Системы фотолюминесцентной спектроскопии
С помощью фотолюминесцентных систем компании DXG Вам доступно изучение широкого спектра материалов на различных длинах волн с возможностью анализа как при комнатной температуре, так и в широком диапазоне температур.
| Модель | Maple-II |
| Спектральный диапазон | 200 – 5000 нм |
| Спектральное разрешение | 0.045 нм на пиксель ПЗС |
| Уровень рассеянного света | 5 × 10-6 |
| Источник излучения | Лазер: 246 – 1064 нм (возможность объединения до трех длин волн) |
| Детектор | ПЗС/ФЭУ/фотодетектор |
| Автоматизация через ПО | Лазер, мощность, длина волны, поляризация |
| Конфокальный модуль | Конфокальный пинхол / спектральная щель |
| Рабочие объективы | 10X – 100X (рабочий диапазон 266 – 1800 нм) |
| Размер пятна лазера на образце | < 1 мкм |
| Микроскоп | Наличие (встроенный) |
| Картирование (опция) | Наличие |
| Низкотемпературные измерения (опция) | ≈ 4K (77K) … 600°C |
| Низкотемпературное картирование (опция) | Наличие |
- Микро / макро PL / RT PLE и система EL
- Масштабируемость для переменных приложений
- Изображение PL с высоким разрешением
Фотолюминесценция является одним из методов, который позволяет охарактеризовать неизвестные материалы (такие как кристаллические структуры и примеси, например, в полупроводниковых материалах и драгоценных камнях) с помощью испускаемого ими же излучения, получаемого за счет возбуждения источником света (чаще монохроматическим). Наиболее распространенными областями для применения данного метода являются полупроводниковая промышленность, LED, фотоэлектрические устройства и геммология.