Системы фотолюминесцентной спектроскопии

С помощью фотолюминесцентных систем компании DongWoo Optron Вам доступно изучение широкого спектра материалов на различных длинах волн с возможностью анализа как при комнатной температуре, так и в широком диапазоне температур.

Модель Maple-II SC-100 (SC-100FS)
Спектральный диапазон 200 – 5000 нм 200 – 6000 нм (200 – 1600 нм)
Спектральное разрешение 0.045 нм на пиксель ПЗС 0.09 нм на пиксель ПЗС
Уровень рассеянного света 5 × 10-6 5 × 10-6
Источник излучения Лазер: 246 – 1064 нм (возможность объединения до трех длин волн) Лазер: 246 – 1064 нм (возможность объединения до девяти длин волн)
Детектор ПЗС/ФЭУ/фотодетектор ПЗС/ФЭУ/фотодетектор/MCT
Автоматизация через ПО Лазер, мощность, длина волны, поляризация
Конфокальный модуль Конфокальный пинхол / спектральная щель
Рабочие объективы 10X – 100X (рабочий диапазон 266 – 1800 нм)
Размер пятна лазера на образце < 1 мкм < 50…100 мкм
Микроскоп Наличие (встроенный)
Картирование (опция) Наличие Наличие
Низкотемпературные измерения (опция) ≈ 4K (77K) … 600°C ≈ 4K (77K) … 600°C
Низкотемпературное картирование (опция) Наличие
Вид каталога:
  • Микро / макро PL / RT PLE и система EL
  • Масштабируемость для переменных приложений
  • Изображение PL с высоким разрешением
  • Компактное модульное проектирование и экономичный выбор
  • Множественный источник возбуждения(до 9)
  • Свободный / волокно Соединенное внутри и вне

Фотолюминесценция является одним из методов, который позволяет охарактеризовать неизвестные материалы (такие как кристаллические структуры и примеси, например, в полупроводниковых материалах и драгоценных камнях) с помощью испускаемого ими же излучения, получаемого за счет возбуждения источником света (чаще монохроматическим). Наиболее распространенными областями для применения данного метода являются полупроводниковая промышленность, LED, фотоэлектрические устройства и геммология.