Монохроматор / спектрометр модели OP-XCT
- Диапазон длин волн: 8 нм - 120 нм
- Спектральное разрешение: 0.08 нм
- Фокусное расстояние: 800 мм
- Оптическая схема: Off plane, с конической дисперсией (5°)
- Матричный детектор
- Построение изображения
- Вакуумирование, сверхсильное вакуумирование
Производитель McPherson
Описание
Спектр мини пучка излучения данного прибора идеален для лабораторных экспериментов с лазерной системой при генерации высшей гармоники и с другими стационарными источниками (плазменный шнур, LPP, синхротрон). Он имеет фиксированные входную и выходную щель. Оптическая система типа «off-plane» со скользящим падением луча очень эффективна, имеет небольшое временное уширение, формирует хорошее изображение и является весьма удобной для регулировки дифракционных решеток.
Система модели OP-XCT может быть построена как двойной монохроматор с временной компенсацией. При этом оптическая схема выполняет задачи спектрографа. Таким образом, OP-XCT можно использовать в качестве диагностического спектрографа при изучении лазерных источников гармоник высшего порядка (на заслонке зеркала) и в качестве аналитического монохроматора для подсвечивания образцов.
Технические характеристики
| Фокусное расстояние | 800 мм (другие значения выбираются, если в качестве основного источника излучения используются генераторы гармоник высших порядков) |
| Приемник излучения | 8 мрад |
| Угол падения излучения | 85˚ (5˚ при скользящем падении) |
| Входная/выходная щель | Ширина и высота щелей плавно регулируется микрометром в диапазоне 0.02 – 6 мм |
| Крепление дифракционной решетки | 3-позиционное, регулируется в вакууме |
| Вакуумирование | 10-6 торр (опционально до 10-10 торр) |
| Размер решетки | 80 × 30 мм |
| Диапазон длин волн | В зависимости от выбранного типа решетки |
Также система XCT может использоваться для сканирования с использованием выходной щели и матричных детекторов (например, ПЗС или ЭОП на микроканальных пластинах).
Характеристики модели OP-XCT с разными дифракционными решетками:
| Дифракционная решетка (другие доступны по запросу) | 1800 штр/мм | 1200 штр/мм | 600 штр/мм | 300 штр/мм |
| Спектральный диапазон | 0 – 25 нм | 0 – 35 нм | 0 – 75 нм | 0 – 140 нм |
| Угол блеска в первом порядке | 44 нм | 27 нм | 84 нм | 113 нм |
| – | 19 нм | 30 нм | 81 нм | |
| – | 5 нм | 14 нм | – | |
| – | 3 нм | – | – | |
| Разрешение | 0.06 нм | 0.08 нм* | 0.16 нм | 0.32 нм |
*значение, измеренное при размере входного отверстия 0.05 мм
- Оптимизированный эргономический дизайн
- Доступно до двух длин волн возбуждения
- Пространственное разрешение по XY < 1 мкм, по глубине < 2 мкм
- Компактная конструкция, небольшое число движущихся компонентов
- Быстрое картографирование: 50 × 50 точек за 1 минуту при времени экспозиции 0.01 с
- Полностью моторизированная система
