Сверхбыстрый спектрометр переходного поглощения HARPIA-TA

Популярный спектрометр переходного поглощения HARPIA был переработан с целью удовлетворения потребностей и соответствия стандартам современного научного мира. Новый улучшенный HARPIA-TA имеет компактный дизайн и интуитивно понятное исполнение, а также характеризуется легким повседневным обслуживанием. Соответствуя стандартам исполнения, заложенным в линейке ОПУ серии ORPHEUS, вся спектроскопическая система теперь находится в одном монолитном алюминиевом корпусе, что обеспечивает превосходную оптическую стабильность и задает минимальные оптические пути для взаимодействующих лучей. В сравнении со своим предшественником, данная модель имеет уменьшенные размеры: занимаемая площадь уменьшилась более чем в 2.5 раза, а общий объем снизился практически в 4 раза.

Данная система может использоваться совместно c лазерными системами PHAROS/ORPHEUS или Ti:Sa/TOPAS.

HARPIA имеет лучшие характеристики среди аналогов, такие как, разрешаемые сигналы до 10^-5, возможность работы на высоких частотах следования (до 1 МГц). Высокая частота следования позволяет проводить измерение динамики переходного поглощения, при этом возбуждая образцы импульсами очень низкой энергии (таким образом, исключаются эффекты экситонной аннигиляции в системах распределения энергии или нелинейной рекомбинации несущей в полупроводниковых образцах и наночастицах).

Доступно большое количество конфигураций зондирования и режимов регистрации, начиная от простых и бюджетных фотодиодов для измерения излучения одной длины волны и заканчивая измерениями спектрально-разрешенного широкополосного излучения в комбинации с зондированием с помощью суперконтинуума белого света. Функции сбора данных и управления измерениями теперь интегрированы в корпус самого устройства и предлагают следующие улучшенные возможности регистрации:

• Интеграция одного (только для сигнала от образца) или нескольких (для сигналов от образца и опорного) спектральных детекторов
• Простая внешняя интеграция пользовательских спектрометров/спектрографов
• Отслеживание положения луча и самокалибровка (вдоль оптического пути лучей накачки/зондирования и в плоскости образца), а также опция автоматизированной юстировки луча
• Простое переключение между конфигурациями измерения переходного поглощения и переходного отражения
• Возможность объединения переходного поглощения и сканирования вдоль оси Z в одном приборе

Кроме того, имеется возможность выбора различных опций для линии задержки для перекрытия окон задержки от 2 нс до 8 нс, а в корпусе прибора может быть расположен стандартный шариковый (20 мм/с) или быстрый шарико-винтовой (300 мм/с) оптический столик задержки. После модернизации корпуса HARPIA в нем теперь может компактно располагаться ряд оптико-механических периферийных устройств, таких как:

• Оптический модулятор, который может быть либо синхронизирован на любую частоту лазерной системы, либо работать в свободном режиме (по умолчанию)
• Моторизированный и откалиброванный компенсатор поляризации Берека, который может автоматически подстраивать поляризацию луча накачки (опция)
• Моторизированный поперечно перемещаемый генератор суперконтинуума (применим для безопасной и стабильной генерации суперконтинуума в таких материалах, как CaF₂ или MgF₂) (опция)
• Автоматизированный растровый сканер образца, который перемещает образец в фокальную плоскость лучей накачки и зондирования, избегая при этом локального избыточного воздействия излучения на образец (опция)

Также новый корпус совместим с любыми пользовательскими криостатами и/или насосными перистальтическими системами (см. схему крепления). Спектрометрические возможности могут быть расширены путем ввода третьего сканирующего луча в плоскость образца, позволяя пользователю проводить измерения многоимпульсного переходного поглощения.

В добавление к автоматизированному программному обеспечению для проведения эксперимента, HARPIA поставляется с программой CarpetView для анализа полученных спектроскопических данных, выполнения общего и целевого анализа, компенсации дисперсии луча зондирования, экспоненциальной подгонки и пр. Программа имеет простой и интуитивно понятный интерфейс, систему обучения по анализу измерений, позволяющую преобразовать массив исходных данных в удобные для понимания графики и параметрические функции. Все программы работают под управлением операционной системы Windows и просты в использовании. Даже новичок может приобрести навык эксперта в считанные дни!

• Фотохимия
• Фотобиология
• Фотофизика
• Материаловедение
• Полупроводниковая физика
• Спектроскопия с разрешением по времени