Монохроматоры-спектрографы серии MonoRa750i

  • С 3-мя дифракционными решетками
  • Оптимизированная оптическая схема Черни-Тернера с компенсацией астигматизма
  • Фокусное расстояние 750 мм
  • Относительное отверстие f/9.85
  • Моторизированная турель
  • Точность установки длины волны ± 0.1 мм при воспроизводимости ± 0.04 нм

Производитель DXG

Описание

Системы серии MonoRa750i представляют собой монохроматоры и изображающие спектрографы с тремя дифракционными решетками и парой асферических зеркал с фокусным расстоянием 750 мм. Данная серия позволяет получить спектральное разрешение в 0.035 нм при использовании дифракционной решетки 1200 штр/мм, а также имеет возможность легкой интеграции в автоматизированные спектральные системы за счет стандартного ПО Monoworks. Данные монохроматоры являются отличным оптическим инструментом для рамановской, фотолюминесцентной, эмиссионной и лазерной флуоресцентной спектроскопии. Также доступна модификация Double MonoRa750i с удвоением дисперсии с сохранением фокусного расстояния.

Отличительные особенности

  • Фокусное расстояние 750 мм
  • Относительное отверстие f/9.8
  • Спектральное разрешение 0.035 нм
  • Точность установки длины волны ± 0.1 мм при воспроизводимости ± 0.04 нм
  • Моторизированная трехпозиционная турель
  • Уровень рассеянного света: 1.0 × 10-5
  • Интерфейс подключения USB/RS232

Области применения

  • Оптическая спектроскопия
  • Фотолюминесценция
  • Флуоресценция
  • Рамановская спектроскопия
  • Фосфоресценция
  • Колориметрия
  • Спектрорадиометрия
  • Фотометрия
  • Анализ лазерного излучения
  • Изучение рассеяния света

Доступные конфигурации

Модель Конфигурация
MonoRa751i Один боковой вход и один прямой выход
MonoRa752i Один боковой вход, один боковой выход и один прямой выход для ПЗС детектора
MonoRa753i Один боковой вход и два выхода
MonoRa754i Два входа, один боковой выход и один прямой выход для ПЗС детектора

оптическая схема монохроматора MonoRa750i

Рис. 1. Упрощенная оптическая схема монохроматора серии MonoRa750i

Технические характеристики

Фокусное расстояние 500 мм
Относительное отверстие f/9.8
Оптическая схема Черни-Тернера (с компьютерной оптимизацией аберраций)
Конфигурация
оптического пути
90° или 180° / 1 вход и 1 выход
90° или 180° / 1 вход и 2 выхода
90° или 180° / 2 входа и 2 выхода
Диапазон сканирования Механический диапазон 0 – 1600 нм (для решетки 1200 штр/мм)
Спектральный рабочий диапазон От 190 нм до ближней ИК области спектра (при выборе соответствующей дифракционной решетки и детектора)
Спектральное разрешение 0.035 нм для решетки 1200 штр/мм при ширине щели 10 мкм
Обратная дисперсия 1.0 нм/мм
Точность установки длины волны ± 0.1 нм
Воспроизводимость установки длины волны ± 0.04 нм
Шаг сканирования 0.0025 нм с шаговым двигателем
Размер фокальной плоскости 26 (Ш) × 10 (В) мм
Полоса регистрации детектора 27 нм для решетки 1200 штр/мм
Стандартная спектральная щель Ширина: 0 – 5 мм; регулируется с шагом 10 мкм
Высота: 4 мм (по умолчанию), возможен выбор до 15 мм
Моторизированная щель: опционально
Крепление дифракционной решетки Трехпозиционная турель
Размер дифракционной решетки 68 × 68 мм
Доступные детекторы УФ, видимый диапазон: PDS-01 (ФЭУ), OPA 1024 (фотодиодная матрица), кремниевый детектор, ПЗС-камеры iDus от Andor;
ИК диапазон: InGaAs, PBS, PBSE, MCT, ИК ПЗС-камеры iDus от Andor
Программное обеспечение Monoscan, Monoworks, Maple
Совместимые измерительные камеры Maple – для проведения фотолюминесцентных измерений
Ramboss – для проведения измерений комбинационного рассеяния

Дифракционные решетки

Модель Плотность штрихов, штр/мм Длина волны в угле блеска, нм Рабочий диапазон длин волн, нм
3-150-300 150 300 200 – 500
3-150-500 500 330 – 900
3-150-1100 1100 800 – 1800
3-150-1250 1250 900 – 2000
3-150-2000 2000 1300 – 3000
3-150-3000 3000 2000 – 4000
3-150-4000 4000 3000 – 5000
3-150-5000 5000 4000 – 6000
3-300-300 300 300 200 – 500
3-300-500 500 330 – 900
3-300-750 750 500 – 1400
3-300-1000 1000 700 – 1800
3-300-2000 2000 1300 – 3000
3-300-3000 3000 2000 – 4000
3-300-4000 4000 3000 – 5000
3-600-300 600 300 200 – 500
3-600-500 500 330 – 900
3-600-700 750 500 – 1400
3-600-1000 1000 700 – 1800
3-600-1250 1250 900 – 2000
3-600-1600 1600 1000 – 2400
3-1200-250 1200 250 190 – 450
3-1200-250H 250 (голограф.) 190 – 900
3-1200-300 300 200 – 500
3-1200-450H 450 (голограф.) 300 – 1000
3-1200-500 500 330 – 900
3-1200-750 750 500 – 1400
3-1800-250 1800 250 190 – 450
3-1800-250H 250 (голограф.) 190 – 800
3-1800-350H 350 (голограф.) 300 – 850
3-1800-500 500 330 – 900
3-1800-500H 500 (голограф.) 300 – 950
3-2400-250H 2400 250 (голограф.) 200 – 900
3-2400-300 300 200 – 500
3-3600-250 3600 250 190 – 450
3-3600-300H 300 (голограф.) 240 – 500

*Другие дифракционные решетки доступны по запросу.

Ламповые источники излучения

Ксеноновые дуговые лампы

Вольфрамовые галогенные лампы

Дейтериевые лампы

Ртутные лампы

Лазерные источники излучения

Системы регистрации

ПЗС камеры

ФЭУ

Фотодетекторы

Аналого-цифровой преобразователь

Оптомеханика

1. Spontaneous andstimulatedemissioninSm3þ-doped YAl3(BO3)4 single crystal
Single crystals of YAl3(BO3)4 doped witht rivalentsamarium were grown by the top-seeded high tem. method
PolishAcademy of Sciences, Poland

2. Room temperature fluorescence and excited state dynamics in the near infrared and visible region of U3C doped LaBr3 single crystals
Luminescence spectra of the crystals were recorded in a wide spectral range at room temperature
Polish Academy of Sciences

3. Optical spectroscopy and local structure of the Nd3+ luminescence centres in glasses
Optical absorption and luminescence spectra as well as luminescence kinetics of the Nd3+ centres in glasses with Ca3Ga2Ge3O12:Nd composition
Polish Academy of Sciences

4. THE EFFECT OF SYNTHESIS PARAMETERS ON LUMINESCENCE PROPERTIES OF Ca- -Sialon:Eu2+
To investigate influence of the synthesis parameters on the luminescence properties of Ca- -Sialon doped with Eu2+.

5. Rare earth dopant(Nd,Gd,Dy,andEr)hybridization in lithium tetraborate
AirForceInstituteofTechnology,Dayton