 0.5 см-1 | 0.5 см-1 | 3 см-1 |
| Разрешение монохроматора | 0.045 нм на пиксель ПЗС | 0.2 нм на пиксель ПЗС | |
| Источник излучения | Лазер на 785 нм (возможность объединения до трех длин волн) | Лазер на 785 нм (встроенный) | |
| Детектор | ПЗС/ФЭУ | ПЗС/ФЭУ | ПЗС |
| Автоматизация через ПО | Лазер, мощность, длина волны, поляризация | Мощность | |
| Конфокальный модуль | Конфокальный пинхол / спектральная щель | ||
| Рабочие объективы | 10X – 100X (рабочий диапазон 266 – 1800 нм) | ||
| Размер пятна лазера на образце | < 1 мкм | < 1 мкм | < 1 мкм |
| Внешний микроскоп | Наличие | Наличие | ― |
| Картирование (опция) | Наличие | Наличие | Наличие |
| Низкотемпературные измерения (опция) | ≈ 4K (77K) | ≈ 77K | ≈ 4K (77K) |
| Низкотемпературное картирование (опция) | Наличие | ― | Наличие |
| Линейное сканирование (предв.) | Наличие | Наличие | Наличие |
| АСМ/TERS (предв.) | Наличие | Наличие | ― |
- Обнаружение одной молекулы
- Возможность объединения с пользовательскими микроскопами
- Возможность объединения до трех источников лазерного излучения
- Высокая точность Рамановского Картирования
- Высокое пространственное разрешение
- Автоматизация (контроль длины волны, фильтр, выбор лазера)
- Встроенный лазер и спектрометр
- Съемная оптическая система
- Низкочастотный анализ комбинационного рассеяния
- Спектральный диапазон: от видимого до ближнего ИК ( 190 – 1600 нм)
- Спектральное разрешение: 0.15 нм (с решеткой 1200 штр/мм)
- Длина волны лазера: 532, 632.8, 785 нм (+ УФ: 213 нм, 266 нм)
- Объективы с увеличением от 5 до 100 крат
На сегодняшний день рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния) находит свое применение во многих областях науки и промышленности. Она может использоваться для анализа твердых, жидких и порошкообразных веществ, газовых фаз, кристаллических структур с целью изучения их ориентации, полиморфных форм, внутренних напряжений и т.п. С помощью данной методики возможно изучение различных органических и углеродных соединений, химических и фармацевтических компонентов, полимеров и двумерных пленок, кремниевых соединений и полупроводниковых структур, различных красителей, пигментов и минералов, биоматериалов и т.п.