Интегрирующие сферы - спектральные измерители интегральной освещенности

Вид каталога:
  • Диаметр сферы - 120 мм
  • Фракция порта f < 0,7 %
  • Коэффициент сферы M - около 11,5
  • Крепление в лабораторных установках с помощью винтов М6
  • Диаметр сферы - 240 мм
  • Фракция порта f < 0,7 %
  • Коэффициент сферы M - около 11,5
  • Крепление в лабораторных установках с помощью винтов М6
  • Диаметр сферы - 315 мм
  • Фракция порта f < 3,7 %
  • Коэффициент сферы M - около 8,6
  • Толщина стенок - около 3 мм
  • Диаметр сферы - 500 мм
  • Фракция порта f < 2,5 %
  • Коэффициент сферы M - около 9,6
  • Толщина стенок - около 3 мм
  • Диаметр сферы - 800 мм
  • Фракция порта f < 0,95 %
  • Коэффициент сферы M - около 11,2
  • Толщина стенок - около 3 мм
  • Диаметр сферы - 1000 мм
  • Фракция порта f (в стандартной конфигурации) < 0,6 %
  • Коэффициент сферы M - около 11,6
  • Толщина стенок - около 3 мм
  • Диаметр сферы - 1600 мм
  • Фракция порта f (в стандартной конфигурации) < 0,3 %
  • Коэффициент сферы M - около 12,2
  • Толщина стенок - около 4 мм
  • Диаметр сферы - 315 мм
  • Фракция порта f < 3,5 %
  • Коэффициент сферы M - около 8,4
  • Освещенность сферы - около 20 кд/м2
  • Освещенность светорассеивающего кварцевого экрана (опционно) - около 2 кд/м2
  • Диаметр сферы - 500 мм
  • Фракция порта f < 1,4 %
  • Коэффициент сферы M - около 10,3
  • Освещенность сферы - около 9 кд/м2
  • Освещенность светорассеивающего кварцевого экрана (опционно) - около 0,9 кд/м2

С помощью интегрирующих сфер пространственно-рассеянный свет можно сделать более однородным. В идеальных условиях внутренняя поверхность сферы рассеивает свет согласно закону Ламберта, поэтому сфера должна быть закрытой. Но в реальной ситуации этого добиться очень сложно.

На характеристики интегрирующей сферы в значительной степени влияют тип и степень отражения внутреннего покрытия, а также размеры и количество портов. Интегрирующие сферы находят широкое применение при проведении различных измерений.

Основные области применения:

  • Измерение светового потока
  • Измерение отражения и пропускания материалов
  • Стандарт измерения освещенности (uls)

В зависимости от сферы применения применяются разные параметры сферы, и/или используются дополнительные принадлежности.

Каждый порт и дополнительные принадлежности, находящиеся в сфере, вызывают интерференцию. Но обойтись без них нельзя, поскольку они необходимы для выполнения измерений. Поэтому интерференцию в сфере устраняют установкой дополнительных источников света.

При проведении измерений следует исключить прямое попадание света на детектор(ы) или попадание света после первого отражения в сфере. С этой целью применяют экраны. Измерение светового потока производится путем его направления извне через один из портов или внутри самой сферы. Измерение отражения и пропускания производит дополнительный источник света, установленный в сфере. Поверхность однородного освещения создается в самой сфере, на мишени, установленной в сфере или на одном из портов с соответствующим покрытием. Чем больше сфера, тем ниже неоднородность. С другой стороны, увеличение диаметра сферы приводит к значительному снижению освещенности внутри сферы.