Рентгеновский спектограф 251MX

Спектрограф для работы в мягком рентгеновском и крайнем УФ диапазонах с плоским полем McPherson 251MX

  • Диапазон длин волн: 1 нм - 20 нм
  • Спектральное разрешение: 0.02 нм
  • Фокусное расстояние: 5649 мм
  • Оптическая схема: С плоским полем 
  • Матричный детектор
  • Построение изображения
  • Вакуумирование, сверхсильное вакуумирование 

Производитель McPherson

Отличительные особенности

  • Решетки с коррекцией аберраций
  • Плоское поле для непосредственного детектирования с помощью ПЗС или МКП
  • Быстрое получение спектральных данных
  • Работа в условиях вакуума до 10-6 торр
  • Сверхвысокий вакуум (UHV) (опционально)
  • Возможность работы в любом положении
  • Предлагается с детекторами

Описание

В модели спектрометра McPherson 251MX с коррекцией аберраций используются решетки со сферической подложкой и записью волнового фронта, сопряженного с асферической поверхностью, с целью коррекции аберраций. Спектрограф высокого разрешения работает в диапазоне мягкого рентгеновского излучения. Это идеальное решение для анализа крайнего ультрафиолетового излучения. Большое фокусное расстояние и выраженные спектральные линии гарантируют высокое спектральное разрешение. Модель 251MX позволяет в полной мере использовать превосходные характеристики дифракционной решетки. Высококачественные решетки доступны на заказ. Спектрограф 251MX отлично подходит для работы с ПЗС детекторами, осуществляющими непосредственное детектирование высокоэнергетического спектра. Детекторы ЭОП на микроканальных пластинах также можно установить в данных системах.

Технические характеристики

Фокусное расстояние 25 мм
Угол падения излучения 87˚ (на 3˚ меньше при скользящем падении)
Положение детектора Непрерывно изменяется, возможность поворота
Крепление дифракционной решетки 2-позиционное, регулируется в вакууме
Затвор Стандартный, регулируется в вакууме
Входная щель Ширина плавно регулируется в диапазоне 10 мкм – 3 мм, регулируется в вакууме
Диапазон длин волн В зависимости от выбранного типа решетки

Доступные для установки* в 251MX дифракционные решетки:

Угол отклонения Количество штрихов Разрешение Фокусное расстояние Спектральный диапазон в нм Спектральный диапазон в эВ
167˚ 1200 штр/мм 0.028 нм 25 мм 5 – 20 нм 248 – 62 эВ
172˚ 2400 штр/мм 0.01 нм 20 мм 1 – 5 нм 1240 – 248 эВ

*В прибор может быть установлено одновременно до 2-х решеток 

Выходные данные Выходные данные Спектрограф рентгеновского излучения McPherson 251MX

Выше представленные данные получены с помощью ПЗС-детектора. Мы воспользовались  рентгеновским источником излучения модели 642 с простой заменой анодов для фокусировки и тестирования разрешения.

Компания McPherson, Inc. производит спектрометры для работы в спектральном диапазоне крайнего ультрафиолетового и мягкого рентгеновского излучений.  Практическое применение данного спектрографа включает в себя разработку источников лазерного излучения и гармоник высшего порядка (HHG), а также других источников плазмы для ультрафиолетовой литографии (EUVL) и диагностику нестационарных.

Похожее оборудованиеВ каталог
  • Диапазон длин волн: 30 нм - 1.2 нм
  • Спектральное разрешение:  0.05 нм
  • Фокусное расстояние: 500 мм
  • Оптическая схема: Сейя-Намиока (Seya-Namioka)
  • Матричный детектор
  • Вакуумирование, сверхсильное вакуумирование
  • Длительность импульса 190 фс – 20 пс
  • Энергия в импульсе до 2 мДж
  • Выходная мощность до 20 Вт
  • Частота следования импульсов 1 – 1000 кГц
  • Возможность синхронизации частоты следования импульсов и CEP смещение стабилизации
  • Энергия импульса: 1 – 45 мДж
  • Выходная мощность: До 45 Вт
  • Длительность импульса: < 10 фс
  • Макс. пиковая мощность: До 5 ТВт
  • Частота следования импульсов: До 1 кГц
  • Для исследования характеристик всех типов материалов: диэлектриков, полупроводников, органики и многих других
  • Измеряемые константы: толщина пленки, n, k через λ
  • Производительность 10~15 с на точку(зависит от типа пленки)