
Компактная микроскопическая конфокальная рамановская система STEX-100
- Встроенный лазер и спектрометр
- Съемная оптическая система
- Низкочастотный анализ комбинационного рассеяния
Производитель DongWoo Optron
Описание
Характеристики
Аксессуары
Отличительные особенности
- Единый корпус: встроенные лазер и спектрометр
- Надежный дизайн: повышенная стабильность и простота юстировки
- Съемная оптическая система – экономия времени и денег на сервисное обслуживание
- Доступная цена для ЦКП
STEX-100 представляет собой компактную систему для рамановской конфокальной микроскопии. Данная система является полностью закрытой системой в едином корпусе, объединяющей в себе, помимо зоны для анализа образцов, лазер и спектрометр. STEX-100 является наиболее экономически эффективным решением для использования в совместных научных приложениях.
Области применения
- Анализ углеродных материалов (УНТ, графен и т.п.)
- Исследование монослоев двумерных материалов: MoS2, MoSe2, WS2
Производительность
Рис. 1. Рамановские спектры калибровочных стандартов, измеренные с помощью STEX-100: нафталин с решетчатой структурой (сверху) и комовая сера (снизу).
Рис. 2. Отображение производительности конфокального режима измерений: чувствительность рамановского сигнала по структуре GaN в зависимости от глубины.
Характеристики
Спектральный диапазон | 50 – 3500 см-1 (или до 4200 см-1) От 25 см-1 с лазером на 532 нм |
Спектральное разрешение | 3 см-1 |
Разрешение монохроматора | 0.2 нм на пиксель ПЗС |
Пространственное разрешение | XY: 0.05 мкм (типовое), 0.1 мкм (по умолчанию) Z: 1 мкм (более высокое по запросу) |
Спектрограф | С коррекцией аберраций на высокое пропускание |
Детектор | ПЗС с термоэлектрическим охлаждением |
Лазерный источник возбуждения | До двух встраиваемых лазеров: 325 нм, 532 нм, 632.8 нм, 785 нм Возможность ввода излучения от внешнего лазера через волокно |
Контроль мощности лазерного излучения | 0.1 – 100% (до 6 различных уровней мощности) |
Габаритные размеры | 610 × 600 × 600 мм |
Дополнительные опции | Низкотемпературные измерения / Картирование |