Вакуумный монохроматор схема  Сейя-Намиока для сканирования и MCP или ПЗС спектроскопии модель 231

Монохроматор для сканирования и MCP или ПЗС спектроскопии (схема Сейя-Намиока) McPherson 231

  • Диапазон длин волн: 30 нм - 1.2 нм
  • Спектральное разрешение: 0.025 нм
  • Фокусное расстояние: 1000 мм
  • Оптическая схема: Сейя-Намиока (Seya-Namioka)
  • Матричный детектор
  • Построение изображения
  • Вакуумирование, сверхсильное вакуумирование

Производитель McPherson

Отличительные особенности

  • Увеличенное рабочее пространство
  • Конструкция из нержавеющей стали с внутренней сваркой
  • Щели с точной микрометрической регулировкой
  • Высокое разрешение
  • Решетки поворачиваются вокруг своих вершин
  • Все версии с цельнометаллическим герметичным корпусом (сверхвысокий вакуум, UHV) для применений с пучком синхротрона

Описание

Указанное фокусное расстояние обеспечивает повышенное разрешение и увеличивает рабочее пространство. Конструкция из нержавеющей стали позволяет использовать данный прибор в условиях высокого вакуума совместно с экспериментальными камерами без загрязняющих частиц или детекторами на основе ЭОП на микроканальных пластинах.

При использовании в качестве сканирующего спектрометра эти характеристики делают модель 231 удобной для работы с накопительными кольцами синхротрона. Модель 231M4 (версия 231, модификация 4) была создана специально для работы с синхротроном. Она оснащена оптической схемой для белого света и отклоняющей оптикой для спектрометра. Турели на несколько решеток применяются для простоты работы с инструментом при выполнении различных экспериментов.

При использовании соответствующих решеток можно охватить диапазон длин волн от 30 нм до 1.2 мкм.

Системы можно настроить  с помощью модели 231 высокого разрешения для решения широкого круга задач. Система, представленная справа, обеспечивает получение коллиматорного пучка очень высокого разрешения (отдельная длина волны). Большое фокусное расстояние и высокая дисперсия позволяют работать с источником модели 629, имеющим полый катод, при больших апертурах и поддерживать превосходную спектральную чистоту. Модель монохроматора 231 с лампой на полом катоде и коллиматором

Модель 231M4 создана для синхротрона, имеет цельнометаллическое уплотнение для работы в условиях сверхвысокого вакуума (UHV), двусторонние регулируемые щели, головки (3) с многочисленными решетками, систему откачки для создания вакуума 10-10 торр. На заказ предлагаются щели уникальной конструкции с оптическим коммутатором для подачи пучков из синхротрона или FEL в монохроматор или коммутатор для других экспериментов со снижением траектории луча. 

Технические характеристики

Фокусное расстояние 1000 мм, выполнена по оптической схеме Сейя-Намиока
Угол между щелями 70° 15'
Фокальное число f/# 23
Размер дифракционной решетки 30 × 50 мм с контролируемой областью для сканирования
Точность установки длины волны ± 0.1 нм (с использованием механического счетчика; решетка 1200 штр/мм)
Воспроизводимость длины волны ± 0.05 нм (решетка 1200 штр/мм)
Фокальная плоскость множественная дисперсия по ширине детектора
Диапазон длин волн В соответствии с выбранной дифракционной решеткой

Характеристики модели 231 с разными дифракционными решетками:

Решетка (другие доступны по запросу) 2400 штр/мм 1800 штр/мм 1200 штр/мм 600 штр/мм 300 штр/мм
Диапазон длин волн 30 – 150 нм 30 – 200 нм 30 – 300 нм 30 – 600 нм 30 – 1200 нм
Угол блеска в первом порядке Гологр. Гологр. Гологр. Гологр. Гологр.
80 нм – 150 нм 150 нм 700 нм
– – – 160 нм –
– – – 276 нм –
Разрешение на 313.1 нм 0.013 нм 0.018 нм 0.025 нм 0.05 нм 0.1 нм
Дисперсия 0.42 нм/мм 0.55 нм/мм 0.83 нм/мм 1.66 нм/мм 3.33 нм/мм
Похожее оборудованиеВ каталог
  • Измерение фемтосекундного переходного поглощения/отражения
  • Фемтосекундная флуоресцентная ап-конверсия
  • Возможность проведения экспериментов в области фемтосекундного вынужденного комбинационного рассеяния (FSRS) с разрешением по времени
  • Подсчет фотонов с корреляцией по времени (TCSPC) от сотен пс до мкс

Монохроматор-спектрограф MSDD1000 – монохроматор/спектрограф со сложением дисперсий с эффективным фокусным расстоянием 1 м.

  • Для исследования характеристик всех типов материалов: диэлектриков, полупроводников, органики и многих других
  • Измеряемые константы: толщина пленки, n, k через λ
  • Производительность 10~15 с на точку(зависит от типа пленки)