Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Участие в конференции «Графен: молекула и 2D-кристалл»
Мы приняли участие во второй российской конференции «Графен: молекула и 2D-кристалл», которая прошла 7 - 11 августа в Новосибирском Государственном Университете. Мероприятие было организовано Институтом неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН, Институтом общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова РАН, Институтом катализа им. Г.К. Борескова СО РАН и Институтом физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН. Конференция была посвящена обсуждению результатов и перспектив исследований графена и родственных структур. Участниками стали более 100 специалистов из России, США, Беларуси, Испании, Германии и Великобритании.
Наша компания выступила в качестве спонсора и приняла участие в работе выставки.
На нашем стенде была представлена подробная информация по атомно-силовым микроскопам, которые успешно применяются для работы с углеродными наноструктурами:
АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП NX10
АСМ бесконтактного типа с длительным сроком службы наконечника (зонда) и сканированием поверхности образца, не нарушающим его целостность.
АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП PARK NX20
Самый точный АСМ в мире для анализа крупных образцов, поэтому он получил широкое распространение в индустрии жестких дисков и полупроводников.
АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП PARK XE15
Инструмент для лабораторий, работающих со множеством различных образцов, исследователей, инженеров, специализирующихся на выявлении дефектов в подложках.
АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП PARK XE7
Высокотехнологичный микроскоп обеспечивает выполнение точных измерений с наноразрешением. Он отображает мельчайшие характеристики образцов благодаря плоскому, ортогональному и линейному сканирующим измерениям.