Системы фотолюминесцентной спектроскопии
С помощью фотолюминесцентных систем компании DongWoo Optron Вам доступно изучение широкого спектра материалов на различных длинах волн с возможностью анализа как при комнатной температуре, так и в широком диапазоне температур.
| Модель | Maple-II | SC-100 (SC-100FS) |
| Спектральный диапазон | 200 – 5000 нм | 200 – 6000 нм (200 – 1600 нм) |
| Спектральное разрешение | 0.045 нм на пиксель ПЗС | 0.09 нм на пиксель ПЗС |
| Уровень рассеянного света | 5 × 10-6 | 5 × 10-6 |
| Источник излучения | Лазер: 246 – 1064 нм (возможность объединения до трех длин волн) | Лазер: 246 – 1064 нм (возможность объединения до девяти длин волн) |
| Детектор | ПЗС/ФЭУ/фотодетектор | ПЗС/ФЭУ/фотодетектор/MCT |
| Автоматизация через ПО | Лазер, мощность, длина волны, поляризация | |
| Конфокальный модуль | Конфокальный пинхол / спектральная щель | ― |
| Рабочие объективы | 10X – 100X (рабочий диапазон 266 – 1800 нм) | ― |
| Размер пятна лазера на образце | < 1 мкм | < 50…100 мкм |
| Микроскоп | Наличие (встроенный) | ― |
| Картирование (опция) | Наличие | Наличие |
| Низкотемпературные измерения (опция) | ≈ 4K (77K) … 600°C | ≈ 4K (77K) … 600°C |
| Низкотемпературное картирование (опция) | Наличие | ― |
- Микро / макро PL / RT PLE и система EL
- Масштабируемость для переменных приложений
- Изображение PL с высоким разрешением
- Компактное модульное проектирование и экономичный выбор
- Множественный источник возбуждения(до 9)
- Свободный / волокно Соединенное внутри и вне
Фотолюминесценция является одним из методов, который позволяет охарактеризовать неизвестные материалы (такие как кристаллические структуры и примеси, например, в полупроводниковых материалах и драгоценных камнях) с помощью испускаемого ими же излучения, получаемого за счет возбуждения источником света (чаще монохроматическим). Наиболее распространенными областями для применения данного метода являются полупроводниковая промышленность, LED, фотоэлектрические устройства и геммология.