Спектрограф с плоским полем и тороидальной решеткой  модели 251

Спектрограф с плоским полем и тороидальной решеткой McPherson 251

  • Диапазон длин волн: 10 нм - 170 нм
  • Спектральное разрешение: 0.05 нм
  • Фокусное расстояние: 292 мм
  • Оптическая схема: Тороидальная с плоским полем 
  • Построение изображения
  • Вакуумирование, сверхсильное вакуумирование 

Производитель McPherson

Отличительные особенности

  • Тороидальные решетки с коррекцией аберраций
  • Простое подключение плоских детекторов (МКП или ПЗС)
  • Плоское поле для непосредственного детектирования с помощью ПЗС
  • Быстрое получение спектральных данных
  • Работа в условиях вакуума и сверхвысокого вакуума (UHV) до 10-9 торр

Описание

Вакуумный диагностический спектрограф охватывает широкий диапазон длин волн. В приборе установлены три разные дифракционные решетки, которые обеспечивают работу в диапазоне от 10 нм до 160 нм. Каждая решетка имеет разное спектральное разрешение и спектральный диапазон; они работают в мягком рентгеновском диапазоне (SXR, XUV), коротковолновом ультрафиолете (EUV) и в диапазоне вакуумного ультрафиолета (VUV). Это практический инструмент для задач, требующих быстрого получения данных при исследовании быстропротекающих процессов. Например, ядерный синтез, лазерная абляция, вкрапление в литографических источниках EUVL и других коротковолновых источниках света, например, ксеноновой плазме при 13.5 нм, а также в  литографии крайнего УФ диапазона.

Данные приборы с плоским полем и тороидальной решеткой работают в фиксированном волновом диапазоне. Тороидальная форма и коррекция аберраций в оптических компонентах определяют оптимальный диапазон работы. Из-за сложной конструкции и оптической обработки выбор решеток ограничен. Если существует решетка, которая соответствует Вашим требованиям, то Вам просто повезло! Эти инструменты представляют собой относительно простые оптомеханические системы, которые обеспечивают получение качественного изображения и спектрального разрешения. Они также позволяют использовать детектор ПЗС для детектирования высокоэнергетического спектра. Более хрупкий ЭОП на микроканальных пластинах также можно заказать для данных систем.

Регулируемая входная щель UHV

Регулируемая входная щель UHV

Турель с решетками UHV

Турель с решетками UHV

Регулируемая фокальная плоскость для регистрации с помощью МКП/ПЗС

Регулируемая фокальная плоскость для регистрации
с помощью МКП/ПЗС

Тороидальная (или другая) фокусирующая оптика

Тороидальная (или другая) фокусирующая оптика

Данный спектрограф в качестве лабораторного инструмента общего назначения или для калибровки астрофизических инструментов. Например, система на базе модели 248/310G со скользящим падением луча по кругу Роланда обеспечивает максимальную гибкость при работе в соответствующем диапазоне длин волн. На выбор заказчика предлагается множество дифракционных решеток. Система обеспечивает превосходное спектральное разрешение. 

Технические характеристики

Спектрометр с плоским полем и коррекцией аберраций, оснащенный тороидальной решеткой, имеет фокусное расстояние 40 мм и идеально подходит для работы с ЭОП на микроканальных пластинах. Компактный и универсальный – он используется в исследованиях плазмы, в физике аттосекундных лазеров и генерации гармоник высшего порядка. Предлагаются версии с турелями на две и три решетки, сопряженными с дифракционными решетками для одновременного двухдиапазонного мониторинга, шарнирными механизмами для сканирования крупных зон плазмы и др.

Угол отклонения Количество штрихов Разрешение Фокусное расстояние Спектральный диапазон в нм Спектральный диапазон в эВ
140˚ 2105 штр/мм 0.05 нм 40 мм 9.5 – 32 нм 130 – 39 эВ
140˚ 450 штр/мм 0.10 нм 40 мм 10 – 110 нм 124 – 11 эВ
140˚ 290 штр/мм 0.16 нм 40 мм 15.5 – 170 нм 80 – 7 эВ
Cпектральные данные высокого разрешения Спектрометр McPherson модели 251

Спектрометр McPherson модели 251 со сдвоенной тороидальной решеткой имеет два параллельных оптических канала, которые позволяют одновременно собирать спектральные данные высокого разрешения. Параллельные каналы собирают больше данных в процессе формирования короткоживущей плазмы, например, в опытах по исследованию ядерных реакций. Спектр регистрируется с использованием традиционного прибора с одной дифракционной решеткой.

Похожее оборудованиеВ каталог
  • Диапазон длин волн: 30 нм - 1.2 нм
  • Спектральное разрешение:  0.05 нм
  • Фокусное расстояние: 500 мм
  • Оптическая схема: Сейя-Намиока (Seya-Namioka)
  • Матричный детектор
  • Вакуумирование, сверхсильное вакуумирование
  • Длительность импульса 190 фс – 20 пс
  • Энергия в импульсе до 2 мДж
  • Выходная мощность до 20 Вт
  • Частота следования импульсов 1 – 1000 кГц
  • Возможность синхронизации частоты следования импульсов и CEP смещение стабилизации
  • Энергия импульса: 1 – 45 мДж
  • Выходная мощность: До 45 Вт
  • Длительность импульса: < 10 фс
  • Макс. пиковая мощность: До 5 ТВт
  • Частота следования импульсов: До 1 кГц
  • Для исследования характеристик всех типов материалов: диэлектриков, полупроводников, органики и многих других
  • Измеряемые константы: толщина пленки, n, k через λ
  • Производительность 10~15 с на точку(зависит от типа пленки)